[發明專利]SAS連接器導通檢測系統及其方法

有效

• 申請號: 201811269635.6
• 申請日: 2018-10-29
• 公開（公告）號: CN111104279B
• 公開（公告）日: 2021-11-12
• 發明（設計）人: 桑媛
• 申請（專利權）人: 英業達科技有限公司;英業達股份有限公司
• 主分類號: G06F11/24
• 分類號: G06F11/24;G06F11/22
• 代理公司: 北京國昊天誠知識產權代理有限公司 11315
• 代理人: 南霆;程爽

1.一種SAS連接器導通檢測系統，其特征在于，包括：

主板，所述主板還包括：

多個主板SAS連接器，每一個主板SAS連接器與對應的主板SAS連接器形成電性連接；及

檢測電路板，所述檢測電路板還包括SAS連接器、JTAG輸入連接器、JTAG輸出連接器、緩沖器、復雜可程序邏輯裝置(Complex Programmable Logic Device，CPLD)、第一JTAG芯片、第二JTAG芯片、第一多任務器、第二多任務器、微處理器、電子抹除式可復寫只讀存儲器、模擬數字轉換器以及穩壓器，其中：

所述SAS連接器分別與所述復雜可程序邏輯裝置、所述第一JTAG芯片、所述第二JTAG芯片、所述模擬數字轉換器以及所述穩壓器形成電性連接；

所述JTAG輸入連接器分別與所述JTAG輸出連接器、所述緩沖器以及所述第一多任務器形成電性連接；

所述JTAG輸出連接器分別與所述JTAG輸入連接器以及所述第一多任務器形成電性連接；

所述緩沖器分別與所述JTAG輸入連接器、所述JTAG輸出連接器以及所述復雜可程序邏輯裝置形成電性連接；

所述復雜可程序邏輯裝置分別與所述緩沖器、所述第一JTAG芯片、所述SAS連接器以及所述微處理器形成電性連接；

所述第一JTAG芯片分別與所述SAS連接器、所述復雜可程序邏輯裝置以及所述第二JTAG芯片形成電性連接；

所述第二JTAG芯片分別與SAS連接器以及所述第一JTAG芯片形成電性連接；

所述第一多任務器分別與所述JTAG輸入連接器、所述JTAG輸出連接器、所述復雜可程序邏輯裝置以及所述微處理器形成電性連接；

所述第二多任務器分別與所述微處理器、所述電子抹除式可復寫只讀存儲器以及所述模擬數字轉換器形成電性連接；

所述微處理器分別與所述復雜可程序邏輯裝置、所述第一多任務器、所述第二多任務器以及所述模擬數字轉換器形成電性連接；

所述電子抹除式可復寫只讀存儲器與所述第二多任務器形成電性連接；

所述模擬數字轉換器分別與所述SAS連接器、所述第二多任務器以及所述微處理器形成電性連接；

所述穩壓器分別與所述第一多任務器以及電源形成電性連接；及

當兩個檢測電路板通過所述SAS連接器分別插接于對應的所述主板的所述主板SAS連接器時，對應的兩個檢測電路板即可同時提供對應插接的主板SAS連接器的導通檢測。

2.如權利要求1所述的SAS連接器導通檢測系統，其特征在于，所述檢測電路板的所述JTAG輸入連接器與測試存取端口(Test Access Port，TAP)控制器或是另一個所述檢測電路板的所述JTAG輸出連接器形成電性連接，所述檢測電路板的所述JTAG輸出連接器與另一個所述檢測電路板的所述JTAG輸入連接器形成電性連接。

3.如權利要求1所述的SAS連接器導通檢測系統，其特征在于，所述主板SAS連接器以及所述SAS連接器分別包括集成電路總線、輸入輸出腳位、接地腳位、數據傳輸腳位以及模擬信號腳位。

4.如權利要求1所述的SAS連接器導通檢測系統，其特征在于，所述主板SAS連接器的導通檢測包括數據傳輸腳位檢測、模擬信號腳位檢測以及頻率腳位檢測。

5.如權利要求1所述的SAS連接器導通檢測系統，其特征在于，所述復雜可程序邏輯裝置以及所述微處理器可通過測試存取端口控制器設定為邊界掃描模式。