[發明專利]一種數據處理方法及處理設備

在審

• 申請號: 201811029186.8
• 申請日: 2018-09-03
• 公開（公告）號: CN109254550A
• 公開（公告）日: 2019-01-22
• 發明（設計）人: 吳剛;黃丹昱
• 申請（專利權）人: 深圳市智物聯網絡有限公司
• 主分類號: G05B19/042
• 分類號: G05B19/042
• 代理公司: 深圳市深佳知識產權代理事務所(普通合伙) 44285
• 代理人: 王仲凱

本申請提供了一種數據處理方法及處理設備，用于預測工業設備的第一參數，進而可預測工業設備的工作狀態。本申請提供的數據處理方法包括：處理設備獲取工業設備對應的第一參數樣本以及第二參數樣本，第一參數樣本為第一參數的實測值的集合，第二參數樣本為第二參數的實測值的集合，第一參數以及第二參數分別與工業設備對應；處理設備根據第一參數樣本以及第二參數樣本，進行一元線性回歸分析處理，得到對應的一元線性回歸函數，一元線性回歸函數用于指示第一參數與第二參數之間的數量關系，第一參數為因變量，第二參數為自變量；處理設備根據一元線性回歸函數，預測第一參數。

技術領域

本申請涉及物聯網領域，尤其涉及一種數據處理方法及處理設備。

背景技術

物聯網的概念隨著相關技術的不斷發展以及用戶需求的不斷更新，在實際生活中的應用上也不斷落實。

如何對接入物聯網的相關設備的設備數據進行合理分析，在物聯網的應用中處于關鍵的一環。

然而，在工業物聯網領域中，如何對工業設備上的數據進行合理處理，仍然需要進一步的優化。

發明內容

本申請提供了一種數據處理方法及處理設備，用于預測工業設備的第一參數，進而可預測工業設備的工作狀態。

本申請在第一方面，提供一種數據處理方法，包括：

處理設備獲取工業設備對應的第一參數樣本以及第二參數樣本，第一參數樣本為第一參數的實測值的集合，第二參數樣本為第二參數的實測值的集合，第一參數以及第二參數分別與工業設備對應；

處理設備根據第一參數樣本以及第二參數樣本，進行一元線性回歸分析處理，得到對應的一元線性回歸函數，一元線性回歸函數用于指示第一參數與第二參數之間的數量關系，第一參數為因變量，第二參數為自變量；

處理設備根據一元線性回歸函數，預測第一參數。

結合本申請第一方面，在本申請第一方面第一種可能的實現方式中，第二參數包括時間參數。

結合本申請第一方面，在本申請第一方面第二種可能的實現方式中，方法還包括：

處理設備根據一元線性回歸函數，判斷第二參數是否對第一參數具有顯著性的影響；

當處理設備判斷第二參數對第一參數具有顯著性的影響時，觸發處理設備根據一元線性回歸函數，預測第一參數。

結合本申請第一方面第二種可能的實現方式，在本申請第一方面第三種可能的實現方式中，在觸發處理設備根據一元線性回歸函數，預測第一參數之前，方法還包括：

處理設備根據置信水平以及一元線性回歸函數，進行第一參數的置信區間估計。

結合本申請第一方面，在本申請第一方面第四種可能的實現方式中，方法還包括：

處理設備根據第一參數的預測結果，控制工業設備的工作狀態。

本申請在第二方面，提供一種處理設備，包括：

獲取單元，用于獲取工業設備對應的第一參數樣本以及第二參數樣本，第一參數樣本為第一參數的實測值的集合，第二參數樣本為第二參數的實測值的集合，第一參數以及第二參數分別與工業設備對應；

處理單元，用于根據第一參數樣本以及第二參數樣本，進行一元線性回歸分析處理，得到對應的一元線性回歸函數，一元線性回歸函數用于指示第一參數與第二參數之間的數量關系，第一參數為因變量，第二參數為自變量；

預測單元，用于根據一元線性回歸函數，預測第一參數。

結合本申請第二方面，在本申請第二方面第一種可能的實現方式中，第二參數包括時間參數。