[發(fā)明專利]磁場(chǎng)輔助紫外光氧化實(shí)現(xiàn)石墨烯薄膜圖案化方法及其裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810981805.7 | 申請(qǐng)日: | 2018-08-27 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN110862083A | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-03-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陶海華;蘇樹(shù)彬;黎浩;陳險(xiǎn)峰;錢(qián)冬 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海交通大學(xué) |
| 主分類號(hào): | C01B32/194 | 分類號(hào): | C01B32/194 |
| 代理公司: | 上海漢聲知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31236 | 代理人: | 莊文莉 |
| 地址: | 200240 *** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 磁場(chǎng) 輔助 紫外 光氧化 實(shí)現(xiàn) 石墨 薄膜 圖案 方法 及其 裝置 | ||
1.一種磁場(chǎng)輔助紫外光氧化實(shí)現(xiàn)石墨烯薄膜圖案化方法,其特征在于,包括如下步驟:
步驟1:在紫外光氧化真空設(shè)備的樣品架(8)上放置磁場(chǎng)發(fā)生裝置,將紫外光氧化真空設(shè)備的磁場(chǎng)調(diào)至預(yù)設(shè)磁場(chǎng);
所述預(yù)設(shè)磁場(chǎng)為反應(yīng)腔室內(nèi)的磁場(chǎng)、反應(yīng)腔室內(nèi)的磁場(chǎng)梯度方向均垂直于樣品架(8);
步驟2:將表面放置有掩模版(14)的樣品(13)置于樣品架(8)上,調(diào)整樣品架(8)與光源(6)的距離至預(yù)設(shè)距離;
步驟3:將反應(yīng)腔室(1)內(nèi)的空氣排出;當(dāng)?shù)竭_(dá)預(yù)設(shè)條件后,關(guān)閉腔室閥門(mén)或充入氮?dú)猓婚_(kāi)啟紫外光源并照射樣品(13),控制照射時(shí)間;
步驟4:照射結(jié)束后,將反應(yīng)腔室(1)內(nèi)氣體排出;通過(guò)氮?dú)馊肟?2)通入氮?dú)馊〕鰳悠?13)或通過(guò)水汽入口(3)通入水汽開(kāi)啟磁場(chǎng)輔助紫外光氧化,完成對(duì)薄膜圖案化的制備。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁場(chǎng)輔助紫外光氧化實(shí)現(xiàn)石墨烯薄膜圖案化方法,其特征在于,所述預(yù)設(shè)條件為真空度超過(guò)1Pa以上時(shí),通入水汽至600Pa。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁場(chǎng)輔助紫外光氧化實(shí)現(xiàn)石墨烯薄膜圖案化方法,其特征在于,所述反應(yīng)腔室(1)頂端的光源(6)發(fā)射波長(zhǎng)范圍為120至240nm。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁場(chǎng)輔助紫外光氧化實(shí)現(xiàn)石墨烯薄膜圖案化方法,其特征在于,所述掩模版(14)的材料為金屬、鐵磁性材料、半導(dǎo)體以及絕緣體這五者中的任一種或任多種。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁場(chǎng)輔助紫外光氧化實(shí)現(xiàn)石墨烯薄膜圖案化方法,其特征在于,所述掩模版(14)為120至240nm紫外波段不透明的硬質(zhì)材質(zhì);
在步驟1中:將所述磁場(chǎng)發(fā)生裝置的S極或者N極朝向樣品架(8)表面。
6.一種磁場(chǎng)輔助紫外光氧化實(shí)現(xiàn)石墨烯薄膜圖案化裝置,其特征在于,包括反應(yīng)腔室(1)、光源(6)、水冷卻板(7)、樣品架(8)、磁場(chǎng)發(fā)生裝置(9)、汞燈以及汞燈放電管;
所述汞燈、汞燈放電管均設(shè)置在反應(yīng)腔室(1)內(nèi);
所述樣品架(8)設(shè)置在反應(yīng)腔室(1)的一端,并且所述樣品架(8)的位置與汞燈放電管的位置相互平行;
所述光源(6)設(shè)置在反應(yīng)腔室(1)的另一端;
所述水冷卻板(7)設(shè)置在光源(6)的側(cè)部;
所述磁場(chǎng)發(fā)生裝置(9)設(shè)置在樣品架(8)上。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的磁場(chǎng)輔助紫外光氧化實(shí)現(xiàn)石墨烯薄膜圖案化裝置,其特征在于,還包括氮?dú)馊肟?2)、水汽入口(3)、備用接口(4)以及排氣口(5);
所述氮?dú)馊肟?2)、水汽入口(3)、備用接口(4)以及排氣口(5)均設(shè)置在反應(yīng)腔室(1)的側(cè)壁上。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的磁場(chǎng)輔助紫外光氧化實(shí)現(xiàn)石墨烯薄膜圖案化裝置,其特征在于,所述氮?dú)馊肟?2)、水汽入口(3)均設(shè)置在反應(yīng)腔室(1)的一側(cè);
所述備用接口(4)以及排氣口(5)均設(shè)置在反應(yīng)腔室(1)的另一側(cè)。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的磁場(chǎng)輔助紫外光氧化實(shí)現(xiàn)石墨烯薄膜圖案化裝置,其特征在于,水分子通過(guò)水汽入口(3)進(jìn)入反應(yīng)腔室(1)內(nèi),光源(6)將水分子分解為順磁性O(shè)H(X2Ⅱ)自由基,通過(guò)磁場(chǎng)發(fā)生裝置(9)控制順磁性O(shè)H(X2Ⅱ)自由基沿磁場(chǎng)梯度方向朝向放置在樣品架(8)上的樣品(13)運(yùn)動(dòng)。
10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的磁場(chǎng)輔助紫外光氧化實(shí)現(xiàn)石墨烯薄膜圖案化裝置,其特征在于,還包括掩模版(14);
所述掩模版(14)設(shè)置在光源(6)與磁場(chǎng)發(fā)生裝置(9)之間;
水分子通過(guò)水汽入口(3)進(jìn)入反應(yīng)腔室(1)內(nèi),光源(6)將水分子分解為順磁性O(shè)H(X2Ⅱ)自由基,通過(guò)磁場(chǎng)發(fā)生裝置(9)控制順磁性O(shè)H(X2Ⅱ)自由基沿磁場(chǎng)梯度方向經(jīng)掩模版(14)朝向在樣品架(8)上的樣品(13)運(yùn)動(dòng)。
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