[發(fā)明專利]用于物理不可克隆功能產(chǎn)生器的測試方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811094587.1 | 申請日： | 2018-09-19 |
| 公開（公告）號： | CN110579700A | 公開（公告）日： | 2019-12-17 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 呂士濂 | 申請（專利權(quán)）人： | 臺灣積體電路制造股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 11270 北京派特恩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人： | 康艷青;姚開麗 |
| 地址： | 中國臺灣新竹科*** | 國省代碼： | 中國臺灣;TW |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 胞元 產(chǎn)生器 預(yù)配置 胞元陣列 邏輯狀態(tài) 輸出邏輯 物理不可克隆功能 讀取 內(nèi)建自測試 屏蔽電路 數(shù)目確定 組操作 個位 引擎 寫入 測試 檢驗(yàn) | ||
1.一種用于物理不可克隆功能產(chǎn)生器的測試方法，其特征在于，包括：
通過向物理不可克隆功能胞元陣列中的多個位胞元寫入預(yù)配置的邏輯狀態(tài)及從所述多個位胞元讀取輸出邏輯狀態(tài)來檢驗(yàn)所述物理不可克隆功能產(chǎn)生器的功能；
確定所述物理不可克隆功能胞元陣列中的第一位胞元的第一數(shù)目，其中所述第一位胞元的所述輸出邏輯狀態(tài)不同于所述預(yù)配置的邏輯狀態(tài)；
如果所述第一位胞元的所述第一數(shù)目小于第一預(yù)定數(shù)目，則使用所述物理不可克隆功能產(chǎn)生器及屏蔽電路在第一組操作條件下產(chǎn)生第一圖，其中所述第一圖包含至少一個穩(wěn)定位胞元及至少一個不穩(wěn)定位胞元；
使用所述物理不可克隆功能產(chǎn)生器及所述屏蔽電路在第二組操作條件下產(chǎn)生第二圖，其中所述第二圖包含至少一個穩(wěn)定位胞元及至少一個不穩(wěn)定位胞元；
使用內(nèi)建自測試引擎來確定第二位胞元的第二數(shù)目，其中所述第二位胞元在所述第一圖中是穩(wěn)定的且在所述第二圖中是不穩(wěn)定的；
如果所述第二位胞元的所述第二數(shù)目被確定為零，則使用所述內(nèi)建自測試引擎來確定第三位胞元的第三數(shù)目，其中所述第三位胞元在所述第一圖中是穩(wěn)定的且在所述第二圖中是穩(wěn)定的；以及
如果所述第三位胞元的所述第三數(shù)目大于第二預(yù)配置的數(shù)目，則將所述物理不可克隆功能產(chǎn)生器確定為合格的物理不可克隆功能產(chǎn)生器。
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