[發(fā)明專利]偏光度的測量方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201811165732.0
• 申請日: 2018-10-08
• 公開（公告）號: CN109282969B
• 公開（公告）日: 2020-04-03
• 發(fā)明（設計）人: 陳俊吉
• 申請（專利權）人: 惠州市華星光電技術有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G02F1/13
• 代理公司: 深圳翼盛智成知識產(chǎn)權事務所(普通合伙) 44300
• 代理人: 黃威

本發(fā)明提供一種偏光度的測量方法，其用于測量偏振片的偏光度，本發(fā)明的優(yōu)點在于，采用反射式測量方法，不需要將偏振片從模組上取下后再測量偏光度，避免模組被破壞，且避免偏振片受損，影響偏振片的偏光度；另外，本發(fā)明偏光度的測量方法能夠實現(xiàn)大批量在線監(jiān)控，可操作性強。

技術領域

本發(fā)明涉及顯示裝置領域，尤其涉及一種偏振片的偏光度的測量方法。

背景技術

隨著顯示技術的進步，薄膜晶體管液晶顯示器(thinfilm transistor liquidcrystal display，TFT-LCD)由于具有輕、薄、低輻射以及體積小而不占空間等優(yōu)勢，目前已經(jīng)成為顯示器市場的主力產(chǎn)品。

液晶顯示器主要利用兩片偏振片所產(chǎn)生的線偏光達到亮暗對比的顯示效果。其主要光源由背光模組提供，其光線經(jīng)過第一片偏光板后產(chǎn)生線偏光，隨著液晶分子的排列扭轉后，再透過第二片偏光板即會產(chǎn)生亮暗變化，最后到達觀看者眼內(nèi)達到顯示效果。

其中，偏振片的偏光度P對其對比度K有很大影響，而偏振片的對比度會影響液晶顯示器的對比光學表現(xiàn)。其中，偏光度P與對比度K之間存在如下關系：因此，若要檢測監(jiān)測液晶顯示器的對比光學表現(xiàn)則需要對偏振片的偏光度P進行測量。而偏光度P與偏振片的平行透光率T_//及偏振片的正交透光率T_⊥存在如下關系因此，可通過測量光片的平行透光率T_//及偏振片的正交透光率T_⊥得到偏振片的偏光度P，進而可監(jiān)測液晶顯示器的對比光學表現(xiàn)。

目前，傳統(tǒng)的測試偏振片的偏光度的方法為采用穿透式光源測量方法。具體地說，光源產(chǎn)生一任一方向的線偏振光，所述線偏振光穿過待測試的偏振片，測量所述待測試的偏振片的平行透光率T_//及偏振片的正交透光率T_⊥，從而可得到所述待測試的偏振片的偏光度，進而可檢測液晶顯示器的對比光學表現(xiàn)。傳統(tǒng)的方法的缺點在于，在測試之前，需要將待測試的偏振片從TFT基板或者CF基板上取下進行測試，在取下過程中偏振片會產(chǎn)生變形，影響偏光度的測量結果，且該種方法為破壞性測量，無法大量線上監(jiān)控。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明所要解決的技術問題是，提供一種偏光度的測量方法，其不需要將偏振片從模組上取下后再測量偏光度，避免模組被破壞，且避免偏振片受損，影響偏振片的偏光度。

為了解決上述問題，本發(fā)明提供了一種偏光度的測量方法，包括如下步驟：提供一參考偏振片的反射率及一參考基板的反射率；一各向線偏振光入射至一偏振片與一基板組合形成的一模組，測量所述模組的反射率，將所述模組的反射率的最大值作為所述模組的平行反射率，將所述模組的反射率的最小值作為所述模組的正交反射率；根據(jù)所述參考偏振片的反射率、所述參考基板的反射率、所述模組的平行反射率及所述模組的正交反射率計算所述偏振片的偏光度。

在一實施例中，根據(jù)公式(1)、公式(2)及公式(3)求得所述偏振片的偏光度：

R_//＝R_POL+T_//*R_G (1)

R_⊥＝R_POL+T_⊥*R_G (2)

其中，R_POL為所述參考偏振片的反射率，R_G為所述參考基板的反射率，T_//為所述偏振片的平行透光率，T_⊥為所述偏振片的正交透光率，R_//為所述模組的平行反射率，R_⊥為所述模組的正交反射率，P為所述偏振片的偏光度。