[發明專利]一種磁阻芯片標定校正系統及方法

在審

• 申請號: 201811365346.6
• 申請日: 2018-11-16
• 公開（公告）號: CN109342985A
• 公開（公告）日: 2019-02-15
• 發明（設計）人: 李鵬;王志明;吳質冰;許愛東;明哲;李立浧
• 申請（專利權）人: 南方電網科學研究院有限責任公司;中國南方電網有限責任公司
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00;G01R33/09
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 麥小嬋;郝傳鑫

1.一種磁阻芯片標定校正系統，其特征在于，包括磁阻芯片測試臺，信號采集單元，一維亥姆霍茲線圈，高精度程控電流源，磁場測試單元和標定單元；

所述磁阻芯片測試臺，連接待測試芯片與信號采集單元；

所述信號采集單元，接收芯片輸出信號，根據接收到信號得到芯片響應數據并發送至標定單元；

所述一維亥姆霍茲線圈，接收高精度程控電流源的供電，為磁阻芯片測試臺提供一維均勻磁場；

所述高精度程控電流源，接收標定單元的控制，為一維亥姆霍茲線圈提供工作電能；

所述磁場測試單元，檢測一維亥姆霍茲線圈中均勻區的磁場強度，將檢測得到的磁場強度信息發送至標定單元；

所述標定單元，發送電流控制信號控制高精度程控電流源，接收并存儲磁場強度信息和芯片響應數據。

2.根據權利要求1所述的一種磁阻芯片標定校正系統，其特征在于，所述磁阻芯片測試臺，包括多個芯片孔，所述芯片孔設置有底部管腳，底部管腳的輸出接口通過數據線與信號采集單元連接。

3.根據權利要求1所述的一種磁阻芯片標定校正系統，其特征在于，所述信號采集單元包括AD轉換模塊，數據處理模塊和傳輸模塊；

所述AD轉換模塊，接收芯片輸出信號，并將接收到的模擬信號轉換為數字信號并發送至數據處理模塊；

所述數據處理模塊，接收數字信號生成芯片響應數據發送至傳輸模塊；

所述傳輸模塊，接收芯片響應數據并轉發至標定單元。

4.根據權利要求1所述的一種磁阻芯片標定校正系統，其特征在于，所述磁場測試單元為高斯計或磁通門。

5.根據權利要求1所述的一種磁阻芯片標定校正系統，其特征在于，所述標定單元包括磁場設定模塊和數據處理模塊；

所述磁場設定模塊，獲取相關測試參數，根據參數發出電流控制信號至高精度程控電流源，接收磁場測試單元發送的磁場強度信息，根據磁場強度信息調整電流控制信號的輸出，根據磁場強度信息發送磁場設定完成信號至數據處理模塊，根據磁場強度信息發送當前磁場值至數據處理模塊；

所述數據處理模塊，接收磁場設定完成信號，接收當前磁場值，接收信號采集單元發送的芯片響應數據，存儲當前磁場值和對應的芯片響應數據。

6.根據權利要求1-5任一項所述的一種磁阻芯片標定校正系統，其特征在于，所述標定單元還包括主控模塊，所述主控模塊獲取磁場值和對應的芯片響應數據，確定校準輸出曲線和擬合方式，計算映射函數參數，保存每個磁阻芯片對應的映射函數及參數。

7.一種采用權利要求1-5任一項所述的一種磁阻芯片標定校正系統的磁阻芯片標定方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1，獲取實驗參數，開始實驗，判斷實驗數據是否收集完成，如果是則結束實驗，如果不是則進入步驟S2；

S2，發出電流控制信號進行電流設定，采集并保存磁場值和對應的芯片響應數據，判斷是否進行反向標定，如果是則進入步驟S3，如果不是則進入步驟S4；

S3，重新讀入電流設定文件，將設定順序更改為從后往前，重復步驟S2；

S4，判斷實驗數據是否收集完成，如果不是則進入步驟S2，如果是則結束實驗。

8.一種采用權利要求6所述的一種磁阻芯片標定校正系統的磁阻芯片標定方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1，獲取實驗參數，開始實驗，判斷實驗數據是否收集完成，如果是則結束實驗，如果不是則進入步驟S2；

S2，發出電流控制信號進行電流設定，采集并保存磁場值和對應的芯片響應數據，判斷是否進行反向標定，如果是則進入步驟S3，如果不是則進入步驟S4；

S3，重新讀入電流設定文件，將設定順序更改為從后往前，重復步驟S2；

S4，判斷實驗數據是否收集完成，如果不是則進入步驟S2，如果是進入步驟S5；

S5，獲取磁場值和對應的芯片響應數據，確定校準輸出曲線和擬合方式，計算映射函數參數，保存每個磁阻芯片對應的映射函數及參數。