[發(fā)明專利]一種基于圖像識(shí)別對(duì)碎米率的快速檢測(cè)方法

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201811284303.5
• 申請(qǐng)日: 2018-10-31
• 公開（公告）號(hào): CN109211740A
• 公開（公告）日: 2019-01-15
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 沈曉芳;張玲;龐月紅;楊成;羅文濤
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 江南大學(xué)
• 主分類號(hào): G01N15/00
• 分類號(hào): G01N15/00;G01N21/84
• 代理公司: 哈爾濱市陽光惠遠(yuǎn)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 23211
• 代理人: 張勇

1.一種谷物外觀品質(zhì)的檢測(cè)方法，其特征在于，包括如下步驟；

1)稱取0～15g大米，將大米顆粒均勻分散置于掃描儀的平板上；

2)合上設(shè)置有黑色背景板的掃描儀蓋板；

3)對(duì)大米樣品進(jìn)行掃描；

4)設(shè)定閾值，按下述步驟對(duì)掃描獲得的圖像進(jìn)行處理，獲得檢測(cè)結(jié)果：

S1，讀取圖像，將圖像數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為雙精度浮點(diǎn)數(shù)，取得雙精度浮點(diǎn)數(shù)據(jù)中第三維度中的最大值，使用graythresh函數(shù)通過最大類間方差法找到圖片的一個(gè)合適的閾值，將灰度圖像轉(zhuǎn)換為二值圖像，將二值圖像縮放，刪除二值圖像中面積小于10的對(duì)象；

S2，找二值圖像中的連通區(qū)域，采用bwlable函數(shù)對(duì)于不同的符合條件的連通區(qū)域分別用不同的標(biāo)號(hào)加以區(qū)別，將結(jié)果保存在L矩陣?yán)?；采用regionprops函數(shù)度量圖像區(qū)域?qū)傩?，?jì)算出在圖像各個(gè)區(qū)域中像素總個(gè)數(shù)，以及像素意義下與區(qū)域具有相同標(biāo)準(zhǔn)二階中心矩的大米的長軸長度；

S3，判別條件為：步驟(2)計(jì)算獲得的大米的長軸長度小于碎米長度閾值且大于小碎米長度閾值，大碎米數(shù)+1；步驟(2)計(jì)算獲得的大米的長軸長度小于小碎米長度閾值，小碎米數(shù)+1；碎米數(shù)為大碎米數(shù)和小碎米數(shù)的加和。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，對(duì)大米的碎米率檢測(cè)的閾值調(diào)節(jié)為0.67～0.69。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，對(duì)大米的小碎米率檢測(cè)的閾值調(diào)節(jié)為0.39～0.41。

4.根據(jù)權(quán)利要求1～3任一所述的方法，其特征在于，所述大米替換為其它谷物顆粒。

5.一種用于權(quán)利要求1～4任一所述檢測(cè)方法的谷物外觀品質(zhì)檢測(cè)裝置，其特征在于，包括整列裝置、掃描儀、數(shù)據(jù)處理器和顯示屏；所述掃描儀蓋板上可拆卸地設(shè)置背景板；所述整列裝置包括孔板和嵌合在孔板下方的掃描底板，所述孔板上設(shè)有若干個(gè)孔洞，所述孔洞包括上孔和下孔，所述上孔的孔徑大于下孔孔徑。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的谷物外觀品質(zhì)檢測(cè)裝置，其特征在于，所述孔洞呈長圓形且包括上孔和下孔，上孔的長和寬均大于對(duì)應(yīng)下孔的長和寬。

7.根據(jù)權(quán)利要求4或5所述的谷物外觀品質(zhì)檢測(cè)裝置，其特征在于，固定裝置由吸盤和固定在吸盤上的卡槽組成，所述卡槽的槽與掃描儀的蓋板平行設(shè)置。

8.權(quán)利要求5或6所述的谷物外觀品質(zhì)檢測(cè)裝置在谷物食品品質(zhì)控制方面的應(yīng)用。

9.權(quán)利要求1～4任一所述的方法在測(cè)定大米碎米率方面的應(yīng)用。