[發明專利]測試間中的具有不同外觀尺寸的被測裝置的自動化搬運

有效

• 申請號: 201811039847.5
• 申請日: 2018-09-06
• 公開（公告）號: CN110877800B
• 公開（公告）日: 2023-02-21
• 發明（設計）人: 羅蘭德·沃夫
• 申請（專利權）人: 愛德萬測試株式會社
• 主分類號: B65G1/04
• 分類號: B65G1/04;B65G1/137;B65G47/91
• 代理公司: 深圳新創友知識產權代理有限公司 44223
• 代理人: 江耀純

公開一種用于使用自動測試設備(ATE)執行測試的系統。所述系統包括機器人，所述機器人包括用于拾取DUT并將所述DUT轉入和轉出基塊中的測試槽的末端執行器。所述系統進一步包括系統控制器，所述系統控制器包括存儲器和處理器并用于控制所述機器人。并且，所述系統包括測試機架，所述測試機架包括多個基塊，其中所述基塊是包括用于對多個DUT進行測試的多個槽的模塊化裝置，并且其中所述機器人配置成使用所述末端執行器接近所述測試機架內的所述多個基塊中的槽。

相關申請的交叉引用

本申請涉及2017年3月9日提交的名稱為“使用利用環境空氣的雙風扇冷卻的裝置測試”第15/455,103號美國專利申請，所述申請將Roland Wolff指定為發明人，且代理人案號為ATSY-0046-01.01US。所述申請出于所有目的以全文引用的方式并入本文中。

技術領域

本申請涉及自動測試設備的領域，且更具體來說，涉及關于此類設備的自動化搬運的技術。

背景技術

自動測試設備(Automated test equipment，ATE)可為對半導體晶片或裸片、集成電路(IC)、電路板或例如固態驅動器的封裝裝置進行測試的任何測試組合件。ATE組合件可用于執行自動化測試，所述自動化測試快速執行測量并生成隨后可進行分析的測試結果。ATE組合件的范圍可從耦合到計量器的計算機系統到可包含定制的專用計算機控制系統和能夠自動測試電子部件和/或半導體晶片測試(例如，片上系統(SOC)測試或集成電路測試)的多個不同測試儀器的復雜的自動化測試組合件。ATE系統既減少了花費在測試裝置以確保裝置像所設計得那樣工作上的時間量，還可用作在給定裝置到達用戶之前確定故障組件在所述給定裝置內的存在情況的診斷工具。

當典型的ATE系統對裝置(通常被稱為被測裝置或DUT(device under test))進行測試時，ATE系統向所述裝置施加刺激(例如，電信號)并檢查所述裝置的響應(例如，電流和電壓)。通常，測試的最終結果是如果裝置成功提供在預先建立的容差內的特定預期響應，則為“合格”，或是如果裝置沒有提供在預先建立的容差內的預期響應，則為“不合格”。更復雜的ATE系統能夠評估發生故障的裝置，以潛在地確定發生故障的一個或多個原因。

ATE系統普遍包含計算機來引導ATE系統的操作。通常，計算機運行一個或多個專用軟件程序以提供：(i)測試開發環境，和(ii)裝置測試環境。在測試開發環境中，用戶通常創建測試程序，即，控制ATE系統的各個部分的具有一個或多個文件的基于軟件的構造。在裝置測試環境中，用戶通常向ATE系統提供一個或多個裝置以進行測試，并且根據測試程序引導ATE系統對每個裝置進行測試。用戶可以通過簡單地向ATE系統提供額外裝置并根據測試程序引導ATE系統對所述額外裝置進行測試來對額外裝置進行測試。因此，ATE系統使得用戶能夠基于測試程序以一種一致的自動化方式對多個裝置進行測試。

在典型的現有技術測試環境中，DUT被放到受控制的環境箱或“烘箱”中。DUT連接到測試頭的測試片。若干個DUT可連接到單個測試片，且單個測試箱可含有若干個測試片。測試片含有根據測試方案對DUT進行測試的測試電路。當DUT在烘箱中時，用戶不能接觸DUT，以免干擾箱內的受控制環境。當在箱內時，即使某一DUT測試結束得早，也不能在所有測試完成之前將其移除。然后，可以接近箱。

與此測試環境相關聯的一個問題是環境箱的內部在測試期間不可接近，如果正在使用烘箱中的作用中的測試片進行測試，那么這種不可接近會導致某些測試片閑置。另一問題是常規的測試環境通常需要將DUT手動插入測試片和從測試片手動移除DUT，這是不利的，因為它費時、易出錯，且在手動搬運期間可能會損壞DUT。另外，DUT在大批量生產環境中的手動插入和移除明顯效率低下且容易出錯。

發明內容