[發明專利]磁瓦崩缺區域的識別方法及裝置

有效

• 申請號: 201811020229.6
• 申請日: 2018-09-03
• 公開（公告）號: CN109211919B
• 公開（公告）日: 2021-04-30
• 發明（設計）人: 朱元豐;宋明岑;邱豪強
• 申請（專利權）人: 珠海格力智能裝備有限公司;珠海格力電器股份有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G06T7/00;G06T7/11
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 趙囡囡;董文倩

本發明公開了一種磁瓦崩缺區域的識別方法及裝置。其中，該方法包括：獲取待檢測的磁瓦產品的磁瓦產品圖像；通過預定方式獲取磁瓦產品圖像中的磁瓦檢測區域；通過傅里葉變換方式確定磁瓦檢測區域內的特征區域，其中，特征區域是磁瓦產品中存在崩缺的區域；對特征區域進行圖像增強處理，并基于圖像增強處理后的特征區域確定磁瓦產品中的崩缺區域。本發明解決了相關技術中采用人工方式對磁瓦產品的崩缺缺陷進行檢測導致的檢測結果的可靠性較低的技術問題。

技術領域

本發明涉及視覺檢測技術領域，具體而言，涉及一種磁瓦崩缺區域的識別方法及裝置。

背景技術

磁瓦產品的一致性較差，表面拉絲紋理特征和顏色均勻性不好，而目前對于磁瓦的表面崩缺缺陷的檢測還主要依賴于人工目視抽檢，不僅導致磁瓦產品的檢測效率較低，無法精準地檢測到磁瓦產品的崩缺缺陷。另外一個方面人工無法長時間集中精力對焦微小崩缺缺陷，會導致磁瓦產品檢測結果中誤判率較高。

針對上述相關技術中采用人工方式對磁瓦產品的崩缺缺陷進行檢測導致的檢測結果的可靠性較低的問題，目前尚未提出有效的解決方案。

發明內容

本發明實施例提供了一種磁瓦崩缺區域的識別方法及裝置，以至少解決相關技術中采用人工方式對磁瓦產品的崩缺缺陷進行檢測導致的檢測結果的可靠性較低的技術問題。

根據本發明實施例的一個方面，提供了一種磁瓦崩缺區域的識別方法，包括：獲取待檢測的磁瓦產品的磁瓦產品圖像；通過預定方式獲取所述磁瓦產品圖像中的磁瓦檢測區域；通過傅里葉變換方式確定所述磁瓦檢測區域內的特征區域，其中，所述特征區域是所述磁瓦產品中存在崩缺的區域；對所述特征區域進行圖像增強處理，并基于圖像增強處理后的特征區域確定所述磁瓦產品中的崩缺區域。

可選地，獲取待檢測的磁瓦產品的磁瓦產品圖像包括：獲取所述磁瓦產品所在的原始圖像；通過特定方式對所述原始圖像進行預處理；從預處理后的原始圖像中提取所述磁瓦產品圖像。

可選地，通過預定方式獲取所述磁瓦產品圖像中的磁瓦檢測區域包括：確定所述磁瓦產品在所述磁瓦產品圖像中的角度；根據所述角度對所述磁瓦產品圖像進行旋轉操作；在確定進行旋轉操作后的磁瓦產品圖像滿足預定條件時，從磁瓦產品圖像中分割出磁瓦檢測區域，其中，所述預定條件為所述磁瓦產品的最小外包矩形平行于所述磁瓦產品圖像所在的坐標系。

可選地，在通過傅里葉變換方式確定所述磁瓦檢測區域內的特征區域之前，該磁瓦崩缺區域的識別方法還包括：通過均衡直方圖像圖像增強方式對所述磁瓦檢測區域進行圖像增強。

可選地，通過傅里葉變換方式確定所述磁瓦檢測區域內的特征區域包括：通過傅里葉變換方式將磁瓦檢測區域對應的第一時域圖像轉換成頻率域圖像；對所述頻率域圖像進行過濾；將過濾后的頻率域圖像轉換為第二時域圖像，得到所述特征區域。

可選地，對所述特征區域進行圖像增強處理包括：對所述特征區域進行區域劃分，得到第一特征區域和第二特征區域；對所述第一特征區域進行指數函數圖像增強得到第一特征圖像，并對所述第二特征區域進行對數函數圖像增強得到第二特征圖像。

可選地，基于圖像增強處理后的特征區域確定所述磁瓦產品中的崩缺區域包括：在第一特征圖像和第二特征圖像的灰度值滿足預設條件的情況下，將所述第一特征圖像和所述第二特征圖像相減，得到所述崩缺區域，其中，所述預設條件為圖像灰度值在0到255范圍之間。

可選地，在基于圖像增強處理后的特征區域確定所述磁瓦產品中的崩缺區域之后，該磁瓦崩缺區域的識別方法還包括：提取所述磁瓦產品中的崩缺區域；將所述崩缺區域擬合到磁瓦產品圖像上。