[發(fā)明專利]一種陶瓷原料粉體顆粒測試用沉降裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810975845.0
• 申請日: 2018-08-24
• 公開（公告）號: CN108801867A
• 公開（公告）日: 2018-11-13
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 劉春良
• 申請（專利權(quán)）人: 江西新瑞景陶瓷有限公司
• 主分類號: G01N15/02
• 分類號: G01N15/02
• 代理公司: 南昌贛西專利代理事務(wù)所(普通合伙) 36121
• 代理人: 何彬

本發(fā)明適用于陶瓷生產(chǎn)技術(shù)領(lǐng)域，提供了一種陶瓷原料粉體顆粒測試用沉降裝置，包括同步升降平臺、檢測機(jī)構(gòu)、電磁升降裝置和恒溫組件，所述同步升降平臺和所述檢測機(jī)構(gòu)固定連接，所述檢測機(jī)構(gòu)位于所述同步升降平臺的上端外表面上；所述同步升降平臺控制所述照明燈、所述富姓氏透鏡和所述光電接收器同步往復(fù)升降，所述光電接收器將光信號轉(zhuǎn)換為電信號傳輸?shù)椒治瞿K，分析模塊依據(jù)數(shù)據(jù)生成陶瓷原料粒度報告，電磁裝置工作更加平穩(wěn)，保證同步升降平臺往復(fù)運動時更加平穩(wěn)，所述控制器依據(jù)預(yù)設(shè)程序控制的直線電機(jī)沿著導(dǎo)軌運動，所述恒溫水層包覆在所述樣品容器，保證所述樣品容器保持恒溫，確保測試樣液的溫度保持恒定，減少誤差。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于陶瓷生產(chǎn)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種陶瓷原料粉體顆粒測試用沉降裝置。

背景技術(shù)

隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，粉體工業(yè)將成為21世紀(jì)最重要的基礎(chǔ)產(chǎn)業(yè)之一。粉體粒度是粉體材料的主要主要指標(biāo)之一，直接影響粉體制備產(chǎn)品的工藝性能和綜合使用性能。通過陶瓷粉體粒徑的優(yōu)選，可以實現(xiàn)優(yōu)異綜合性能陶瓷材料的制備。目前，陶瓷粉體粒度主流的測試方法包括：篩分法、沉降法、費氏法和激光法等，沉降法是基于不同粒徑的陶瓷顆粒在液體中的沉降速率來檢測粉體粒徑分布的一種方法。其測試過程是將樣品加入到某種液體中制成一定濃度的懸浮液，懸浮液中的顆粒在重力或離心力的作用下會發(fā)生沉降，不同粒徑顆粒的沉降速率是不一樣的，由顆粒的沉降速率來測試顆粒的粒徑。

現(xiàn)有的陶瓷原料粉體顆粒測試用沉降裝置在使用中，才有步進(jìn)電機(jī)控制平臺的同步升降，使用軌道使其保持直線，本身并不穩(wěn)定，可能會產(chǎn)生晃動，增大誤差，還有，溫度的變化對粒子的沉降速率也有影響，溫度的變化給增加測試的誤差。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明提供一種陶瓷原料粉體顆粒測試用沉降裝置，旨在解決在使用中，才有步進(jìn)電機(jī)控制平臺的同步升降，使用軌道使其保持直線，本身并不穩(wěn)定，可能會產(chǎn)生晃動，增大誤差，還有，溫度的變化對粒子的沉降速率也有影響，溫度的變化給增加測試的誤差的問題。