[發(fā)明專利]一種用于視頻壓縮的預(yù)測(cè)方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811260580.2 | 申請(qǐng)日: | 2018-10-26 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111107371A | 公開(公告)日: | 2020-05-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 冉文方;李雯 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 西安科銳盛創(chuàng)新科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | H04N19/50 | 分類號(hào): | H04N19/50;H04N19/52;H04N19/42;H04N19/70 |
| 代理公司: | 西安嘉思特知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 61230 | 代理人: | 孫濤濤 |
| 地址: | 710065 陜西省西安市高新區(qū)高新路86號(hào)*** | 國(guó)省代碼: | 陜西;61 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 視頻壓縮 預(yù)測(cè) 方法 | ||
1.一種用于視頻壓縮的預(yù)測(cè)方法,其特征在于,所述方法包括:
將圖像分為相同大小的多個(gè)MB,選取一個(gè)MB為當(dāng)前MB;
通過基于像素級(jí)單分量參考的預(yù)測(cè)方法對(duì)所述當(dāng)前MB進(jìn)行預(yù)測(cè),獲得所述當(dāng)前MB的第一預(yù)測(cè)殘差;
通過基于非距采樣的自適應(yīng)紋理漸變的預(yù)測(cè)方法對(duì)所述當(dāng)前MB進(jìn)行預(yù)測(cè),獲得所述當(dāng)前MB的第二預(yù)測(cè)殘差;
根據(jù)所述第一預(yù)測(cè)殘差和所述第二預(yù)測(cè)殘差選取最終預(yù)測(cè)殘差。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的預(yù)測(cè)方法,其特征在于,通過基于像素級(jí)單分量參考的預(yù)測(cè)方法對(duì)所述當(dāng)前MB進(jìn)行預(yù)測(cè),獲得所述當(dāng)前MB的第一預(yù)測(cè)殘差,包括:
確定當(dāng)前像素;
通過所述當(dāng)前像素周圍的像素,確定所述當(dāng)前像素的N個(gè)紋理方向梯度值G1-GN;
通過所述N個(gè)紋理方向梯度值G1-GN獲得所述當(dāng)前像素的參考方向;
根據(jù)所述參考方向確定所述當(dāng)前像素的第一預(yù)測(cè)殘差。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的預(yù)測(cè)方法,其特征在于,通過所述當(dāng)前像素周圍的像素,確定所述當(dāng)前像素的N個(gè)紋理方向梯度值G1-GN,包括:
計(jì)算所述當(dāng)前像素和沿多個(gè)紋理方向的多個(gè)臨近像素差值的絕對(duì)值,將所述差值的絕對(duì)值作為所述當(dāng)前像素在N個(gè)紋理方向的梯度值G1-GN。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的預(yù)測(cè)方法,其特征在于,通過所述N個(gè)紋理方向梯度值獲得所述當(dāng)前像素的參考方向,包括:
將所述N個(gè)紋理方向梯度值G1-GN分別進(jìn)行加權(quán),得到所述N個(gè)紋理方向梯度值加權(quán)后的加權(quán)梯度值w1*G1、w2*G2、……wN*GN;
選擇所述加權(quán)梯度值w1*G1、w2*G2、……wN*GN中最小值對(duì)應(yīng)的紋理方向作為所述當(dāng)前像素的參考方向。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的預(yù)測(cè)方法,其特征在于,根據(jù)所述參考方向確定所述當(dāng)前像素的第一預(yù)測(cè)殘差,包括:
求取所述當(dāng)前像素與所述參考方向上的鄰近像素的差值,將所述差值作為所述當(dāng)前像素的第一預(yù)測(cè)殘差。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的預(yù)測(cè)方法,其特征在于,通過基于非距采樣的自適應(yīng)紋理漸變的預(yù)測(cè)方法對(duì)所述當(dāng)前MB進(jìn)行預(yù)測(cè),獲得所述當(dāng)前MB的第二預(yù)測(cè)殘差,包括:
確定當(dāng)前MB的大小為n*1,n為正整數(shù);
選取T種非等距離采樣方式對(duì)所述當(dāng)前MB中的像素進(jìn)行采樣,其中,T為大于1的整數(shù);
選取M種預(yù)測(cè)方式對(duì)每種采樣方式中的所述當(dāng)前MB進(jìn)行預(yù)測(cè);
分別計(jì)算每種采樣方式中的所述當(dāng)前MB的預(yù)測(cè)殘差;
根據(jù)所述預(yù)測(cè)殘差選取所述當(dāng)前MB的最終采樣方式以及最終預(yù)測(cè)方式,對(duì)應(yīng)的所述當(dāng)前MB的預(yù)測(cè)殘差為所述第二預(yù)測(cè)殘差。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的預(yù)測(cè)方法,其特征在于,所述M種預(yù)測(cè)方式為三種角度預(yù)測(cè)方式,包括45度紋理預(yù)測(cè)、90度紋理預(yù)測(cè)及135度紋理預(yù)測(cè)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的預(yù)測(cè)方法,其特征在于,分別計(jì)算每種采樣方式中的所述當(dāng)前MB的預(yù)測(cè)殘差和殘差絕對(duì)值和,包括:
利用所述M種預(yù)測(cè)方式,分別計(jì)算所述當(dāng)前MB的所有采樣點(diǎn)的預(yù)測(cè)殘差;
根據(jù)下述預(yù)測(cè)公式計(jì)算所述當(dāng)前MB的所有非采樣點(diǎn)的預(yù)測(cè)殘差;
Resi=(sample1-sample0)*(i+1)/(num+1)
其中,公式中的sample0和sample1為當(dāng)前MB中連續(xù)的采樣點(diǎn)的像素分量重建值,i為非采樣點(diǎn)索引,num為非采樣點(diǎn)數(shù)量。
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