[發明專利]反應堆控制棒測量數據獲得方法及微分價值獲取方法

在審

• 申請號: 201810985255.6
• 申請日: 2018-08-28
• 公開（公告）號: CN109166639A
• 公開（公告）日: 2019-01-08
• 發明（設計）人: 盤世標
• 申請（專利權）人: 中國核動力研究設計院
• 主分類號: G21C17/10
• 分類號: G21C17/10
• 代理公司: 成都行之專利代理事務所(普通合伙) 51220
• 代理人: 高俊

本發明公開了一種反應堆控制棒測量數據獲得方法及微分價值獲取方法，所述數據獲得方法中，通過逐步下插被測控制棒，向堆內注入脈沖中子，分析中子探測器采集到的數據得到泄漏中子衰減曲線，所述微分價值獲取方法中，通過所述泄漏中子衰減曲線得到控制棒的微分價值，實現了在次臨界狀態下控制棒的微分價值測量。以上過程中，不需要頻繁倒棒，操作簡便安全，縮短了測量時間，提高了效率，避免了傳統控制棒微分價值測量在臨界狀態頻繁倒棒，耗時費力的缺點，即避免了測量過程中的不利影響因素也有利于核系統安全，有利于提高測量結果的準確度。

技術領域

本發明涉及反應堆零功率物理實驗測量技術領域，特別是涉及一種反應堆控制棒測量數據獲得方法及微分價值獲取方法。

背景技術

在零功率物理實驗研究中，控制棒微分價值測量一般采用周期法進行。測量時反應堆處于臨界狀態，并且需要穩定在一定的功率水平，待測控制棒逐級往上提升，周圍控制棒進行補償。同時，考慮到反應堆周期運行限值的要求，每次引入的反應性在100pcm左右，一組大當量反應性的控制棒通常需要進行幾十甚至上百個點的測量，每個測量點都在臨界狀態下進行穩功率、倒棒操作，操縱員除了關注反應堆上的周期、功率、棒位等參數外，還需及時與測量人員進行交流，并按測量要求進行切換棒，精神時刻保持在一種高度專注試驗狀態中，對反應堆的安全運行是一種不利因素。

發明內容

針對上述提出的現有技術中控制棒微分價值測量中存在的程序繁瑣、需要控制的參數多等問題，本發明提供了一種反應堆控制棒測量數據獲得方法及微分價值獲取方法，采用該數據獲得方法，相較于現有技術不僅簡化了程序，縮短測量時間，同時可提高反應堆操作的安全性；該微分價值獲取方法基于上述數據獲得方法，在相較于現有技術不僅可簡化程序、縮短測量時間、利于操作反應堆的安全性，同時可減少測量過程中的不利影響因素，提高測量精度。

為達到上述目的，本發明提供的反應堆控制棒測量數據獲得方法及微分價值獲取方法通過以下技術要點來解決問題：反應堆控制棒測量數據獲得方法，該測量數據獲得方法用于獲得用于反應堆控制棒微分價值獲取的原始數據，所述測量數據獲得方法包括控制棒微分價值刻度步驟及數據獲得步驟：

所述控制棒微分價值刻度步驟為：在待測控制棒上確定N個測點，沿著待測控制棒的高度方向，N個測點依次為1、2...N，N個測點對應N個棒位：依次為1棒位、2棒位...N棒位，各測點依次所對應的棒位棒高為：h₁、h₂...h_N；所述數據獲得步驟為：

將待測控制棒提升至頂，其他控制棒調臨界，所述其他控制棒調臨界為：利用其它控制棒，調節反應堆為臨界狀態；

利用對稱布置在堆芯的脈沖中子發生器和中子探測器，將脈沖中子發生器的輸入頻率調節至全部瞬發中子衰減完畢，緩發中子進入本底水平，所述對稱布置為脈沖中子發生器和中子探測器兩者相對于反應堆的軸線軸對稱；

下插待測控制棒至i棒位，調節脈沖中子發生器的靶壓向堆芯注入脈沖中子，在堆芯的另一側用中子探測器測量堆芯泄漏中子，所述1≤i≤N,所述i、N均為大于0的整數；

根據中子探測器在待測控制棒下插至各棒位時所獲得的測量值，得到泄漏中子衰減曲線。

現有技術中，針對控制棒微分價值測量，除了上述所提及需要針對幾十甚至上百個點進行測量，同時針對每個測量點都需要在臨界狀態下進行穩功率、倒棒操作，存在程序繁瑣、所需要控制的參數多等問題。除此以外，傳統測量方法在進行微分價值測量過程中，由于每個測量步長都需進行調臨界和升功率，頻繁的倒棒可改變待測控制棒周圍的中子注量率分布，從而影響待測控制棒各個點微分價值，對測量結果產生不利影響。