[發明專利]一種短周期批產化衛星的測試方法

有效

• 申請號: 201810946125.1
• 申請日: 2018-08-20
• 公開（公告）號: CN109270366B
• 公開（公告）日: 2021-02-09
• 發明（設計）人: 陳博;梁旭文;汪灝;閆梅;張芮;劉闊;豐正功;曹彩霞;李靜
• 申請（專利權）人: 上海微小衛星工程中心
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;H04B7/185;B64G99/00
• 代理公司: 上海智晟知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 31313
• 代理人: 昝沁;李鏑的

1.一種批產化衛星的測試方法，其為批產化衛星綜合測試項目中的桌面聯試階段的主要測試內容，其特征在于，包括衛星接口測試和衛星功能及性能測試，且所述衛星接口測試方法為衛星接口測試內容在批產化衛星同一批次的每顆星上的遍歷測試；所述衛星功能及性能測試方法包括1)與硬件相關的功能和性能測試，和2)與軟件相關的功能測試；所述與硬件相關的功能和性能測試采取在批產化衛星同一批次的每顆星上的遍歷測試；所述與軟件相關的功能測試考核的是星載軟件，且又分成幾個測試項目，分別在批產化衛星同一批次的每顆星上測試一部分，最終保證批產化衛星同一批次所有星上測試內容覆蓋全部測試項目。

2.如權利要求1所述的批產化衛星的測試方法，其特征在于，所述批產化衛星的接口測試、功能及性能測試從衛星的各分系統展開。

3.如權利要求2所述的批產化衛星的測試方法，其特征在于，所述分系統包括電源及總體電路分系統、星務分系統、測控分系統、數傳分系統、熱控分系統、姿軌控分系統和載荷分系統。

4.如權利要求1所述的批產化衛星的測試方法，其特征在于，所述接口測試包括地面設備測試、供電接口測試、單機功耗及浪涌測試、典型信號特性測試、接口匹配性測試和通信協議測試。