[發明專利]一種檢測單元

在審

• 申請號: 201811070665.4
• 申請日: 2018-09-13
• 公開（公告）號: CN109269773A
• 公開（公告）日: 2019-01-25
• 發明（設計）人: 王小明
• 申請（專利權）人: 深圳阜時科技有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本申請適用于光學和電子技術領域，提供了一種檢測單元，用于檢測一光學模組內設置的光學元件是否破損。所述光學模組包括光源及光學元件。所述光源發出的光經過光學元件的調制后形成具有特定功能的出射光束。所述檢測單元包括感測器及處理器，所述感測器感測出射光束邊緣部分的光學特性。所述處理器與感測器相連接并根據所述感測器所感測到的出射光束邊緣部分的光學特性來判斷被測光學元件是否存在瑕疵。

技術領域

本申請屬于光學技術領域，尤其涉及一種檢測單元。

背景技術

現有的三維(Three Dimensional,3D)感測模組通常采用發射能量較集中的激光器作為光源來投射感測光圖案，所以一旦設置在光源的出光側用于形成投射光圖案的光學元件出現破損的話，高能量的激光會直接照射到使用者的眼睛上造成損害。

發明內容

本申請所要解決的技術問題在于提供一種檢測單元，可以檢測出所述光學模組使用的光學元件是否完好而避免光源直接傷害到使用者眼睛。

本申請實施方式提供一種檢測單元，用于檢測一光學模組內設置的光學元件是否破損。所述光學模組包括光源及光學元件。所述光源發出的光經過光學元件的調制后形成具有特定功能的出射光束。所述檢測單元包括感測器及處理器，所述感測器感測出射光束邊緣部分的光學特性。所述處理器與感測器相連接并根據所述感測器所感測到的出射光束邊緣部分的光學特性來判斷被測光學元件是否存在瑕疵。

在某些實施方式中，所述處理器將所感測到的出射光束邊緣部分光學特性與預存的被測光學元件完好情況下的標準光學特性進行比較，并在所感測的光學特性與標準光學特性的差異值超出誤差范圍時判斷被測光學元件存在瑕疵。

在某些實施方式中，若所感測的光學特性與標準光學特性相同或差異值在預設的誤差范圍內，則所述處理器判斷被測光學元件為完好的。

在某些實施方式中，所述處理器與光源相連接，所述處理器讓光源保持正常工作狀態，若所述被測光學元件被判斷為存在瑕疵，則所述處理器關閉光源或檢索光源的發光能量。

在某些實施方式中，所述感測器設置在出射光束邊緣部分的傳播路徑上以感測該部分光的光學特性。

在某些實施方式中，所述光學模組還包括設置在光學元件出光側的保護蓋板，所述保護蓋板出光側表面上對應需要感測的出射光束邊緣部分的位置開設有容置凹槽，所述感測器設置在該容置凹槽內并且感測面朝向保護蓋板的入光面，以感測所述出射光束的邊緣部分的光學特性。

在某些實施方式中，所述檢測單元還包括導光結構，所述導光結構將出射光束的邊緣部分導出至感測器。

在某些實施方式中，所述光學模組還包括設置在光學元件出光側的保護蓋板，所述導光結構包括設置在保護蓋板出光側表面上的第一反射膜及設置在保護蓋板入光側表面上的第二反射膜，所述第一反射膜從所要導出的出射光束的邊緣部分在保護蓋板上的出射位置處朝遠離保護蓋板出光區域中心的方向延展，所述第二反射膜靠近出光區域中心的一端比第一反射膜靠近出光區域中心的一端更遠離所述保護蓋板的出光區域中心以將出射光束的邊緣部分從出射光路中偏轉進入第一反射膜與第二反射膜之間往復反射著沿遠離出光區域中心的方向在保護蓋板內傳播。

在某些實施方式中，所述光學模組還包括設置在光學元件出光側的保護蓋板，所述導光結構包括在保護蓋板出光側表面上對應需要導出的出射光束邊緣部分的位置開設有反射凹槽，所述反射凹槽內形成有一反射斜面，所述反射斜面將出射光束的邊緣部分通過全反射沿保護蓋板的長度方向導出，所述感測器設置在保護蓋板較靠近反射凹槽的端部以感測被導出的出射光束的邊緣部分的光學特性。

在某些實施方式中，所述光學特性為與光相關的多種屬性，選自相關光束的強度、波長、亮度、能量分布及所形成的圖案中的一種及其組合。

在某些實施方式中，所述感測器選自光電二極管、光度計及圖像傳感器中的一種及其組合。