[發明專利]紅外光源、紅外傳感器的光學性能測試方法及裝置在審
| 申請號: | 201810973417.4 | 申請日: | 2018-08-24 |
| 公開(公告)號: | CN110894914A | 公開(公告)日: | 2020-03-20 |
| 發明(設計)人: | 劉浩;李亮 | 申請(專利權)人: | 深圳市匯頂科技股份有限公司 |
| 主分類號: | F21K9/20 | 分類號: | F21K9/20;F21K9/64;F21K9/66;F21K9/69;F21V1/14;F21V5/04;F21V9/00;F21V23/00;F21V23/04;G01D18/00;F21Y115/10 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 紅外 光源 紅外傳感器 光學 性能 測試 方法 裝置 | ||
本發明提供一種紅外光源、紅外傳感器的光學性能測試方法及裝置,該紅外光源,包括:紅外LED,用于產生沿一光路徑傳播的紅外光;濾光片,設置在所述紅外LED的光路徑上,用于濾除所述紅外光以外的光;光學透鏡,設置在所述紅外LED的光路徑上,所述紅外LED發出的紅外光依次經過所述濾光片、所述光學透鏡之后,轉換為平行的紅外光。本發明可以改善紅外光源發射紅外光的均勻度和平行度,提高紅外傳感器的光學性能測試結果的準確性。
技術領域
本發明涉及檢測技術領域,尤其涉及一種紅外光源、紅外傳感器的光學性能測試方法及裝置。
背景技術
紅外傳感器是一種常見的光學傳感器,其能夠避免環境光的干擾,因此被廣泛地應用在光學測試領域。在紅外傳感器出廠之前,除了對紅外傳感器的基本電性能進行測試之外,還需要用均勻度較好的紅外光源來測試其光學性能。
目前,一般采用發光二極管(Light Emitting Diode,LED)構成的陣列,以及均光片來制作紅外光源。
但是,采用這種方式制作的紅外光源,要求LED陣列中的每顆燈珠的發光要一致,并需要精確掌握每顆燈珠的光發射角度以及光路疊加效果,其制作難度大,LED陣列容易產生組合漫射光,使得紅外光源的均勻度和平行度不佳。
發明內容
本發明提供一種紅外光源、紅外傳感器的光學性能測試方法及裝置,以改善紅外光源發射紅外光的均勻度和平行度,提高紅外傳感器的光學性能測試結果的準確性。
第一方面,本發明實施例提供一種紅外光源,包括:
紅外LED,用于產生沿一光路徑傳播的紅外光;
濾光片,設置在所述紅外LED的光路徑上,用于濾除所述紅外光以外的光;
光學透鏡,設置在所述紅外LED的光路徑上,所述紅外LED發出的紅外光依次經過所述濾光片、所述光學透鏡之后,轉換為平行的紅外光。
可選地,還包括:遮光罩;所述遮光罩的兩端設置有開口結構,所述遮光罩的一端開口與所述紅外LED連接,以使所述紅外LED產生的紅外光在所述遮光罩內傳播,所述遮光罩的另一端開口位置處安裝有所述光學透鏡,以使得所述遮光罩內傳播的紅外光經過所述光學透鏡之后,轉換為平行的紅外光;所述濾光片位于所述遮光罩內,并位于所述紅外LED與所述光學透鏡之間。
可選地,所述通孔位于所述光學透鏡的焦點位置上。
可選地,所述遮光罩的形狀包括:圓錐形,或者圓柱形。
可選地,所述遮光罩的內壁上設置有吸光涂層。
可選地,所述濾光片為窄帶濾光片,所述窄帶濾光片的中心波長與所述紅外LED的紅外波長一致。
可選地,還包括:與所述紅外LED電連接的驅動電路,所述驅動電路用于調節所述紅外LED的紅外光輻射強度。
可選地,所述紅外LED為單一的LED燈。
第二方面,本發明實施例提供一種紅外傳感器芯片的測試光源,包括:如第一方面中任一項所述的紅外光源、針卡板,所述針卡板上設置有1個或1個以上的通光口;所述紅外光源安裝在所述針卡板上,構成紅外傳感器芯片的測試光源。
第三方面,本發明實施例提供一種紅外傳感器的光學性能測試方法,應用如第一方面中任一項所述的紅外光源對紅外傳感器進行光學性能測試,所述方法包括:
測試平臺將所述紅外光源發出的紅外光對準紅外傳感器的感應區;
數據采集器獲取在不同輻射強度的紅外光下,所述紅外傳感器的感應數據;
處理器將所述感應數據的變化量在預設的閾值范圍內的紅外傳感器,作為合格的紅外傳感器。
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