[發(fā)明專利]一種易磨層及其制備方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811156070.0 | 申請日: | 2018-09-30 |
| 公開(公告)號: | CN110966054A | 公開(公告)日: | 2020-04-07 |
| 發(fā)明(設計)人: | 馬會防;何春亮;虞磊 | 申請(專利權(quán))人: | 中國航發(fā)商用航空發(fā)動機有限責任公司 |
| 主分類號: | F01D21/00 | 分類號: | F01D21/00;G01N27/04 |
| 代理公司: | 上海專利商標事務所有限公司 31100 | 代理人: | 孫英杰;陳亮 |
| 地址: | 200241 上*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 易磨層 及其 制備 方法 | ||
本發(fā)明涉及一種易磨層及其制備方法。該易磨層適用于航空發(fā)動機,航空發(fā)動機包括信號電路,易磨層沿磨損路徑的方向上形成若干個磨損檢測層,在磨損檢測層內(nèi)設有導電絲,導電絲接入信號電路;在易磨層的磨損過程中,磨損檢測層逐漸磨損致導電絲斷開,信號電路檢測到導電絲的電阻值變化,以指示易磨層的磨損狀態(tài)。本發(fā)明提出了一種易磨層,能方便檢測出其磨損程度,從而避免易磨層磨穿而引發(fā)嚴重事故,提升安全性能。
技術領域
本發(fā)明涉及航空發(fā)動機結(jié)構(gòu)設計領域,尤其涉及一種易磨層及其制備方法。
背景技術
隨著科技的不斷發(fā)展,一些旋轉(zhuǎn)機械的轉(zhuǎn)子和靜子之間的間隙越來越小,因為間隙對設備的性能有著重要的影響,一旦間隙變小后,轉(zhuǎn)子與靜子更有可能發(fā)生碰磨,這種轉(zhuǎn)子與靜子之間的碰磨對設備的安全運行非常不利。為了避免碰磨帶來的嚴重惡劣影響,易磨塊被廣泛應用于轉(zhuǎn)子與靜子之間,當兩者發(fā)生碰磨時,易磨塊會被逐漸磨損掉,在易磨塊在完全磨損之前,轉(zhuǎn)子和靜子不會因為碰磨而造成安全性影響,所以易磨塊的應用較為廣泛。特別是在飛機結(jié)構(gòu)設計的航空發(fā)動機領域,在轉(zhuǎn)子和靜子之間有多處應用了易磨層。
易磨層屬于易損件,若易磨層被磨損較多又未被發(fā)現(xiàn),一旦發(fā)生轉(zhuǎn)子和靜子之間的金屬碰磨,將嚴重影響設備運行安全。故,易磨層的磨損信息非常重要,但獲取這樣的信息又非常困難,主要原因是磨損信息通常需要通過目視獲取。為了要看到磨損層的磨損情況,需要拆解設備,像航空發(fā)動機這樣復雜的設備,其拆解是非常困難的。如果不能及時的查看磨損層的磨損信息,則航空發(fā)動機仍然存在安全隱患。
發(fā)明內(nèi)容
針對現(xiàn)有技術的上述問題,本發(fā)明提出了一種易磨層,能方便檢測出其磨損程度,從而避免易磨層磨穿而引發(fā)嚴重事故,提升安全性能。
具體地,本發(fā)明提出了一種易磨層,適用于航空發(fā)動機,所述航空發(fā)動機包括信號電路,所述易磨層沿磨損路徑的方向上形成若干個磨損檢測層,在所述磨損檢測層內(nèi)設有導電絲,所述導電絲接入所述信號電路;
在所述易磨層的磨損過程中,所述磨損檢測層逐漸磨損致所述導電絲斷開,所述信號電路檢測到所述導電絲的電阻值變化,以指示所述易磨層的磨損狀態(tài)。
根據(jù)本發(fā)明的一個實施例,所述導電絲嵌入在所述易磨層內(nèi)。
根據(jù)本發(fā)明的一個實施例,若干所述磨損檢測層處于所述易磨層的不同厚度處。
根據(jù)本發(fā)明的一個實施例,若干所述磨損檢測層的導電絲以并聯(lián)方式接入所述信號電路。
根據(jù)本發(fā)明的一個實施例,所述易磨層設置在所述航空發(fā)動機的機匣和轉(zhuǎn)子葉片之間。
本發(fā)明還提供了一種制備易磨層的方法,所述易磨層具有若干個磨損檢測層,所述方法包括:
步驟S1:將導電絲粘在基片上;
步驟S2:在所述易磨塊的易磨層上沿垂直于磨損路徑的方向上開設溝槽;
步驟S3:將所述基片插入所述溝槽;
步驟S4:用密封膠密封所述溝槽。
根據(jù)本發(fā)明的一個實施例,所述基片為易磨損絕緣片。
本發(fā)明還提供了另一種制備易磨層的方法,所述易磨層具有若干個磨損檢測層,所述方法包括以噴涂方式形成所述易磨層的各個磨損檢測層,在每個所述易磨層噴涂至一設定厚度時,放置所述導電絲,繼續(xù)噴涂以埋覆所述導電絲,并形成所述的磨損檢測層。
本發(fā)明提供的一種易磨層及其制備方法,結(jié)構(gòu)緊湊,制備方便,采用該易磨層接入信號電路能方便檢測出其磨損程度,從而避免易磨層磨穿而引發(fā)嚴重事故,提升安全性能。
應當理解,本發(fā)明以上的一般性描述和以下的詳細描述都是示例性和說明性的,并且旨在為如權(quán)利要求所述的本發(fā)明提供進一步的解釋。
附圖說明
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