[發(fā)明專利]一種斷層多邊形繪制圖自動(dòng)校正方法及裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811069856.9 | 申請(qǐng)日： | 2018-09-13 |
| 公開(kāi)（公告）號(hào)： | CN109325987B | 公開(kāi)（公告）日： | 2023-02-24 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 李昂;張麗艷 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 中國(guó)地質(zhì)調(diào)查局沈陽(yáng)地質(zhì)調(diào)查中心 |
| 主分類(lèi)號(hào)： | G06T11/20 | 分類(lèi)號(hào)： | G06T11/20 |
| 代理公司： | 北京華清迪源知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11577 | 代理人： | 朱紅濤;馮建基 |
| 地址： | 110000 遼寧*** | 國(guó)省代碼： | 遼寧;21 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 斷層 多邊形 繪制 自動(dòng) 校正 方法 裝置 | ||
1.一種斷層多邊形繪制圖自動(dòng)校正方法，其特征在于，所述方法包括：
從原始斷層多邊形繪制圖中獲取預(yù)設(shè)置的多條主測(cè)線中每一條主測(cè)線與斷層多邊形之間的第一交點(diǎn)坐標(biāo)；以及預(yù)設(shè)置的聯(lián)絡(luò)測(cè)線中每一條聯(lián)絡(luò)測(cè)線與斷層多邊形之間的第二交點(diǎn)坐標(biāo)，所述原始斷層多邊形繪制圖為通過(guò)機(jī)器自動(dòng)識(shí)別繪制的斷層多邊形繪制圖；
分別確定所述原始斷層多邊形繪制圖中的兩個(gè)端點(diǎn)對(duì)應(yīng)的平面坐標(biāo)；
根據(jù)所述兩個(gè)端點(diǎn)對(duì)應(yīng)的平面坐標(biāo)，獲取與所述兩個(gè)端點(diǎn)連接后的第一直線對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)數(shù)量的法線；
確定相鄰第一交點(diǎn)和第二交點(diǎn)之間的第二直線與與所述第二直線相交的法線之間的第三交點(diǎn)；
當(dāng)確定所述第三交點(diǎn)位于所述相鄰的第一交點(diǎn)和所述第二交點(diǎn)之間時(shí)，保存所述第三交點(diǎn)，否則遺棄所述第三交點(diǎn)；
統(tǒng)計(jì)所有的第三交點(diǎn)，并獲取所述第三交點(diǎn)的坐標(biāo)；
將所述第三交點(diǎn)的坐標(biāo)劃分為對(duì)稱的上盤(pán)點(diǎn)坐標(biāo)和下盤(pán)點(diǎn)坐標(biāo)；
分別確定所述對(duì)稱的上盤(pán)點(diǎn)坐標(biāo)和下盤(pán)點(diǎn)坐標(biāo)之間的間距，并獲取最大間距；
以所述最大間距對(duì)應(yīng)的上盤(pán)點(diǎn)坐標(biāo)和下盤(pán)點(diǎn)坐標(biāo)為中心對(duì)稱樣點(diǎn)對(duì)，以所述最大間距為基準(zhǔn)間距，按照預(yù)設(shè)規(guī)則降低所述基準(zhǔn)間距后，作為除所述中心對(duì)稱樣點(diǎn)對(duì)之外的對(duì)稱樣點(diǎn)對(duì)之間的間距，調(diào)整所述除所述中心對(duì)稱樣點(diǎn)對(duì)之外的對(duì)稱樣點(diǎn)對(duì)的縱坐標(biāo)，獲取第一斷層多邊形繪制圖，其中，遠(yuǎn)離所述中心對(duì)稱樣點(diǎn)對(duì)的間距逐漸減小，直至為零，所述對(duì)稱樣點(diǎn)對(duì)即為對(duì)稱的上盤(pán)點(diǎn)和下盤(pán)點(diǎn)共同組成的樣點(diǎn)對(duì)；
采用重采樣方法加密所述第一斷層多邊形繪制圖中的樣點(diǎn)；
對(duì)加密后的樣點(diǎn)進(jìn)行平滑處理，獲取最終的斷層多邊形繪制圖。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述兩個(gè)端點(diǎn)對(duì)應(yīng)的平面坐標(biāo)，獲取與所述兩個(gè)端點(diǎn)連接后的第一直線對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)數(shù)量的法線，具體包括：
根據(jù)所述兩個(gè)端點(diǎn)對(duì)應(yīng)的平面坐標(biāo)，確定所述兩個(gè)端點(diǎn)連接后的第一直線；
以所述第一直線上的預(yù)設(shè)點(diǎn)數(shù)中每一個(gè)點(diǎn)為基準(zhǔn)，獲取與所述第一直線對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)數(shù)量的法線。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述預(yù)設(shè)數(shù)量的法線中相鄰兩條法線之間的間距相同。
4.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述預(yù)設(shè)規(guī)則為：
以所述最大間距為基準(zhǔn)間距，減少n乘以i的數(shù)值后，作為所述中心對(duì)稱樣點(diǎn)對(duì)左右兩側(cè)第n對(duì)對(duì)稱樣點(diǎn)對(duì)的間距，n為大于或者等于1且小于或者等于所有對(duì)稱樣點(diǎn)對(duì)總個(gè)數(shù)的二分之一的正整數(shù)，n的取值依次遞增，且遞增間距為1；i為最大間距和n之間的比值，且調(diào)整時(shí)保證每一對(duì)對(duì)稱樣點(diǎn)對(duì)縱向中心不變。
5.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述對(duì)加密后的采樣點(diǎn)進(jìn)行平滑處理，獲取最終的斷層多邊形繪制圖，具體包括：
利用中值濾波或者均值濾波對(duì)所述樣點(diǎn)進(jìn)行平滑處理，獲取最終的斷層多邊形繪制圖。
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