[發明專利]一種新型孔徑檢測治具、孔徑測量高度規及其檢測方法在審
| 申請號： | 201810944497.0 | 申請日： | 2018-08-19 |
| 公開（公告）號： | CN110617753A | 公開（公告）日： | 2019-12-27 |
| 發明（設計）人： | 呂華 | 申請（專利權）人： | 東莞凱路汽車工業有限公司 |
| 主分類號： | G01B5/08 | 分類號： | G01B5/08 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 523850 廣東省東莞*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 測量 固定塊 孔徑檢測 高度規 治具 測量效率 孔徑測量 三角函數 向下移動 一體結構 安裝孔 錐體 | ||
1.一種新型孔徑檢測治具，其特征在于：包括一體結構的測量塊和固定塊，所述測量塊與固定塊為相同軸心，所述測量塊為錐形，其最下方為零點，所述固定塊上設有與測量塊相同軸心的安裝孔。
2.根據權利要求1所述的一種新型孔徑檢測治具，其特征在于：所述固定塊上設有與安裝孔垂直的固定螺絲，所述固定螺絲旋接在固定塊上并可延伸到所述安裝孔內。
3.一種孔徑測量高度規，其特征在于：采用權利要求1或2任一所述的孔徑檢測治具。
4.一種孔徑測量方法，其特征在于：包括使用高度規，所述高度規上設有垂直方法的探針，所述高度規的探針上下運動進行測量，包括以下步驟：
S1、將探針放入到安裝孔內，使用固定螺絲將固定塊與探針進行固定；
S2、將需要測量的工件放置在測量臺上，工件上的測量孔為垂直設置，將測量塊最下方的零點接觸到工件的上端面，此時將高度規的讀數設置為0；
S3、將工件的測量孔中心與測量塊為同一軸心，向下移動測量塊，使錐體與測量孔接觸時形成接觸點，停止移動，讀取向下移動的距離b；
S4、根據距離b，可計算出測量孔的直徑a的實績數據，判斷是否合格。
5.根據權利要求4所述的一種孔徑測量方法，其特征在于：所述S1步驟中，探針、固定塊和測量塊同一軸心設置。
6.根據權利要求4所述的一種孔徑測量方法，其特征在于：所述S3步驟中，測量塊從0開始向下移動的數據b小于等于測量孔的深度。
7.根據權利要求4所述的一種孔徑測量方法，其特征在于：所述S1和S2步驟只限于測量第一個工件時使用。
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