[發(fā)明專利]電池檢測方法及裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201810980598.3
• 申請(qǐng)日: 2018-08-27
• 公開（公告）號(hào): CN109239075B
• 公開（公告）日: 2021-11-30
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 文亞偉;冷家冰;劉明浩;肖慧慧;郭江亮;李旭
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京百度網(wǎng)訊科技有限公司
• 主分類號(hào): G01N21/88
• 分類號(hào): G01N21/88
• 代理公司: 北京清亦華知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11201
• 代理人: 宋合成

1.一種電池檢測方法，其特征在于，包括：

獲取電池生產(chǎn)線上各個(gè)電池的圖片，以及對(duì)應(yīng)的生產(chǎn)節(jié)點(diǎn)，其中，所述生產(chǎn)節(jié)點(diǎn)的多個(gè)位置上設(shè)置攝像頭，用于對(duì)所述生產(chǎn)節(jié)點(diǎn)的電池進(jìn)行拍攝，采集電池的圖片；

將所述圖片輸入預(yù)設(shè)的缺陷檢測模型，獲取所述缺陷檢測模型輸出的檢測結(jié)果；所述檢測結(jié)果中包括：是否存在缺陷、缺陷的類型以及位置；

在所述檢測結(jié)果為存在缺陷時(shí)，向所述圖片對(duì)應(yīng)的生產(chǎn)節(jié)點(diǎn)的控制設(shè)備發(fā)送控制指令，以使所述控制設(shè)備根據(jù)所述控制指令對(duì)存在缺陷的圖片對(duì)應(yīng)的電池進(jìn)行分流；

所述方法還包括：

根據(jù)所述檢測結(jié)果以及所述分流結(jié)果，生成日志并進(jìn)行存儲(chǔ)，以便管理人員進(jìn)行查看，其中，所述日志中可以包括：各個(gè)電池的圖片、圖片采集時(shí)間、檢測結(jié)果以及分流結(jié)果；

所述缺陷檢測模型的數(shù)量為多個(gè)，分別設(shè)置在不同的服務(wù)器上；

所述將所述圖片輸入預(yù)設(shè)的缺陷檢測模型，獲取所述缺陷檢測模型輸出的檢測結(jié)果，包括：

獲取各個(gè)缺陷檢測模型的負(fù)載量；

從各個(gè)缺陷檢測模型中選擇對(duì)應(yīng)的負(fù)載量滿足預(yù)設(shè)負(fù)載條件的第一缺陷檢測模型；

將所述圖片輸入第一缺陷檢測模型，獲取所述第一缺陷檢測模型輸出的檢測結(jié)果；

所述缺陷檢測模型為深度神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型；所述缺陷檢測模型的結(jié)構(gòu)根據(jù)Mask RCNN算法確定；

所述將所述圖片輸入預(yù)設(shè)的缺陷檢測模型，獲取所述缺陷檢測模型輸出的檢測結(jié)果之前，還包括：

獲取訓(xùn)練數(shù)據(jù)；所述訓(xùn)練數(shù)據(jù)中包括：生產(chǎn)線上電池的歷史圖片以及缺陷標(biāo)注結(jié)果；所述缺陷標(biāo)注結(jié)果中包括：缺陷類型以及缺陷位置；

根據(jù)所述訓(xùn)練數(shù)據(jù)，對(duì)初始的缺陷檢測模型進(jìn)行訓(xùn)練，直至預(yù)設(shè)的損失函數(shù)滿足對(duì)應(yīng)的條件，其中，所述預(yù)設(shè)的損失函數(shù)是根據(jù)所述缺陷檢測模型中卷積層、池化層、全連接層的損失函數(shù)而確定出的；

將訓(xùn)練好的缺陷檢測模型，確定為所述預(yù)設(shè)的缺陷檢測模型。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述將所述圖片輸入預(yù)設(shè)的缺陷檢測模型，獲取所述缺陷檢測模型輸出的檢測結(jié)果之后，還包括：

對(duì)所述圖片對(duì)應(yīng)的檢測結(jié)果進(jìn)行審核；

審核通過后，將所述圖片以及對(duì)應(yīng)的檢測結(jié)果添加到所述訓(xùn)練數(shù)據(jù)中，得到更新后的訓(xùn)練數(shù)據(jù)；

根據(jù)更新后的訓(xùn)練數(shù)據(jù)，對(duì)所述缺陷檢測模型重新進(jìn)行訓(xùn)練。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，根據(jù)更新后的訓(xùn)練數(shù)據(jù)，對(duì)所述缺陷檢測模型重新進(jìn)行訓(xùn)練之前，還包括：

獲取所述更新后的訓(xùn)練數(shù)據(jù)中，添加的圖片以及對(duì)應(yīng)的檢測結(jié)果的數(shù)量；

對(duì)應(yīng)的，根據(jù)更新后的訓(xùn)練數(shù)據(jù)，對(duì)所述缺陷檢測模型重新進(jìn)行訓(xùn)練，包括：

在所述數(shù)量大于預(yù)設(shè)數(shù)量閾值時(shí)，根據(jù)更新后的訓(xùn)練數(shù)據(jù)，對(duì)所述缺陷檢測模型重新進(jìn)行訓(xùn)練。