[發(fā)明專利]一種顯示屏的缺陷自動光學檢測方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201811305859.8
• 申請日: 2018-11-05
• 公開（公告）號: CN109682820A
• 公開（公告）日: 2019-04-26
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 不公告發(fā)明人
• 申請（專利權(quán)）人: 蘇州佳智彩光電科技有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 蘇州創(chuàng)元專利商標事務(wù)所有限公司 32103
• 代理人: 馬明渡;吳雯玨

1.一種顯示屏的缺陷自動光學檢測方法，其特征在于：按照以下步驟進行操作：

第一步，讀入一顯示屏的自動光學檢測圖像；

第二步，對所述自動光學檢測圖像進行區(qū)域裁剪，獲得待檢圖像；

第三步，將所述待檢圖像分割成大小為S*S的子圖像；

第四步，將每個子圖象平均分成N*N個部分；

第五步，設(shè)定當前子圖象為Aij，該當前子圖像特征量的計算公式為其中(i,j)代表子圖像的下標，(m,n)代表該子圖像卷積移動的位置下標；

第六步，對每個子圖象進行單獨卷積，得到當前子圖象卷積后的灰度數(shù)據(jù)，并計算卷積數(shù)據(jù)的最大值max(Aij)和最小值min(Aij)，并根據(jù)公式B_ij＝max(A_ij)-min(A_ij)得到每個子圖像灰度差的統(tǒng)計特征值B_ij；

第七步，按照公式計算所有子圖象灰度差的平均值并按照公式計算所有子圖象灰度差的標準方差σ；

第八步，根據(jù)所述平均值和標準方差σ，按照公式T_UB＝B+C*σ計算待檢圖像的子圖象灰度差的自適應(yīng)閾值的上限值，并按照公式T_UB＝B-C*σ計算待檢圖像的子圖象灰度差的自適應(yīng)閾值的下限值，其中，C為控制常量；

第九步，將當前子圖像的灰度差的統(tǒng)計特征值Bij與上限值和下限值進行比較；若當前子圖像子圖象的灰度差的統(tǒng)計特征值Bij大于所述上限值，或者大于所述下限值，則判定該當前子圖像為缺陷。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示屏的缺陷自動光學檢測方法，其特征在于：所述第六步中，對每個子圖像做卷積操作，其中，子圖象大小為S*S，其有效子圖像個數(shù)為：其中N_sh和N_sw分別代表圖像沿高度，寬度方向的有效子圖像個數(shù)，H為圖像的高度，W為圖像的寬度，卷積窗口大小是N*N，其卷積核大小為S，卷積的步長為得到卷積后的灰度數(shù)據(jù)圖像，再計算所有子圖像卷積數(shù)據(jù)中最大值max(A_ij)和最小值min(A_ij)的差值，得到當前子圖像灰度差的統(tǒng)計特征值B_ij。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示屏的缺陷自動光學檢測方法，其特征在于：所述第二步中，對所述自動光學檢測圖像進行區(qū)域裁剪時采用ROI裁剪。