[發(fā)明專利]一種發(fā)光二極管的外延片的制備方法及外延片有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811093442.X | 申請日: | 2018-09-19 |
| 公開(公告)號: | CN109244199B | 公開(公告)日: | 2020-04-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 曹陽;周盈盈;郭炳磊;喬楠;張武斌;呂蒙普;胡加輝 | 申請(專利權(quán))人: | 華燦光電(蘇州)有限公司 |
| 主分類號: | H01L33/00 | 分類號: | H01L33/00;H01L33/06;H01L33/12 |
| 代理公司: | 北京三高永信知識產(chǎn)權(quán)代理有限責任公司 11138 | 代理人: | 徐立 |
| 地址: | 215600 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 發(fā)光二極管 外延 制備 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種發(fā)光二極管的外延片的制備方法及外延片,屬于發(fā)光二極管技術(shù)領(lǐng)域。襯底上依次生長緩沖層、N型GaN層、復合層、InGaN/GaN多量子阱層與P型GaN層時,復合層中N型低壓AlN層的生長壓力為100~200Torr,此時N型低壓AlN層與N型GaN層連接良好,N型低壓AlN層的生長質(zhì)量得到保證,且未摻雜AlGaN層既含有與AlN層共用的Al原子與N原子,又含有與InGaN/GaN多量子阱層中共用的Ga原子與N原子,因此未摻雜AlGaN層與InGaN/GaN多量子阱層的晶體質(zhì)量都有保證。復合層中的N型低壓AlN層在保證進入InGaN/GaN多量子阱層的電子數(shù)量的同時增大電子進入InGaN/GaN多量子阱層的面積,提高發(fā)光二極管的發(fā)光效率且復合層的整體晶體質(zhì)量較好,發(fā)光二極管的發(fā)光效率能夠得到較大提高。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及發(fā)光二極管技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種發(fā)光二極管的外延片的制備方法及外延片。
背景技術(shù)
發(fā)光二極管具有體積小、壽命長、功耗低等優(yōu)點,目前被廣泛應用于汽車信號燈、交通信號燈、顯示屏以及照明設(shè)備。
現(xiàn)有的發(fā)光二極管的外延片主要包括襯底和依次層疊在襯底上的緩沖層、N型GaN層、N型AlGaN層、InGaN/GaN多量子阱層和P型GaN層,其中N型AlGaN層可作為電子提供源,且由于N型AlGaN層有較高的勢壘,因此N型AlGaN層可在提供電子的同時也起到電流擴展的作用,在保證進入InGaN/GaN多量子阱層的電子數(shù)量的同時增大電子進入InGaN/GaN多量子阱層的面積,提高發(fā)光二極管的發(fā)光效率。
但在N型AlGaN層進行生長時,一方面由于N型AlGaN層與N型GaN層之間存在一定的晶格失配,使N型AlGaN層中會存在部分缺陷,N型AlGaN層中存在的這些缺陷都會對在N型AlGaN層上生長的InGaN/GaN多量子阱層的質(zhì)量造成影響,使得N型AlGaN層的增加對發(fā)光二極管的發(fā)光效率的提高有限。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實施例提供了一種發(fā)光二極管的外延片的制備方法及外延片,能夠進一步提高發(fā)光二極管的發(fā)光效率。所述技術(shù)方案如下:
本發(fā)明實施例提供了一種發(fā)光二極管的外延片的制備方法,所述制備方法包括:
提供一襯底;
在所述襯底上生長緩沖層;
在所述緩沖層上生長N型GaN層;
在所述N型GaN層上生長復合層;
在所述復合層上生長InGaN/GaN多量子阱層;
在所述InGaN/GaN多量子阱層上生長P型GaN層;
其中,所述復合層包括依次生長的N型低壓AlN層與未摻雜AlGaN層,所述N型低壓AlN層的生長壓力為100~200Torr。
可選地,所述復合層的生長厚度為50~180nm。
可選地,所述N型低壓AlN層的生長厚度為25~90nm。
可選地,所述未摻雜AlGaN層的生長厚度為25~90nm。
可選地,在生長所述N型低壓AlN層時:
向反應腔內(nèi)通入100~200sccm的氣態(tài)Al。
可選地,所述N型低壓AlN層中摻雜的Si濃度為1018cm-3~5×1018cm-3。
可選地,所述N型低壓AlN層的生長溫度與所述未摻雜AlGaN層的生長溫度均為800~1100℃。
可選地,在生長所述未摻雜AlGaN層時:
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