[發明專利]一種半導體芯片封裝件及其制造方法在審
| 申請號: | 201811076664.0 | 申請日: | 2018-09-14 |
| 公開(公告)號: | CN110911376A | 公開(公告)日: | 2020-03-24 |
| 發明(設計)人: | 廖童佳;史波;江偉;馬浩華 | 申請(專利權)人: | 珠海格力電器股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L23/495 | 分類號: | H01L23/495;H01L21/52 |
| 代理公司: | 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291 | 代理人: | 黃志華 |
| 地址: | 519070*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 半導體 芯片 封裝 及其 制造 方法 | ||
1.一種半導體芯片封裝件,其特征在于,包括:
引線框架;
設置在所述引線框架上的芯片襯墊;
設置在所述芯片襯墊上的半導體芯片,所述半導體芯片與所述引線框架通過所述芯片襯墊電連接;
所述芯片襯墊的熱膨脹系數大于所述半導體芯片的熱膨脹系數,且所述芯片襯墊的熱膨脹系數小于所述引線框架的熱膨脹系數。
2.如權利要求1所述的半導體芯片封裝件,其特征在于,所述芯片襯墊的熱膨脹系數包括線膨脹系數α,其中,4×10-6/℃≤α≤12×10-6/℃。
3.如權利要求2所述的半導體芯片封裝件,其特征在于,所述芯片襯墊包括芯片襯墊本體,所述芯片襯墊本體材料為鋁碳化硅或陶瓷。
4.如權利要求3所述的半導體芯片封裝件,其特征在于,所述芯片襯墊還包括設置在所述芯片襯墊本體表面的導電層,所述半導體芯片與所述引線框架通過所述導電層電連接。
5.如權利要求4所述的半導體芯片封裝件,其特征在于,所述導電層材料為鎳、銀或銀鎳合金。
6.如權利要求1~5中任一項所述的半導體芯片封裝件,其特征在于,
還包括設置在所述引線框架上的芯片座,所述芯片襯墊粘接在所述芯片座上;
所述半導體芯片與所述芯片座通過所述芯片襯墊電連接。
7.如權利要求6所述的半導體芯片封裝件,其特征在于,
還包括設置在所述引線框架上的若干引腳;
所述半導體芯片包括若干芯片焊盤;
所述若干引腳與所述若干芯片焊盤一一對應并通過鍵合線電連接。
8.如權利要求7所述的半導體芯片封裝件,其特征在于,還包括封裝所述引線框架、所述半導體芯片、所述芯片襯墊、所述鍵合線的封裝層,其中,所述若干引腳的一端外露于所述封裝層。
9.如權利要求7或8所述的半導體芯片封裝件,其特征在于,所述半導體芯片為IGBT芯片。
10.一種如權利要求1所述的半導體芯片封裝件的制造方法,其特征在于,包括以下步驟:
在引線框架上設置芯片襯墊;
在芯片襯墊上設置半導體芯片,且所述半導體芯片與所述引線框架通過所述芯片襯墊電連接;
所述芯片襯墊的熱膨脹系數大于所述半導體芯片的熱膨脹系數,且所述芯片襯墊的熱膨脹系數小于所述引線框架的熱膨脹系數。
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