[發(fā)明專利]一種電源波動對DDR4信號影響的分析方法與系統(tǒng)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810972272.6 | 申請日: | 2018-08-21 |
| 公開(公告)號: | CN109117568A | 公開(公告)日: | 2019-01-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 劉法志 | 申請(專利權(quán))人: | 鄭州云海信息技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | G06F17/50 | 分類號: | G06F17/50 |
| 代理公司: | 濟南誠智商標專利事務(wù)所有限公司 37105 | 代理人: | 李修杰 |
| 地址: | 450018 河南省鄭州市*** | 國省代碼: | 河南;41 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電源波動 信號仿真 信號影響 信號眼圖 電源分配系統(tǒng) 系統(tǒng)拓撲結(jié)構(gòu) 電源參數(shù) 電源擾動 仿真電源 分析 仿真眼 非理想 比對 鏈路 走線 直觀 研究 | ||
1.一種電源波動對DDR4信號影響的分析方法,其特征在于,包括以下步驟:
S1、根據(jù)系統(tǒng)拓撲結(jié)構(gòu)建立電源擾動模型;
S2、設(shè)定電源參數(shù),仿真電源波動情況;
S3、提取DDR走線的S參數(shù),搭建鏈路,進行信號仿真;
S4、根據(jù)信號仿真眼圖,比對在有無電源波動下信號的質(zhì)量。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電源波動對DDR4信號影響的分析方法,其特征在于,所述DDR走線包括始終信號線CLK、數(shù)據(jù)信號線DQ、數(shù)據(jù)選通信號線DQS、數(shù)據(jù)掩碼信號線DM、地址信號線ADDR以及控制信號線。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種電源波動對DDR4信號影響的分析方法,其特征在于,所述時鐘信號線CLK的長度要求為:
CLK信號線的長度最長不能超過4inch;
CLK差分對信號走線嚴格走差分,差分對內(nèi)部走線的長度差要小于5mil;
DDR走線線寬和線間距不能小于4mil。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種電源波動對DDR4信號影響的分析方法,其特征在于,所述數(shù)據(jù)信號線DQ走線長度以DQS作為參考,長度偏差小于50mil。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種電源波動對DDR4信號影響的分析方法,其特征在于,所述數(shù)據(jù)選通信號線DQS的長度要求為:
DQS差分對內(nèi)部兩根信號線等長,差分走線長度偏差小于5mil;
DQS以CLK時鐘走線長度為參照進行走線,其走線長度相對于CLK的走線長度,允許的偏差為±250mil。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種電源波動對DDR4信號影響的分析方法,其特征在于,所述數(shù)據(jù)掩碼信號線DM的走線長度以DQS為參考,長度偏差小于50mil。
7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種電源波動對DDR4信號影響的分析方法,其特征在于,所述地址信號線ADDR的長度要求為:
ADDR[0:14]以CLK時鐘走線長度為參照進行走線,允許的差范圍為100mil;
地址線采用T型走線,T點到CPU端管腳的走線,最長不超過2inch;
T點到DDR顆粒端管腳的走線,最長不超過1inch。
8.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種電源波動對DDR4信號影響的分析方法,其特征在于,所述控制信號線以CLK時鐘走線長度為參照進行走線,允許偏差范圍為100mil。
9.一種電源波動對DDR4信號影響的分析系統(tǒng),其特征在于,所述系統(tǒng)包括:
模型建立模塊,用于根據(jù)系統(tǒng)拓撲結(jié)構(gòu)建立電源擾動模型;
電源參數(shù)設(shè)定模塊,用于設(shè)定電源參數(shù),仿真電源波動情況;
信號仿真模塊,用于提取DDR走線的S參數(shù),搭建鏈路,進行信號仿真;
信號質(zhì)量比對模塊,用于根據(jù)信號仿真眼圖,比對在有無電源波動下信號的質(zhì)量。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的一種電源波動對DDR4信號影響的分析系統(tǒng),其特征在于,所述DDR走線包括始終信號線CLK、數(shù)據(jù)信號線DQ、數(shù)據(jù)選通信號線DQS、數(shù)據(jù)掩碼信號線DM、地址信號線ADDR以及控制信號線。
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