[發(fā)明專利]試劑卡溫控方法、裝置、設備、計算機設備及存儲介質

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201811151474.0
• 申請日: 2018-09-29
• 公開（公告）號: CN109407718B
• 公開（公告）日: 2020-09-25
• 發(fā)明（設計）人: 吳曼;王繼華
• 申請（專利權）人: 廣州萬孚生物技術股份有限公司
• 主分類號: G05D23/19
• 分類號: G05D23/19
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 周清華

本申請涉及一種試劑卡溫控方法、裝置、溫控設備、計算機設備及存儲介質，屬于檢測技術領域。所述試劑卡溫控方法包括：檢測環(huán)境溫度；根據所述環(huán)境溫度，生成起始溫度、中間溫度和目標溫度；將所述加熱片升溫至所述起始溫度，并控制所述加熱片在第一階段時間內維持所述起始溫度；所述第一階段時間根據所述環(huán)境溫度確定；將所述加熱片降溫至所述中間溫度，并控制所述加熱片在第二階段時間內維持所述中間溫度；所述第二階段時間根據所述環(huán)境溫度確定；將所述加熱片從所述中間溫度降溫至所述目標溫度。根據本申請實施例，實現了試劑卡溫控方法中快速穩(wěn)定調節(jié)溫度的目的。

技術領域

本發(fā)明涉及檢測技術領域，特別是涉及一種試劑卡溫控方法、裝置、溫控設備、計算機設備及存儲介質。

背景技術

隨著檢測技術的不斷進步，試劑卡檢測也得到了快速發(fā)展。試劑卡檢測，是指在特定反應溫度的基礎上，進行加樣試劑反應的檢測技術，其溫度控制不可避免地成為了技術關鍵。

傳統(tǒng)的試劑卡溫控方法，對溫度的掌控較弱，不僅無法滿足待測目標溫度的快速穩(wěn)定，甚至由于溫度的控制不理想導致檢測結果不可靠，更加無法適用于較寬范圍的檢測。

因此，傳統(tǒng)試劑卡溫控方法存在著溫度無法快速穩(wěn)定調控的問題。

發(fā)明內容

基于此，有必要針對上述試劑卡溫控方法存在著溫度無法快速穩(wěn)定調控的技術問題，提供一種能夠控制溫度快速穩(wěn)定的試劑卡溫控方法、裝置、溫控設備、計算機設備及存儲介質。

一種試劑卡溫控方法，包括：

檢測環(huán)境溫度；

根據所述環(huán)境溫度，生成起始溫度、中間溫度和目標溫度；

將所述加熱片升溫至所述起始溫度，并控制所述加熱片在第一階段時間內維持所述起始溫度；所述第一階段時間根據所述環(huán)境溫度確定；

將所述加熱片降溫至所述中間溫度，并控制所述加熱片在第二階段時間內維持所述中間溫度；所述第二階段時間根據所述環(huán)境溫度確定；

將所述加熱片從所述中間溫度降溫至所述目標溫度。

在其中一個實施例中，所述根據所述環(huán)境溫度，生成起始溫度、中間溫度和目標溫度，包括：

判斷所述環(huán)境溫度是否符合預設的環(huán)境溫度范圍；

若是，則生成所述起始溫度、所述中間溫度和所述目標溫度。

在其中一個實施例中，所述將所述加熱片從所述中間溫度降溫至所述目標溫度，包括：

確定所述目標溫度的加樣階段溫度；

將所述加熱片從所述中間溫度降溫至所述加樣階段溫度；

在預設的第三階段時間內，控制所述加熱片維持所述加樣階段溫度；

將所述加熱片從所述加樣階段溫度調節(jié)至所述目標溫度。

在其中一個實施例中，所述將所述加熱片從所述加樣階段溫度調節(jié)至所述目標溫度，包括：

獲取所述加熱片的加樣變化溫度；

計算所述加樣變化溫度與所述目標溫度之間的溫度差值；

根據所述溫度差值，將所述加熱片從所述加樣變化溫度調節(jié)至所述目標溫度。

在其中一個實施例中，所述溫控設備還包括試劑卡卡槽，所述試劑卡卡槽用于將所述加熱片的溫度傳導至所述試劑卡，所述將所述加熱片從所述中間溫度降溫至所述目標溫度之前，還包括：

檢測卡槽實時溫度，以及，檢測加熱片實時溫度；

計算所述卡槽實時溫度與所述加熱片實時溫度的實時溫度差值；