[發明專利]SAS連接器導通檢測系統及其方法

有效

• 申請號: 201811269635.6
• 申請日: 2018-10-29
• 公開（公告）號: CN111104279B
• 公開（公告）日: 2021-11-12
• 發明（設計）人: 桑媛
• 申請（專利權）人: 英業達科技有限公司;英業達股份有限公司
• 主分類號: G06F11/24
• 分類號: G06F11/24;G06F11/22
• 代理公司: 北京國昊天誠知識產權代理有限公司 11315
• 代理人: 南霆;程爽

本發明公開一種SAS連接器導通檢測系統及其方法，屬于連接器技術領域。本發明的SAS連接器導通檢測系統，通過檢測電路板上的SAS連接器與主板的主板SAS連接器彼此插接，通過檢測電路板上的JTAG輸入連接器與JTAG輸出連接器使檢測電路板以及測試存取端口控制器彼此之間可形成串接，使對應的兩個檢測電路板即可同時提供對應插接的主板SAS連接器的導通檢測，由此可以達成提高SAS連接器檢測效率的技術功效。

技術領域

本發明公開一種檢測系統及其方法，尤其是指一種通過檢測電路板上的SAS連接器與主板的主板SAS連接器彼此插接，通過檢測電路板上的JTAG輸入連接器與JTAG輸出連接器使測試存取端口控制器彼此之間可形成串接，使對應的兩個檢測電路板即可同時提供對應插接的主板SAS連接器的導通檢測的SAS連接器導通檢測系統及其方法。

背景技術

主板/SC SAS連接器上信號的測試，之前的SC測試基本上采用的是Function測試。業內很多是購買SAS測試治具，通過治具和被測設備的高速差分通信來進行診斷，這種測試治具通常成本會很高(一般會需要功能較強的MCU及周邊電路)。

綜上所述，可知現有技術中長期以來一直存在現有對于SAS連接器檢測成本過高的問題，因此有必要提出改進的技術手段，來解決此問題。

發明內容

有鑒于現有技術存在現有對于SAS連接器檢測成本過高的問題，本發明公開一種SAS連接器導通檢測系統及其方法。

本發明所公開的SAS連接器導通檢測系統，其包括：主板以及檢測電路板，主板還包括：多個主板SAS連接器；檢測電路板還包括：SAS連接器、JTAG輸入連接器、JTAG輸出連接器、緩沖器、復雜可程序邏輯裝置(Complex Programmable Logic Device，CPLD)、第一JTAG芯片、第二JTAG芯片、第一多任務器、第二多任務器、微處理器、電子抹除式可復寫只讀存儲器、模擬數字轉換器以及穩壓器。

主板上的每一個主板SAS連接器與對應的主板SAS連接器形成電性連接。

SAS連接器分別與復雜可程序邏輯裝置、第一JTAG芯片、第二JTAG芯片、模擬數字轉換器以及穩壓器形成電性連接；JTAG輸入連接器分別與JTAG輸出連接器、緩沖器以及第一多任務器形成電性連接；JTAG輸出連接器分別與JTAG輸入連接器以及第一多任務器形成電性連接；緩沖器分別與JTAG輸入連接器、JTAG輸出連接器以及復雜可程序邏輯裝置形成電性連接；復雜可程序邏輯裝置分別與緩沖器、第一JTAG芯片、SAS連接器以及微處理器形成電性連接；第一JTAG芯片分別與SAS連接器、復雜可程序邏輯裝置以及第二JTAG芯片形成電性連接；第二JTAG芯片分別與SAS連接器以及第一JTAG芯片形成電性連接；第一多任務器分別與JTAG輸入連接器、JTAG輸出連接器、復雜可程序邏輯裝置以及微處理器形成電性連接；第二多任務器分別與微處理器、電子抹除式可復寫只讀存儲器以及模擬數字轉換器形成電性連接；微處理器分別與復雜可程序邏輯裝置、第一多任務器、第二多任務器以及模擬數字轉換器形成電性連接；電子抹除式可復寫只讀存儲器與第二多任務器形成電性連接；模擬數字轉換器分別與SAS連接器、第二多任務器以及微處理器形成電性連接；穩壓器分別與第一多任務器以及電源形成電性連接；及當兩個檢測電路板通過SAS連接器分別插接于對應的主板的主板SAS連接器時，對應的兩個檢測電路板即可同時提供對應插接的主板SAS連接器的導通檢測。

本發明所公開的SAS連接器導通檢測方法，其包括下列步驟：