[發(fā)明專利]用于目標(biāo)檢測(cè)的深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的壓縮加速方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811267286.4 | 申請(qǐng)日: | 2018-10-26 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111105007A | 公開(公告)日: | 2020-05-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李志遠(yuǎn);余成宇;吳綺;金敏;魯華祥;陳艾東;郭祉薇 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院半導(dǎo)體研究所 |
| 主分類號(hào): | G06N3/04 | 分類號(hào): | G06N3/04;G06N3/063;G06N3/08 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 張宇園 |
| 地址: | 100083 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 目標(biāo) 檢測(cè) 深度 卷積 神經(jīng)網(wǎng)絡(luò) 壓縮 加速 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種用于目標(biāo)檢測(cè)的深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的壓縮加速方法,包括:構(gòu)建并訓(xùn)練一個(gè)用于目標(biāo)檢測(cè)的深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò);對(duì)深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)中所有的權(quán)重值和除最后一層外的各層經(jīng)激活函數(shù)后的激活值進(jìn)行量化測(cè)試,量化步長(zhǎng)由小至大,測(cè)試該網(wǎng)絡(luò)的檢測(cè)性能損失情況,在設(shè)定的損失范圍內(nèi)選擇最大的量化步長(zhǎng);利用該量化步長(zhǎng),確定神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)中權(quán)重值與激活值的截?cái)喾秶瑢?duì)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)加以限制并訓(xùn)練網(wǎng)絡(luò);對(duì)深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行截?cái)嗯c量化,編寫前向代碼。本發(fā)明采用量化技術(shù)降低網(wǎng)絡(luò)存儲(chǔ)量,將網(wǎng)絡(luò)中32位浮點(diǎn)數(shù)運(yùn)算轉(zhuǎn)化為8位整數(shù)運(yùn)算,同時(shí)利用網(wǎng)絡(luò)的稀疏性,將網(wǎng)絡(luò)中滿足稀疏性條件的層轉(zhuǎn)化為稀疏矩陣運(yùn)算,達(dá)到壓縮加速深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的目的。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及深度學(xué)習(xí)和人工智能領(lǐng)域,尤其涉及用于目標(biāo)檢測(cè)的深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的壓縮加速方法。
背景技術(shù)
由于在信息檢索、自動(dòng)駕駛、機(jī)器人導(dǎo)航和增強(qiáng)現(xiàn)實(shí)等領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用前景,目標(biāo)檢測(cè)一直是計(jì)算機(jī)視覺(jué)領(lǐng)域的一個(gè)重要研究方向,得到了學(xué)術(shù)界和工業(yè)界的廣泛研究和關(guān)注。傳統(tǒng)的目標(biāo)檢測(cè)系統(tǒng)主要采用一些人工設(shè)計(jì)的特征,如Haar特征和HoG特征等,利用支持向量機(jī)等分類器對(duì)圖像進(jìn)行滑窗分類來(lái)達(dá)到檢測(cè)物體的效果。近年來(lái),隨著深度學(xué)習(xí)的興起,卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)對(duì)目標(biāo)檢測(cè)帶來(lái)極其有效的解決辦法,基于深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的方法取得的結(jié)果均大幅度領(lǐng)先傳統(tǒng)的方法。
然而,由于卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)伴隨著大量的存儲(chǔ)量和計(jì)算量,例如經(jīng)典的VGG16網(wǎng)絡(luò)需要約520MB存儲(chǔ)量和153億次乘加運(yùn)算,即便是現(xiàn)有的一些輕量級(jí)網(wǎng)絡(luò),仍然需要數(shù)十MB存儲(chǔ)量和數(shù)百萬(wàn)次乘加運(yùn)算,如此巨大的存儲(chǔ)量和運(yùn)算量限制了卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的應(yīng)用,尤其是移動(dòng)設(shè)備和嵌入式設(shè)備中。
發(fā)明內(nèi)容
(一)要解決的技術(shù)問(wèn)題
有鑒于此,本發(fā)明的目的在于提供一種用于目標(biāo)檢測(cè)的深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的壓縮加速方法,其采用量化技術(shù)降低網(wǎng)絡(luò)的存儲(chǔ)量,將網(wǎng)絡(luò)中32位浮點(diǎn)數(shù)運(yùn)算轉(zhuǎn)化為8位整數(shù)運(yùn)算,同時(shí)利用網(wǎng)絡(luò)稀疏性的特點(diǎn),將網(wǎng)絡(luò)中滿足稀疏性條件的層轉(zhuǎn)化為稀疏矩陣運(yùn)算,以此達(dá)到壓縮加速用于目標(biāo)檢測(cè)的深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的目的。
(二)技術(shù)方案
本發(fā)明提出了一種用于目標(biāo)檢測(cè)的深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的壓縮加速方法,包括下列步驟:
步驟1:構(gòu)建并訓(xùn)練出一個(gè)用于目標(biāo)檢測(cè)的深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò);
步驟2:對(duì)深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)中所有的權(quán)重值和除最后一層外的各層經(jīng)激活函數(shù)后的激活值進(jìn)行量化測(cè)試,量化步長(zhǎng)由小至大,測(cè)試該深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的檢測(cè)性能損失情況,在設(shè)定的損失范圍內(nèi),選擇最大的量化步長(zhǎng);
步驟3:利用上述最大的量化步長(zhǎng),根據(jù)網(wǎng)絡(luò)需要的壓縮位數(shù),確定深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)中權(quán)重值與激活值的截?cái)喾秶瑢?duì)深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)加以限制,并訓(xùn)練深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò);
步驟4:對(duì)該深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行截?cái)嗯c量化,并對(duì)量化后的深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)前向代碼進(jìn)行編寫。
進(jìn)一步地,步驟1包括:
步驟11:設(shè)計(jì)深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的結(jié)構(gòu),設(shè)置卷積層和池化層的參數(shù),除最后一個(gè)卷積層外,在每個(gè)卷積層與激活函數(shù)之間添加批量歸一化層;
步驟12:將訓(xùn)練集的數(shù)據(jù)輸入至深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò),采用隨機(jī)梯度下降法對(duì)深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行訓(xùn)練,當(dāng)深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)在測(cè)試集上的誤差收斂時(shí),終止訓(xùn)練,保存深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)各個(gè)層的參數(shù)。
進(jìn)一步地,步驟11包括:激活函數(shù)采用ReLU。
進(jìn)一步地,步驟2包括:
步驟21:對(duì)網(wǎng)絡(luò)中所有的權(quán)重值和除最后一層外的各層經(jīng)激活函數(shù)后的激活值進(jìn)行量化,量化方式采用均勻量化,量化公式如下:
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)科學(xué)院半導(dǎo)體研究所,未經(jīng)中國(guó)科學(xué)院半導(dǎo)體研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201811267286.4/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 目標(biāo)檢測(cè)裝置、學(xué)習(xí)裝置、目標(biāo)檢測(cè)系統(tǒng)及目標(biāo)檢測(cè)方法
- 目標(biāo)監(jiān)測(cè)方法、目標(biāo)監(jiān)測(cè)裝置以及目標(biāo)監(jiān)測(cè)程序
- 目標(biāo)監(jiān)控系統(tǒng)及目標(biāo)監(jiān)控方法
- 目標(biāo)跟蹤方法和目標(biāo)跟蹤設(shè)備
- 目標(biāo)跟蹤方法和目標(biāo)跟蹤裝置
- 目標(biāo)檢測(cè)方法和目標(biāo)檢測(cè)裝置
- 目標(biāo)跟蹤方法、目標(biāo)跟蹤裝置、目標(biāo)跟蹤設(shè)備
- 目標(biāo)處理方法、目標(biāo)處理裝置、目標(biāo)處理設(shè)備及介質(zhì)
- 目標(biāo)處理方法、目標(biāo)處理裝置、目標(biāo)處理設(shè)備及介質(zhì)
- 目標(biāo)跟蹤系統(tǒng)及目標(biāo)跟蹤方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





