[發(fā)明專利]凹印版輥表面缺陷智能檢測(cè)的缺陷確認(rèn)方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201811012380.5
• 申請(qǐng)日: 2018-08-31
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN109374628A
• 公開(kāi)（公告）日: 2019-02-22
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 虞朝陽(yáng);龐也馳;趙鵬飛;葉壯志;魯國(guó)成;穆明;梁革偉;來(lái)燕;李志杰;芮潔
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國(guó)印刷科學(xué)技術(shù)研究院有限公司
• 主分類號(hào): G01N21/88
• 分類號(hào): G01N21/88
• 代理公司: 北京科龍寰宇知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11139
• 代理人: 孫皓晨;李林

1.一種凹印版輥表面缺陷智能檢測(cè)的缺陷確認(rèn)方法，其特征是包括如下步驟：

A、版輥表面掃描圖像：得到疑似缺陷的掃描數(shù)據(jù)，對(duì)疑似缺陷進(jìn)行下述步驟B、步驟C、步驟D的判斷；

B、通過(guò)灰度值判斷疑似缺陷：設(shè)定一個(gè)灰度極限值X，且20≤X≤200，判斷該疑似缺陷的灰度值≤X是否為真；

C、通過(guò)面積判斷疑似缺陷：設(shè)定一個(gè)面積極限值S，且1≤S≤5像素²，判斷該疑似缺陷的面積≥X是否為真；

D、通過(guò)周長(zhǎng)判斷疑似缺陷：設(shè)定一個(gè)周長(zhǎng)極限值C，且10≤C≤60像素，判斷該疑似缺陷的周長(zhǎng)≥C是否為真；

若步驟B、步驟C、步驟D中任意一個(gè)步驟判斷的結(jié)果為假，則將該疑似缺陷歸類為非缺陷；若步驟B、步驟C以及步驟D的判斷結(jié)果均為真，則將該疑似缺陷歸類為真實(shí)缺陷。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的凹印版輥表面缺陷智能檢測(cè)的缺陷確認(rèn)方法，其特征在于，在步驟A中，采用下述非缺陷排除方法：

(1)對(duì)版輥的待檢測(cè)表面進(jìn)行擦拭，然后對(duì)該待檢測(cè)表面進(jìn)行第一次掃描，將掃描圖像上的瑕疵部分視為疑似缺陷，并記錄該疑似缺陷上的某特征點(diǎn)的原橫坐標(biāo)與原縱坐標(biāo)；

(2)再次對(duì)版輥的待檢測(cè)表面進(jìn)行擦拭，然后對(duì)該待檢測(cè)表面進(jìn)行第二次掃描，并再次采集待檢測(cè)表面上的該疑似缺陷上的特征點(diǎn)的新橫坐標(biāo)與新縱坐標(biāo)；

(3)用新橫坐標(biāo)減去原橫坐標(biāo)并取絕對(duì)值，得到橫坐標(biāo)位移；用新縱坐標(biāo)減去原縱坐標(biāo)并取絕對(duì)值，得到縱坐標(biāo)位移；

(4)設(shè)定橫坐標(biāo)位移的第一閾值，并設(shè)定縱坐標(biāo)位置的第二閾值；

(5)若該疑似缺陷的橫坐標(biāo)位移大于或等于第一閾值，或者該疑似缺陷的縱坐標(biāo)位移大于或等于第二閾值，則將該疑似缺陷標(biāo)記為非缺陷；若該疑似缺陷的橫坐標(biāo)位移小于第一閾值，并且該疑似缺陷的縱坐標(biāo)位移小于第二閾值，則將該疑似缺陷轉(zhuǎn)至步驟B進(jìn)行下一步判斷。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的凹印版輥表面缺陷智能檢測(cè)的缺陷確認(rèn)方法，其特征在于：所述特征點(diǎn)是疑似缺陷中最靠左、右、上或下的點(diǎn)，或者是幾何中心點(diǎn)。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的凹印版輥表面缺陷智能檢測(cè)的缺陷確認(rèn)方法，其特征在于：所述橫坐標(biāo)的方向是沿版輥的長(zhǎng)度方向，所述縱坐標(biāo)的方向垂直于版輥的長(zhǎng)度方向。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的凹印版輥表面缺陷智能檢測(cè)的缺陷確認(rèn)方法，其特征在于：所述第一閾值選取在1-10像素之間；所述第二閾值選取在1-100像素之間。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的凹印版輥表面缺陷智能檢測(cè)的缺陷確認(rèn)方法，其特征在于：所述步驟B、步驟C以及步驟D的次序任意排列。