[發(fā)明專利]用于觀察片狀樣品側(cè)面的治具、及其方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810962362.7
• 申請日: 2018-08-22
• 公開（公告）號: CN108942745A
• 公開（公告）日: 2018-12-07
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 楊進福;能木直安;楊以權(quán);李啟聰
• 申請（專利權(quán)）人: 住華科技股份有限公司
• 主分類號: B25B11/00
• 分類號: B25B11/00
• 代理公司: 北京律誠同業(yè)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11006
• 代理人: 梁揮;鮑俊萍

一種用于觀察片狀樣品側(cè)面的治具及其方法，包括一基座。該基座包括至少一定位部，各該定位部供放置欲觀察的一片狀樣品，其中該基座包括一上表面，該至少一定位部橫跨該基座并自該上表面向下延伸，及用以固定對應(yīng)該片狀樣品的一側(cè)面的位置。使用本發(fā)明的治具，可在觀察片狀樣品時，輕易地將片狀樣品保持在所需位置，且片狀樣品可輕易地置入或移出治具。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明是關(guān)于一種治具、及使用其協(xié)助觀察的方法。本發(fā)明特別是關(guān)于一用于觀察片狀樣品側(cè)面的治具、及使用其協(xié)助觀察片狀樣品側(cè)面的方法。

背景技術(shù)

隨著科技的進步，對于液晶顯示設(shè)備所運用的各種片狀制品的要求亦高。然而，于片狀制品的生產(chǎn)過程中，卻容易因各種因素而產(chǎn)生瑕疵，進而降低顯示質(zhì)量。因此，在片狀制品的生產(chǎn)中需進行缺陷檢測，以及早排除具有缺陷的片狀制品。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的主要目的在于提供一種用于觀察片狀樣品側(cè)面的治具、及使用其協(xié)助觀察片狀樣品側(cè)面的方法，特別適用于片狀制品的樣品檢驗。

在本發(fā)明的一方面，提供一種用于觀察片狀樣品側(cè)面的治具，該治具包括一基座。該基座包括至少一定位部，各該定位部供放置欲觀察的一片狀樣品，其中該基座包括一上表面，該至少一定位部橫跨該基座并自該上表面向下延伸，及用以固定對應(yīng)的該片狀樣品的一側(cè)面的位置。

本發(fā)明所述的治具，其中，該至少一定位部滿足至少一項選自下列(1)～(4)的結(jié)構(gòu)特征：

(1)該至少一定位部具有一延伸尺寸大于欲觀察的該片狀樣品的一寬度；

(2)該至少一定位部具有一長度小于欲觀察的該片狀樣品的一長度；

(3)該至少一定位部具有一延伸尺寸和欲觀察的該片狀樣品的一寬度的差距介于1毫米和2毫米之間；及

(4)該至少一定位部具有一寬度介于10微米和1000微米之間。

本發(fā)明所述的治具，其中，該至少一定位部為斜面或縫隙。

本發(fā)明所述的治具，其中，該至少一定位部為以一傾斜角度自該上表面向下延伸的縫隙。

本發(fā)明所述的治具，其中，該治具更包括：

二支撐單元，連接該基座的該上表面并相對配置在該基座的該至少一定位部的二側(cè)。

本發(fā)明所述的治具，其中，各該支撐單元分別包括：

二垂直件，連接該基座的該上表面；及

一水平件，在該基座的該上表面上方懸空地連接該二垂直件。

本發(fā)明所述的治具，其中，

該二支撐單元之間形成一開放容置空間；或

各該支撐單元分別由該二垂直件及該水平件形成一半開放容置空間，且各該垂直件分別具有一穿孔。

本發(fā)明所述的治具，其中，該治具更包括：

一環(huán)型光源，設(shè)置在該開放容置空間；及

至少一固定件，用以將該環(huán)型光源的二端分別固定至各該支撐單元的該水平件。

本發(fā)明所述的治具，其中，該治具更包括：

二長型光源，分別設(shè)置在各該支撐單元形成的該半開放容置空間，各該長型光源分別具有二外延元件，分別通過對應(yīng)的各該穿孔。