[發明專利]檢測系統的質量評估方法及裝置、計算機可讀存儲介質

在審

• 申請號: 201811347461.0
• 申請日: 2018-11-13
• 公開（公告）號: CN109598415A
• 公開（公告）日: 2019-04-09
• 發明（設計）人: 陶然;胡朝暉;陳燦星;郝必喜;柳盛偉
• 申請（專利權）人: 黑龍江金域醫學檢驗所有限公司
• 主分類號: G06Q10/06
• 分類號: G06Q10/06
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 宋靜娜;郝傳鑫

1.一種檢測系統的質量評估方法，其特征在于，包括步驟：

響應于對預設的檢驗項目對應的檢測系統的質量評估指令，獲取系統預設的最大允許誤差和所述檢測系統對樣品的n個檢驗結果的標準差；其中，所述最大允許誤差包括絕對值誤差和百分比誤差；所述n個檢驗結果為與當前時刻最近的n個檢驗結果，n≥2；

若當前所述檢測系統對所述樣品的檢驗結果小于預設的第一閾值時，根據所述絕對值誤差和標準差，計算所述檢測系統的質量指數；其中，所述第一閾值通過多個濃度的樣本的檢驗結果進行標定后得到；

若當前檢測系統對所述樣品的檢驗結果大于或等于所述第一閾值且小于預設的第二閾值時，根據所述百分比誤差和標準差，計算所述檢測系統的質量指數。

2.如權利要求1所述的檢測系統的質量評估方法，其特征在于，所述第一閾值通過以下方式獲得：

響應于對所述第一閾值的計算指令，獲取所述檢測系統對不同濃度的標準樣品的多個檢測結果；

根據所述檢測系統對不同濃度的標準樣品的多個檢測結果獲得所述第一閾值。

3.如權利要求2所述的檢測系統的質量評估方法，其特征在于，所述根據所述檢測系統對不同濃度的標準樣品的多個檢測結果獲得所述第一閾值具體為：

根據每一所述標準樣品的多個檢驗結果計算均值，并根據每一所述樣品的多個檢驗結果及所述均值計算標準差，根據所述均值和標準差計算變異系數；

根據每一所述標準樣品對應的均值、標準差和變異系數獲得所述第一閾值。

4.如權利要求3所述的檢測系統的質量評估方法，其特征在于，所述根據每一所述樣品對應的均值、標準差和變異系數獲得所述第一閾值具體為：

根據每一所述標準樣品的均值和標準差的對應關系進行擬合獲得標準差-均值擬合曲線；

根據每一所述標準樣品的均值和變異系數的對應關系進行擬合獲得變異系數-均值擬合曲線；

獲取所述標準差-均值擬合曲線和所述變異系數-均值擬合曲線的相交點，獲取所述相交點所對應的均值，將所述相交點所對應的均值作為所述第一閾值。

5.權利要求1所述的檢測系統的質量評估方法，其特征在于，所述質量指數為穩態能力指數，若當前所述檢測系統對所述樣品的檢驗結果小于預設的第一閾值時，根據以下公式計算所述檢測系統的穩態能力指數：

Cp＝E1*2/(6*SD)

其中，Cp為所述檢測系統的穩態能力指數，E1為所述絕對值誤差，SD為所述標準差；

若當前檢測系統對所述樣品的檢驗結果大于或等于所述第一閾值且小于預設的第二閾值時，根據以下公式計算所述檢測系統的穩態能力指數：

Cp＝AVG*E2*2/(6*SD)

其中，AVG為預設的框架均值；Cp為所述檢測系統的穩態能力指數，E2為所述百分比誤差，SD為所述標準差。