[發明專利]目標修正碼確定方法、裝置、電子設備及存儲介質

有效

• 申請號: 201811063600.7
• 申請日: 2018-09-12
• 公開（公告）號: CN110895645B
• 公開（公告）日: 2022-04-19
• 發明（設計）人: 不公告發明人
• 申請（專利權）人: 長鑫存儲技術有限公司
• 主分類號: G06F30/39
• 分類號: G06F30/39
• 代理公司: 北京律智知識產權代理有限公司 11438
• 代理人: 袁禮君;闞梓瑄

本公開是關于一種目標修正碼確定方法、裝置、電子設備和存儲介質，涉及集成電路技術領域，該方法包括：將修正碼陣列以及所述修正碼陣列關聯的修正值進行單調化處理，以得到單調化排序的修正碼陣列；在所述修正值的修正成功范圍內設置一目標值，所述目標值包括參考值以及預設誤差范圍；通過二分法對單調化排序的修正碼陣列中每個修正碼關聯的修正值進行測試得到測量值，并根據滿足所述目標值或滿足所述修正成功范圍的測量值對應的修正碼確定所述目標修正碼。本公開能夠避免芯片良率損失，提高芯片質量。

技術領域

本公開涉及集成電路技術領域，具體而言，涉及一種目標修正碼確定方法、目標修正碼確定裝置、電子設備及計算機可讀存儲介質。

背景技術

隨著集成電路設計與工藝技術的發展，電路性能要求越來越高。但是，電路性能總可能受到半導體制造工藝的非理想因素的影響，使芯片之間存在著不同程度的偏差。因此，在集成電路測試期間通常需要通過熔絲修調來使芯片趨向于同一標準。

一般而言，通常利用探針將大電流加至熔絲上，從而燒斷集成電路中的熔絲，以達到修調基準電壓或者是基準電流、頻率的目的。相關技術中，一般通過擬合公式計算法確定要燒調或修正的熔絲的修正碼Trim Code，如圖1所示。這種方法中由于芯片差異，使得部分芯片不能修正到底，此時有可能會造成可修正的芯片沒有修正成功，造成良率損失；而修正成功的芯片的修正碼也不一定是最佳的，從而降低了芯片質量。

需要說明的是，在上述背景技術部分公開的信息僅用于加強對本公開的背景的理解，因此可以包括不構成對本領域普通技術人員已知的現有技術的信息。

發明內容

本公開的目的在于提供一種目標修正碼確定方法、目標修正碼確定裝置、電子設備及計算機可讀存儲介質，進而至少在一定程度上克服由于相關技術的限制和缺陷而導致的芯片良率損失以及芯片質量差的問題。

本公開的其他特性和優點將通過下面的詳細描述變得顯然，或部分地通過本公開的實踐而習得。

根據本公開的一個方面，提供一種目標修正碼確定方法，包括：將修正碼陣列以及所述修正碼陣列關聯的修正值進行單調化處理，以得到單調化排序的修正碼陣列；在所述修正值的修正成功范圍內設置一目標值，所述目標值包括參考值以及預設誤差范圍；通過二分法對單調化排序的修正碼陣列中每個修正碼關聯的修正值進行測試得到測量值，并根據滿足所述目標值或滿足所述修正成功范圍的測量值對應的修正碼確定所述目標修正碼。

在本公開的一種示例性實施例中，將修正碼陣列以及所述修正碼陣列關聯的修正值進行單調化處理，以得到單調化排序的修正碼陣列包括：將所述修正碼陣列中的所有修正碼轉化為修正碼補碼；根據按照預設順序排列的所述修正碼補碼，對所有修正碼重新進行排序，以得到單調化排序的修正碼陣列；其中，所述修正值與所述修正碼補碼正相關或負相關。

在本公開的一種示例性實施例中，所述修正碼陣列中的每個修正碼分別對應一個修正碼標志，且所述修正碼標志與所述修正值正相關或負相關。

在本公開的一種示例性實施例中，通過二分法對單調化排序的修正碼陣列中每個修正碼關聯的修正值進行測試得到測量值包括：獲取所述單調化排序的修正碼陣列；根據單調化排序的修正碼陣列中所述修正碼標志的起始值和結束值確定待測試標志；采用二分法對所述待測試標志表示的修正碼關聯的修正值進行測試，以得到所述測量值。

在本公開的一種示例性實施例中，根據滿足所述目標值或滿足所述修正成功范圍的測量值對應的修正碼確定所述目標修正碼包括：若所述測量值滿足所述目標值，則將所述測量值對應的修正碼確定為所述目標修正碼。

在本公開的一種示例性實施例中，所述方法還包括：若所述測量值不滿足所述目標值，則判斷單調化排列的修正碼陣列包含的修正碼標志的起始值是否大于等于結束值；根據所述起始值是否大于等于所述結束值，確定所述目標修正碼。