[發(fā)明專利]基于圖片處理的金屬靶材表面缺陷的檢測(cè)算法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811204791.4 | 申請(qǐng)日: | 2018-10-16 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111060524A | 公開(公告)日: | 2020-04-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王瑩 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 蘇州微微視視覺科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/95 | 分類號(hào): | G01N21/95 |
| 代理公司: | 蘇州國(guó)卓知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 32331 | 代理人: | 薛芳芳 |
| 地址: | 215131 江蘇省*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 圖片 處理 金屬 表面 缺陷 檢測(cè) 算法 | ||
本發(fā)明公開了一種基于圖片處理的金屬靶材表面缺陷的檢測(cè)算法,包括如下步驟:S1:統(tǒng)計(jì)某半徑范圍內(nèi)的像素灰度平均值,得到從里到外刀紋的平均亮度值變化曲線;S2:計(jì)算曲線上所有峰值與周圍數(shù)據(jù)的相對(duì)變化量以及峰寬度;S3:對(duì)變化量和峰值寬度進(jìn)行閾值分析,從而確定是否存在不均勻刀紋;S4:在工件不同位置采集圖像,并用該算法檢測(cè)刀紋,最終得出刀紋的位置。還包括如下步驟:對(duì)圖片劃分區(qū)域,并在區(qū)域內(nèi)提取邊緣;邊緣點(diǎn)連接為輪廓,并提取輪廓長(zhǎng)度和圓度信息;對(duì)輪廓信息進(jìn)行閾值分析,判斷是否存在劃痕。本發(fā)明的有益效果為:其能準(zhǔn)確的計(jì)算出靶材表面是否存在刀紋和劃痕。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及靶材技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種基于圖片處理的金屬靶材表面缺陷的檢測(cè)算法。
背景技術(shù)
如今,汽車,手機(jī),平板電腦,顯示器等很多產(chǎn)業(yè)的發(fā)展都離不開電子芯片。而金屬濺射靶材是電子芯片制造的關(guān)鍵材料。在芯片的生產(chǎn)過程中,通過一定的處理,將金屬靶材上的金屬原子一層一層濺射到芯片上,再利用特殊的工藝,把它們切割成納米級(jí)的金屬導(dǎo)線,用于傳輸芯片信息。然而,如果濺射靶材表面不夠均勻有瑕疵,會(huì)在濺射過程中造成尖端放電,形成雜質(zhì)粒子,影響芯片質(zhì)量,最終導(dǎo)致芯片報(bào)廢和替換新的靶材,從而引起高額成本浪費(fèi)。因而保證金屬濺射靶材表面平整均勻至關(guān)重要。目前檢測(cè)靶材表面是否均勻的方法是:工人通過眼睛,輔助手電照明,從各個(gè)角度照射并觀察整個(gè)表面的不同位置,查看是否有較深的加工刀紋或劃傷。由于金屬高反光,并且不平整處與其他部分相比差別細(xì)微(微米量級(jí)),給觀測(cè)造成很大難度。因而檢測(cè)工人需要經(jīng)過特殊培訓(xùn),并積累經(jīng)驗(yàn),造成一定的人力和時(shí)間浪費(fèi)。同時(shí),觀察結(jié)果隨著工人的不同存在一定差異,很難統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)。針對(duì)以上缺點(diǎn),為了量化檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn),數(shù)字化檢測(cè)結(jié)果,提高效率,我們提出采用視覺方法進(jìn)行金屬靶材表面不均勻刀紋和劃傷的檢測(cè)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種基于圖片處理的金屬靶材表面缺陷的檢測(cè)算法,其能準(zhǔn)確的計(jì)算出靶材表面是否存在刀紋和劃痕。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明的技術(shù)方案是
一種基于圖片處理的金屬靶材表面缺陷的檢測(cè)算法,包括如下步驟:
S1:統(tǒng)計(jì)某半徑范圍內(nèi)的像素灰度平均值,得到從里到外刀紋的平均亮度值變化曲線;
S2:計(jì)算曲線上所有峰值與周圍數(shù)據(jù)的相對(duì)變化量以及峰寬度;
S3:對(duì)變化量和峰值寬度進(jìn)行閾值分析,從而確定是否存在不均勻刀紋;
S4:在工件不同位置采集圖像,并用該算法檢測(cè)刀紋,最終得出刀紋的位置。
優(yōu)選地,包括如下步驟:
對(duì)圖片劃分區(qū)域,并在區(qū)域內(nèi)提取邊緣;
邊緣點(diǎn)連接為輪廓,并提取輪廓長(zhǎng)度和圓度信息;
對(duì)輪廓信息進(jìn)行閾值分析,判斷是否存在劃痕。
本發(fā)明的工作原理為:
首先,將同軸光源打開,相機(jī)采圖檢測(cè)刀紋:光線通過靶材濺射面反射進(jìn)入相機(jī),當(dāng)濺射面合格無(wú)刀紋時(shí),相機(jī)獲得灰度均勻變化的圖像;當(dāng)濺射面存在刀紋時(shí),由于刀紋與濺射面表面存在高度差,光線在刀紋出現(xiàn)漫反射,使得刀紋在圖像中表現(xiàn)為亮條;
關(guān)閉同軸光源,打開條形光源,相機(jī)采圖檢測(cè)劃痕:
相機(jī)的視野范圍處于條形光源散射出的光照強(qiáng)度較小的部分,由于靶材濺射面很光滑,光線在其表面呈鏡面反射,所以當(dāng)濺射面合格無(wú)劃痕時(shí),相機(jī)會(huì)獲得較暗的圖像;當(dāng)濺射面存在劃痕時(shí),由于劃痕處與濺射面表面存在高度差,光線在劃痕處出現(xiàn)了漫反射,使得劃痕在圖像中表現(xiàn)為亮痕。
其次,具體計(jì)算時(shí)采用如下步驟:
S1:統(tǒng)計(jì)某半徑范圍內(nèi)的像素灰度平均值,得到從里到外刀紋的平均亮度值變化曲線;
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- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





