[發明專利]用于微發光二極管基板的線路檢測治具及方法

有效

• 申請號: 201811122244.1
• 申請日: 2018-09-26
• 公開（公告）號: CN109377922B
• 公開（公告）日: 2022-03-08
• 發明（設計）人: 汪志強;王雪絨;馬鑫;孫川;陳雷;高斐;芮博超;鄭金龍
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;北京京東方光電科技有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G01R31/26
• 代理公司: 北京中博世達專利商標代理有限公司 11274
• 代理人: 申健

1.一種用于微發光二極管基板的線路檢測治具，其特征在于，包括檢測光源和液晶板；其中，

所述液晶板用于設置在所述檢測光源和待檢測微發光二極管基板之間，與所述待檢測微發光二極管基板的各組正負電極接觸；

所述檢測光源用于照射所述液晶板，以在向所述待檢測微發光二極管基板的各組正負電極通電之后，根據所述液晶板的透光狀態，檢測所述待檢測微發光二極管基板的各組正負電極的電性連接。

2.根據權利要求1所述的用于微發光二極管基板的線路檢測治具，其特征在于，所述液晶板包括相對設置的第一基底和第二基底，以及填充在所述第一基底和所述第二基底之間的液晶；其中，

所述第一基底面向所述液晶的表面，和/或，所述第二基底面向所述液晶的表面設有配向膜；

所述第一基底和所述第二基底中設有配向膜的任一基底背向所述液晶的表面，用于與所述待檢測微發光二極管基板的各組正負電極接觸。

3.根據權利要求2所述的用于微發光二極管基板的線路檢測治具，其特征在于，所述第一基底和所述第二基底中用于與所述待檢測微發光二極管基板的各組正負電極接觸的基底的厚度≤0.1㎜。

4.根據權利要求2所述的用于微發光二極管基板的線路檢測治具，其特征在于，所述第一基底和所述第二基底之間設有至少一個隔墊物。

5.根據權利要求2-4任一項的用于微發光二極管基板的線路檢測治具，其特征在于，所述液晶包括有色液晶。

6.根據權利要求2-4任一項所述的用于微發光二極管基板的線路檢測治具，其特征在于，所述第一基底和所述第二基底包括透光玻璃基底或透光樹脂基底。

7.一種用于微發光二極管基板的線路檢測方法，其特征在于，包括：

在待檢測微發光二極管基板的表面覆蓋液晶板，所述液晶板與所述待檢測微發光二極管基板的各組正負電極接觸；

點亮設在所述液晶板背向所述待檢測微發光二極管基板的一側的檢測光源，所述檢測光源照射所述液晶板；

向所述待檢測微發光二極管基板的各組正負電極通電，根據所述液晶板的透光狀態，檢測所述待檢測微發光二極管基板的各組正負電極的電性連接。

8.根據權利要求7所述的用于微發光二極管基板的線路檢測方法，其特征在于，

所述液晶板在開態時透光；所述根據所述液晶板的透光狀態，檢測所述待檢測微發光二極管基板的各組正負電極的電性連接的步驟，包括：檢測所述液晶板的透光狀態；如果所述液晶板與各組正負電極對應的部分存在透光區域，則所述透光區域對應的每組正負電極電性導通；如果所述液晶板與各組正負電極對應的部分存在不透光區域，則所述不透光區域對應的每組正負電極電性不導通；

或，所述液晶板在關態時透光；所述根據所述液晶板的透光狀態，檢測所述待檢測微發光二極管基板的各組正負電極的電性連接的步驟，包括：檢測所述液晶板的透光狀態；如果所述液晶板與各組正負電極對應的部分存在透光區域，則所述透光區域對應的每組正負電極電性不導通；如果所述液晶板與各組正負電極對應的部分存在不透光區域，則所述不透光區域對應的每組正負電極電性導通。

9.根據權利要求7或8所述的用于微發光二極管基板的線路檢測方法，其特征在于，所述液晶板包括相對設置的第一基底和第二基底，以及填充在所述第一基底和所述第二基底之間的液晶；其中，所述第一基底面向所述液晶的表面，和/或，所述第二基底面向所述液晶的表面設有配向膜；

所述液晶板與所述待檢測微發光二極管基板的各組正負電極接觸的步驟，包括：所述第一基底和所述第二基底中設有所述配向膜的任一基底背向所述液晶的表面，與所述待檢測微發光二極管基板的各組正負電極接觸。

10.根據權利要求9所述的用于微發光二極管基板的線路檢測方法，其特征在于，所述第一基底和所述第二基底之間設有至少一個隔墊物；

在所述待檢測微發光二極管基板的表面覆蓋所述液晶板時，所述液晶板的每個所述隔墊物均與所述待檢測微發光二極管基板的各組正負電極錯開設置。