[發明專利]一種LED閃燈類芯片測試系統

在審

• 申請號: 201811067795.2
• 申請日: 2018-09-13
• 公開（公告）號: CN109490747A
• 公開（公告）日: 2019-03-19
• 發明（設計）人: 潘中榮;姜勝林;趙俊;康遠潺;朱錦茂
• 申請（專利權）人: 深圳市卓精微智能機器人設備有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R19/00;G01R23/02
• 代理公司: 深圳市徽正知識產權代理有限公司 44405
• 代理人: 李想

1.一種LED閃燈類芯片測試系統，其特征在于：包括：

MCU模塊；

FPGA模塊；

OS測試模塊，用于檢測IC管腳上的保護二極管是否完好；

IDD測試模塊，用于測試LED閃燈芯片工作時的電流大小，評估芯片工作時的功率損耗；

SINKCURRENT測試模塊，用于測試LED閃燈芯片輸出驅動電流大小；

FREQ測試模塊，用于測量LED閃燈芯片的工作主頻率；

Func功能測試模塊，用于測試LED閃燈芯片工作時的功能是否正常；

USB通信模塊模塊，用于完成電腦端軟件與測試系統間的通信；

TTL通訊接口模塊，用于實現本系統與機械手或分選機設備之間的通訊連接，進行自動化批量生產。

2.根據權利要求1所述的一種LED閃燈類芯片測試系統，其特征在于：所述FPGA模塊為INTELFPGAEP4CE6E22器件，INTELFPGAEP4CE6E22器件采用TQFP144封裝，使用外部FLASH芯片進行配置，FPGA模塊采用外部時鐘、配置電路、下載電路與濾波電路。

3.根據權利要求1所述的一種LED閃燈類芯片測試系統，其特征在于：所述MCU模塊為STM32F103芯片，MCU模塊通過USB接口與電腦端軟件通訊，通過TTL接口模塊與外部機械手自動化設備通訊，通過USB接口與FPGA模塊連接，實現FREQ和FUNC的測試模塊，MCU與FPGA之間采用串行接口連接。

4.根據權利要求1所述的一種LED閃燈類芯片測試系統，其特征在于：所述IC管腳上的保護二極管主要作用是保護IC管腳不被正向或反向高壓擊穿而損壞，測試時通過向測試管腳施加電流實現對電壓的測試。

5.根據權利要求3所述的一種LED閃燈類芯片測試系統，其特征在于：所述STM32F103芯片通過TTL接口與機械手連接，IDD測試模塊使用PMU模塊給測試IC供電，測試其工作電流。

6.根據權利要求1所述的一種LED閃燈類芯片測試系統，其特征在于：所述FREQ測試模塊用一段小的標準時間來量取大的待測時鐘的周期，進而計算出頻率。

7.根據權利要求1所述的一種LED閃燈類芯片測試系統，其特征在于：所述USB通信模塊包括I2C總線接口與8個額外的中斷，所述FUNC功能測試模塊內設有LM339芯片，LM339芯片用于進行電平轉換并變換成方波后，將信號送至FPGA模塊進行FUNC功能測試。