[發明專利]一種應用層通信協議的測試數據生成方法在審
| 申請號: | 201811332431.2 | 申請日: | 2018-11-09 |
| 公開(公告)號: | CN109450731A | 公開(公告)日: | 2019-03-08 |
| 發明(設計)人: | 陳媛;王俊杰;王安邦;劉邏;哈清華;宋元章;李洪雨;王紅園;林星辰 | 申請(專利權)人: | 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所 |
| 主分類號: | H04L12/26 | 分類號: | H04L12/26;H04L29/08 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 羅滿 |
| 地址: | 130033 吉林省長春市*** | 國省代碼: | 吉林;22 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 應用層通信協議 數據元素 測試數據 測試數據生成 自動獲取 測試數據生成裝置 生成測試數據 標準格式 串行接口 自動生成 數據包 分析 指令 響應 通信 | ||
1.一種應用層通信協議的測試數據生成方法,應用于基于串行接口進行通信的多個系統,其特征在于,包括:
響應于生成測試數據的指令,獲取基于串行接口進行通信的多個系統之間的應用層通信協議;
對所述應用層通信協議進行分析,確定滿足所述應用層通信協議的數據包所包括的多個數據元素,并確定各個所述數據元素的取值范圍;
根據所述多個數據元素以及各個所述數據元素的取值范圍,生成所述應用層通信協議的測試數據。
2.如權利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據所述多個數據元素以及各個所述數據元素的取值范圍,生成所述應用層通信協議的測試數據,包括:
根據所述數據元素的取值范圍,基于預設規則生成所述數據元素的多個測試數值,得到所述數據元素的測試數值集合,其中,所述測試數值集合包括合法測試數值和非法測試數值;
分別從各個所述數據元素的測試數值集合中選取一個測試數值,并進行組合,得到所述應用層通信協議的測試數據,其中,所述測試數據最多包括一個非法測試數值。
3.如權利要求2所述的方法,其特征在于,所述根據所述數據元素的取值范圍,基于預設規則生成所述數據元素的多個測試數值,得到所述數據元素的測試數值集合,包括:
若所述數據元素為離散取值的數據元素,則根據所述數據元素的取值范圍,生成所述數據元素的合法測試數值、非法測試數值、最大值、最小值、零值,并進行去重操作,得到所述數據元素的測試數值集合;
若所述數據元素為連續取值的數據元素,則根據所述數據元素的取值范圍,生成所述數據元素的下邊界外值、下邊界值、下邊界內值、上邊界內值、上邊界值、上邊界外值、最大值、最小值、零值,并進行去重操作,得到所述數據元素的測試數據集合。
4.如權利要求3所述的方法,其特征在于,所述根據所述多個數據元素以及各個所述數據元素的取值范圍,生成所述應用層通信協議的測試數據,包括:
根據所述多個數據元素以及各個所述數據元素的取值范圍,生成所述應用層通信協議的互不相同的目標數量的測試數據,其中,所述目標數量為各個所述數據元素的測試數據集合的測試數據數量的乘積。
5.如權利要求1所述的方法,其特征在于,所述對所述應用層通信協議進行分析,確定滿足所述應用層通信協議的數據包所包括的多個數據元素,并確定各個所述數據元素的取值范圍,包括:
對所述應用層通信協議進行分析,確定滿足所述應用層通信協議的數據包所包括的校驗類數據元數和多個非校驗類數據元素,并確定各個所述非校驗類數據元素的取值范圍;
所述根據所述多個數據元素以及各個所述數據元素的取值范圍,生成所述應用層通信協議的測試數據,包括:
根據所述多個非校驗類數據元素以及各個所述非校驗類數據元素的取值范圍,生成待校驗測試數據;
對所述待校驗測試數據進行校驗補償,得到所述應用層通信協議的測試數據。
6.如權利要求1-5任意一項所述的方法,其特征在于,在所述根據所述多個數據元素以及各個所述數據元素的取值范圍,生成所述應用層通信協議的測試數據之后,還包括:
響應于測試指令,利用所述測試數據對所述應用層通信協議進行測試,得到測試結果。
7.一種應用層通信協議的測試數據生成裝置,應用于基于串行接口進行通信的多個系統,其特征在于,包括:
通信協議獲取模塊:用于響應于生成測試數據的指令,獲取基于串行接口進行通信的多個系統之間的應用層通信協議;
通信協議分析模塊:用于對所述應用層通信協議進行分析,確定滿足所述應用層通信協議的數據包所包括的多個數據元素,并確定各個所述數據元素的取值范圍;
測試數據生成模塊:用于根據所述多個數據元素以及各個所述數據元素的取值范圍,生成所述應用層通信協議的測試數據。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國科學院長春光學精密機械與物理研究所,未經中國科學院長春光學精密機械與物理研究所許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201811332431.2/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





