[發(fā)明專利]電阻類發(fā)熱設(shè)備的溫控自動校正設(shè)備及方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811343413.4 | 申請日: | 2018-11-13 |
| 公開(公告)號: | CN109164851A | 公開(公告)日: | 2019-01-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 黃光建;付強;易賢強 | 申請(專利權(quán))人: | 深圳市康柏特科技開發(fā)有限公司 |
| 主分類號: | G05D23/30 | 分類號: | G05D23/30;G01K7/18 |
| 代理公司: | 深圳市遠航專利商標事務(wù)所(普通合伙) 44276 | 代理人: | 田志遠;張朝陽 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市南山區(qū)西*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 系統(tǒng)控制器 電阻 被測產(chǎn)品 測溫系統(tǒng) 自動校正 電子煙具 發(fā)熱設(shè)備 溫控 讀取 狀態(tài)顯示裝置 數(shù)據(jù)存儲器 測試領(lǐng)域 測溫探頭 產(chǎn)品生產(chǎn) 生產(chǎn)效率 無線連接 主體連接 發(fā)熱體 溫度點 操控 加熱 校正 發(fā)送 測試 保存 生產(chǎn) | ||
本發(fā)明公開了電子煙具測試領(lǐng)域中的一種電阻類發(fā)熱設(shè)備的溫控自動校正設(shè)備及方法,該設(shè)備包括系統(tǒng)控制器和測溫系統(tǒng)主體,系統(tǒng)控制器與操控及校正狀態(tài)顯示裝置連接,系統(tǒng)控制器與被測產(chǎn)品主體有線/無線連接,系統(tǒng)控制器與測溫系統(tǒng)主體連接,測溫系統(tǒng)主體的測溫探頭測試被測產(chǎn)品主體內(nèi)發(fā)熱體的溫度;該方法包括加熱到目標溫度點、讀取實際溫度(或?qū)嶋H電阻)、系統(tǒng)控制器發(fā)送實際溫度值(或?qū)嶋H電阻值)到被測產(chǎn)品主體內(nèi)、被測產(chǎn)品主體將實際溫度(或?qū)嶋H電阻)保存至數(shù)據(jù)存儲器中等步驟。本發(fā)明用于電子煙具產(chǎn)品生產(chǎn)的溫度控制自動校正,把溫度控制提升到更精準的程度,同時提高生產(chǎn)效率,使產(chǎn)品能夠順利的大批量生產(chǎn)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及電阻類發(fā)熱設(shè)備測試領(lǐng)域,具體的說,是涉及一種電阻類發(fā)熱設(shè)備的溫控自動校正設(shè)備及方法。
背景技術(shù)
現(xiàn)有的發(fā)熱體都呈現(xiàn)為電阻型,它的溫度越高其電阻值就越大,相同品種和規(guī)格的發(fā)熱體、其溫度和對應(yīng)電阻值的變化關(guān)系相同,電阻類發(fā)熱設(shè)備(例如絕大多數(shù)煙具)加熱的溫度就是利用這個特性來控制的。
以煙具對煙的加熱過程為例,由于低溫不燃燒烤煙的煙具工作過程中,其關(guān)鍵部件就是發(fā)熱體(即發(fā)熱片或發(fā)熱棒或發(fā)熱絲)。發(fā)熱體為熱源,其將熱量傳導(dǎo)給烤煙的。
由于生產(chǎn)制造都是有誤差的,每片發(fā)熱體在相同溫度下的阻值也都是不相同的,如果用預(yù)設(shè)的溫度控制表去控制溫度,這就會造成每個成品煙具的控制溫度都有差異。為了把這個差異減小到產(chǎn)品標準允許的范圍內(nèi),就必須要在生產(chǎn)中或產(chǎn)品出廠前對煙具的控制溫度做校正。現(xiàn)有的校正采取了發(fā)熱體電阻值分類法或上電校正法進行處理。
1、發(fā)熱體電阻值分類法:
在標準溫度下測量出發(fā)熱體的電阻值,把阻值接近的發(fā)熱體分為同一類。例如:發(fā)熱體在室溫25度時的電阻值在0.7-0.8歐姆范圍內(nèi)是合格品,但從0.7到0.8這個范圍太大,室溫0.7歐姆和0.8歐姆的兩個發(fā)熱體如果用相同參數(shù)去控制會造成非常大的差異,完全是產(chǎn)品標準不能接受的,所以就把從0.7到0.8分成多個檔次。如將0.71±0.1Ω內(nèi)的作為同一類為A檔;將0.73±0.1Ω內(nèi)的作為同一類為B檔;將0.75±0.1Ω內(nèi)的作為同一類為C檔;依此類推,將0.79±0.1Ω內(nèi)的作為同一類為E檔;經(jīng)過這樣分類后,每個檔次的發(fā)熱體用一套參數(shù)控制,就可以基本上滿足規(guī)格的要求了。
但是這種處理方式增加了篩選分類的成本,同時篩選分類只能做到粗略統(tǒng)計,無法實現(xiàn)精確控制。
2、上電校正法:
在控制IC上電時利用自己內(nèi)部的ADC測量出發(fā)熱體的電阻值,對比標準阻值得到偏差值,然后根據(jù)這個偏差值對控制溫度進行補償。
由于上電時發(fā)熱體的溫度不能充分保證恒定,將導(dǎo)致其本身出現(xiàn)偏差;此外由于上電這一行為不僅是生產(chǎn)廠內(nèi)可以實現(xiàn),而且有可能出廠后由于誤操作也會進入到該狀態(tài),從而使得出現(xiàn)錯誤的執(zhí)行校正即在不標準的溫度下執(zhí)行了校正功能,當然其結(jié)果就是可能出現(xiàn)極大的偏差。因此上電矯正法的誤差也較大。
另外,即使采取上述兩種方法,但由于發(fā)熱體的制造工藝偏差,即便是常溫下電阻值相同的發(fā)熱體,當加熱到高溫時的電阻值也不是完全相同的,有的甚至相差很大,所以這些方法只能基本上保證部分的產(chǎn)品溫度符合規(guī)格要求,無法對全部產(chǎn)品進行控制,也就導(dǎo)致生產(chǎn)完成后也還要逐個的檢測并篩選出溫控不符合要求的產(chǎn)品,以確保產(chǎn)品出廠后的性能,所以生產(chǎn)效率非常低。
上述缺陷,值得解決。
發(fā)明內(nèi)容
為了克服現(xiàn)有的技術(shù)的不足,本發(fā)明提供一種電阻類發(fā)熱設(shè)備的溫控自動校正設(shè)備及方法。
本發(fā)明技術(shù)方案如下所述:
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