[發明專利]一種基于圖像識別對碎米率的快速檢測方法

在審

• 申請號: 201811284303.5
• 申請日: 2018-10-31
• 公開（公告）號: CN109211740A
• 公開（公告）日: 2019-01-15
• 發明（設計）人: 沈曉芳;張玲;龐月紅;楊成;羅文濤
• 申請（專利權）人: 江南大學
• 主分類號: G01N15/00
• 分類號: G01N15/00;G01N21/84
• 代理公司: 哈爾濱市陽光惠遠知識產權代理有限公司 23211
• 代理人: 張勇

本發明公開了一種基于圖像識別對碎米率的快速檢測方法，屬于食品檢測技術領域。本發明提供的大米外觀品質檢測裝置，采集圖像大小規格統一，識別率較高，解決了人工檢測時準確率不高，主觀性強，效率不高，隨意性大，誤差較大等問題。本發明的方法經過對檢測系統的閾值優化，獲得了測定碎米和小碎米時的最佳閾值為0.68/0.40。在此閾值下測定大米碎米含量，并與人工法進行比較，測定結果的絕對誤差小于0.5％。

技術領域

本發明涉及一種基于圖像識別對碎米率的快速檢測方法，屬于食品檢測技術領域。

背景技術

大米是世界上各個國家最重要的糧食作物之一，其質量安全在全球范圍都有著至關重要的影響。我國是世界上最大的大米生產國和消費國，大米質量安全關系到國人的生命健康。隨著社會的發展和生活水平提高，人們對大米的品質提出了更高的要求。

大米質量指標主要有加工精度、碎米、黃粒米、不完善粒、雜質、色澤和氣味等。其中碎米是大米質量指標的定等指標之一，作為大米分級的重要依據，對碎米的檢測具有重要意義。GB 1354-2009《大米》中定義，碎米是長度小于同批試樣米粒平均長度四分之三、留存1.0mm圓孔篩上的不完整米粒；小碎米是通過直徑2.0mm圓孔篩，留存在直徑1.0mm圓孔篩上的不完整米粒。

傳統的碎米檢測方法是以篩分法和人工挑選相結合的方法，分選出樣品中的碎米，稱量碎米質量，并計算碎米含量。這種檢測方式局限在于人工篩選方式主觀性強，分類準確率不高，效率低，隨意性大，誤差大，在實際生產中，尤其是糧食收購過程中，很難得到有效準確地執行，因此容易產生較多的問題，技術手段急需提高。

發明內容

本發明的第一個目的是提供一種谷物外觀品質檢測裝置，所述裝置包括整列裝置、掃描儀、數據處理器和顯示屏；所述掃描儀蓋板上可拆卸地設置背景板；所述整列裝置包括孔板和嵌合在孔板下方的掃描底板，所述孔板上設有若干個孔洞，所述孔洞包括上孔和下孔，所述上孔的孔徑大于下孔孔徑。

在本發明的一種實施方式中，所述背景板為黑色硬紙板。

在本發明的一種實施方式中，所述背景板可替換為其它純色硬質板。

在本發明的一種實施方式中，所述孔洞呈長圓形且包括上孔和下孔，上孔的長和寬均大于對應下孔的長和寬。

在本發明的一種實施方式中，所述背景板通過固定裝置固定在掃描儀的蓋板內側。

在本發明的一種實施方式中，所述固定裝置由吸盤和固定在吸盤上的卡槽組成，所述卡槽的槽與蓋板平行設置。

在本發明的一種實施方式中，所述固定裝置設置至少2個。

在本發明的一種實施方式中，根據LS/T 6116-2017《大米粒型分類判定》，針對長粒米，所述上孔的長為8.5mm～10.5mm、寬為3mm～4mm、高為0.8mm～1.5mm，所述下孔的長和寬均比上孔少0.5mm～1.5mm，下孔的高比上孔多0.5mm～1.5mm；針對中短粒米，所述上孔的長為7mm～9mm、寬為4mm～5mm、高為0.8mm～1.5mm，所述下孔的長和寬均比上孔少0.5mm～1.5mm，下孔的高比上孔多0.5mm～1.5mm。

在本發明的一種實施方式中，各所述孔洞之間的橫向間隙是0.8mm～1.8mm，縱向間隙是0.8mm～1.8mm。

在本發明的一種實施方式中，所述孔板的材料為金屬或其他硬質材料。

在本發明的一種實施方式中，所述孔板的材料為鋁合金。

在本發明的一種實施方式中，所述掃描底板的材質為浮法玻璃。

在本發明的一種實施方式中，所述孔板上下面的四周均設有凸起，所述掃描底板嵌合所述凸起的內側。

在本發明的一種實施方式中，所述凸起的高度為2-3mm。