[發明專利]一種硅片圓片切刀修正工藝在審
| 申請號: | 201811216216.6 | 申請日: | 2018-10-18 |
| 公開(公告)號: | CN111081634A | 公開(公告)日: | 2020-04-28 |
| 發明(設計)人: | 葛建秋;張彥;陳玲 | 申請(專利權)人: | 江陰蘇陽電子股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/78 | 分類號: | H01L21/78 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 214400 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 硅片 圓片切刀 修正 工藝 | ||
本發明,一種硅片圓片切刀修正工藝,包括如下步驟:步驟1、切割位置修正:在切割過程,按“START/STOP”鍵,機器會暫停切割,工作盤移動顯微鏡下,修正界面出現,用Y∧或Y∧鍵將基準線與切割區調到相吻合;按F5鍵,機器將修正切割痕與切割區位置的偏差;按“START/STOP”鍵,機器將重新開始切割,再按“START/STOP”鍵,檢查修正是否精確,如若需要繼續修正,重復上述過程,按“START/STOP”鍵,機器重新開始切割;步驟2、切刀更換;步驟3、切割速度修正。本發明的一種硅片圓片切刀修正工藝,在切刀出現問題時及時調整切刀位置,并對切刀進行更換和改變相應的切割速度,有效對之前錯誤的工藝進行有效補救,降低產品成為廢品的可能性,操作過程簡單。
技術領域
本發明涉及芯片封裝行業,具體涉及一種硅片圓片切刀修正工藝。
背景技術
隨著科技發展,電子產業突飛猛進,各種集成、控制電路需求急劇增長,對芯片封裝的需求也增長迅猛。
芯片封裝是指,將精密的半導體集成電路芯片安裝到框架上,然后利用引線將芯片與框架引腳相連接,最后用環氧樹脂將半導體集成電路芯片固封起來,外界通過引腳與內部的芯片進行信號傳輸。封裝主要是對精密的半導體集成電路芯片進行固封,使半導體集成電路芯片在發揮作用的同時,不受外界濕度、灰塵的影響,同時提供良好的抗機械振動或沖擊保護,提高半導體集成電路芯片的適用性。同時封裝在金屬框架上,增加了散熱面積,提高了芯片的運行可靠性。
在切割過程中,刀具有時由于工作人員的疏忽出現走刀錯誤,需要修正,現有工藝中沒有上述修正工藝。
現需要一種硅片圓片切刀修正工藝,以期可以解決上述技術問題。
發明內容
本發明的目的是提供一種硅片圓片切刀修正工藝,以彌補現有測量過程中的不足。
為了達到上述目的,本發明提供了一種硅片圓片切刀修正工藝,步驟如下:
步驟1、切割位置修正:在切割過程,按“START/STOP”鍵,機器會暫停切割,工作盤移動顯微鏡下,修正界面出現,用Y∧或Y∧鍵將基準線與切割區調到相吻合;按F5鍵,機器將修正切割痕與切割區位置的偏差;按“START/STOP”鍵,機器將重新開始切割,再按“START/STOP”鍵,檢查修正是否精確,如若需要繼續修正,重復上述過程,按“START/STOP”鍵,機器重新開始切割,若發現基準線與切割痕不重合應首先做基準線與切割痕的修正;
步驟2、切刀更換:在主菜單界面下,按F5鍵,進入“刀片維護”界面,然后再按F1鍵,進入“刀片更換”界面,此時主軸停止旋轉,切割水停止噴出且Y軸向后移動到換刀位置,打開防水蓋,取下前噴水蓋。如若機器帶“BBD”,還應將“BBD”升到最高點,以便卸刀,使用換刀工具卸下固定刀的螺母,取下刀片;
步驟3、切割速度修正: 在切割進行中的方法:在切割界面中,用數字鍵在“速度改變”欄中,輸入新的速度,按F7鍵,機器在切下一線時,開始執行新的速度,
在切割暫停中的方法:在切割暫停界面中,用數字鍵在“速度改變”欄中,輸入新的速度,按F7鍵,再按“START/STOP”鍵,機器在切下一線時,開始執行新的速度。
優選地,在步驟2中,對切刀進行更換的過程中,首先用蘸了去離子水的棉簽清潔“BBD”傳感器的表面 ,按F10鍵,進入“刀片破損檢測的調整”界面,檢查靈敏度的讀數是否在90%至100%范圍,反復清潔幾次,仍達不到要求,找設備維護人員執行放大器調整,使之達到正常范圍內,裝上新的刀片,并確認刀片與刀架之間應接觸良好,用設有大于30kgf.cm扭力矩上緊刀片固定螺母,如若機器帶“BBD”,調節BBD的下降旋鈕并在“刀片破損檢測的調整”界面中檢查并確認敏感器電壓在5%-15%之間。
優選地,在上述過程中,當設備異常時,按EMERGENCY STOP緊急停機健,維修。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





