[發明專利]一種發光二極管的外延片及其制備方法在審
| 申請號: | 201811063187.4 | 申請日: | 2018-09-12 |
| 公開(公告)號: | CN109244203A | 公開(公告)日: | 2019-01-18 |
| 發明(設計)人: | 顧俊;胡任浩;韋春余;胡加輝;周飚 | 申請(專利權)人: | 華燦光電(蘇州)有限公司 |
| 主分類號: | H01L33/12 | 分類號: | H01L33/12;H01L33/00 |
| 代理公司: | 北京三高永信知識產權代理有限責任公司 11138 | 代理人: | 徐立 |
| 地址: | 215600 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 低溫GaN層 發光二極管 晶格常數 晶格失配 外延片 晶胞 制備 生長 表面平整性 發光效率 晶體缺陷 層結構 外延層 原有的 減小 保證 緩解 制造 | ||
本發明公開了一種發光二極管的外延片及其制備方法,屬于發光二極管制造領域。設置在AlN層與低溫GaN層之間的InxAl1?xN層,在x的范圍為0.16~0.18時,一方面由于InxAl1?xN層結構中與AlN層結構中有共用的Al原子與N原子,由此可保證InxAl1?xN層在AlN層上的良好連接與生長,InxAl1?xN層本身的質量與表面平整性較好;另一方面,此時InxAl1?xN層中晶胞的晶格常數與低溫GaN層中晶胞的晶格常數較為接近,二者之間的晶格失配較小,可得到在InxAl1?xN層上生長的晶體質量良好的低溫GaN層。InxAl1?xN層緩解了AlN層與低溫GaN層之間原有的晶格失配,起到連接AlN層與低溫GaN層的同時也可保證最終生長得到的低溫GaN層的質量、減小外延層中晶體缺陷的作用,進而可提高發光二極管的整體質量,進一步提高發光二極管的發光效率。
技術領域
本發明涉及發光二極管制造領域,特別涉及一種發光二極管的外延片及其制備方法。
背景技術
發光二極管是一種可以把電能轉化成光能的半導體二極管,具有體積小、壽命長、功耗低等優點,目前被廣泛應用于汽車信號燈、交通信號燈、顯示屏以及照明設備。外延片是制作發光二極管的基礎結構,外延片的結構包括襯底及在襯底上生長出的外延層。其中,外延層的結構主要包括:依次生長在襯底上的AlN層、低溫GaN層、未摻雜GaN層、N型GaN層、有源層及P型GaN層。
AlN層、低溫GaN層與未摻雜GaN層可緩解襯底與N型GaN層之間的晶格失配,減小外延層中由襯底與N型GaN層之間的晶格失配引起的缺陷,提高發光二極管的晶體質量,進而提高發光二極管的發光效率。但由于AlN層與低溫GaN層之間同樣存在一定的晶格失配,AlN層與低溫GaN層之間的晶格失配也會給外延層帶來質量缺陷,使得發光二極管的發光效率沒有得到較大提高。
發明內容
本發明實施例提供了一種發光二極管的外延片及其制備方法,能夠進一步提高發光二極管的發光效率。所述技術方案如下:
本發明實施例提供了一種發光二極管的外延片,所述外延片包括襯底及依次層疊設置在所述襯底上的AlN層、InxAl1-xN層、低溫GaN層、未摻雜GaN層、N型GaN層、有源層及P型GaN層,其中,0.16≤x≤0.18。
可選地,所述InxAl1-xN層的厚度為20~30nm。
可選地,所述AlN層的厚度為5~10nm。
本發明實施例提供了一種發光二極管的外延片的制備方法,所述制備方法包括:
提供一襯底;
在所述襯底上生長AlN層;
在所述AlN層上生長InxAl1-xN層,其中,0.16≤x≤0.18;
在所述InxAl1-xN層上生長低溫GaN層;
在所述低溫GaN層上生長未摻雜GaN層;
在所述未摻雜GaN層上生長N型GaN層;
在所述N型GaN層上生長有源層;
在所述有源層上生長P型GaN層。
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