[發(fā)明專利]掩模裝置及其控制方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810939837.0 | 申請(qǐng)日: | 2018-08-16 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108873598B | 公開(公告)日: | 2021-10-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 馬國(guó)靖 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 京東方科技集團(tuán)股份有限公司;北京京東方顯示技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G03F1/54 | 分類號(hào): | G03F1/54;G02F1/1337 |
| 代理公司: | 北京三高永信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11138 | 代理人: | 楊廣宇 |
| 地址: | 100015 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 裝置 及其 控制 方法 | ||
1.一種掩模裝置,其特征在于,所述掩模裝置包括:掩模板和控制器,所述掩模板包括多個(gè)掩模單元,所述掩模單元包括:透光承載結(jié)構(gòu),以及位于所述透光承載結(jié)構(gòu)上的遮光液滴,所述透光承載結(jié)構(gòu)具有親水狀態(tài)和疏水狀態(tài);
所述控制器與每個(gè)所述掩模單元均連接,且每個(gè)所述掩模單元具有透光狀態(tài)和遮光狀態(tài),所述控制器用于通過(guò)控制所述透光承載結(jié)構(gòu)處于所述親水狀態(tài),以控制所述掩模單元處于所述遮光狀態(tài),以及通過(guò)控制所述透光承載結(jié)構(gòu)處于所述疏水狀態(tài),以控制所述掩模單元處于所述透光狀態(tài);
所述掩模板還包括:相對(duì)設(shè)置的透光基底和透光保護(hù)層,以及位于所述透光基底和所述透光保護(hù)層之間的遮光網(wǎng)格結(jié)構(gòu),
所述多個(gè)掩模單元均位于所述透光基底和所述透光保護(hù)層之間,所述遮光網(wǎng)格結(jié)構(gòu)將所述透光基底劃分為多個(gè)單元格,所述多個(gè)掩模單元與所述多個(gè)單元格一一對(duì)應(yīng),且每個(gè)掩模單元均位于其對(duì)應(yīng)的單元格內(nèi),
所述掩模裝置被配置為對(duì)形成顯示面板的膜層進(jìn)行掩模,所述掩模單元與所述顯示面板中亞像素單元的形狀和大小均相同;
所述透光承載結(jié)構(gòu)中靠近所述遮光液滴的一側(cè)凸起,當(dāng)所述控制器控制透光承載結(jié)構(gòu)處于疏水狀態(tài)時(shí),所述遮光液滴包括兩個(gè)遮光子液滴,所述兩個(gè)遮光子液滴分別位于所述透光承載結(jié)構(gòu)上頂部凸起位置的兩側(cè)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的掩模裝置,其特征在于,
所述每個(gè)掩模單元被所述透光基底、所述透光保護(hù)層和所述遮光網(wǎng)格結(jié)構(gòu)密封。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的掩模裝置,其特征在于,所述掩模裝置還包括:與所述控制器連接且位于所述掩模板一側(cè)的紫外燈組件,所述紫外燈組件能夠向所述掩模板發(fā)射多種偏振方向的紫外偏振光,所述控制器還用于:
在多個(gè)掩模階段中的每個(gè)掩模階段,控制所述紫外燈組件向所述掩模板發(fā)射一種偏振方向的紫外偏振光,且所述紫外燈組件在所述多個(gè)掩模階段中發(fā)射的紫外偏振光的偏振方向不同。
4.一種掩模控制方法,其特征在于,用于權(quán)利要求1至3任一所述的掩模裝置中的控制器,所述掩模裝置還包括:掩模板,所述掩模板包括多個(gè)掩模單元,對(duì)每個(gè)所述掩模單元,所述掩模單元包括:透光承載結(jié)構(gòu),以及位于所述透光承載結(jié)構(gòu)上的遮光液滴,所述透光承載結(jié)構(gòu)具有親水狀態(tài)和疏水狀態(tài),所述控制器與每個(gè)所述掩模單元均連接,且每個(gè)所述掩模單元具有透光狀態(tài)和遮光狀態(tài),所述方法包括:
通過(guò)控制所述透光承載結(jié)構(gòu)處于所述親水狀態(tài),以控制所述掩模單元處于所述遮光狀態(tài);
通過(guò)控制所述透光承載結(jié)構(gòu)處于所述疏水狀態(tài),以控制所述掩模單元處于所述透光狀態(tài),所述透光承載結(jié)構(gòu)中靠近所述遮光液滴的一側(cè)凸起,當(dāng)所述控制器控制透光承載結(jié)構(gòu)處于疏水狀態(tài)時(shí),所述遮光液滴包括兩個(gè)遮光子液滴,所述兩個(gè)遮光子液滴分別位于所述透光承載結(jié)構(gòu)上頂部凸起位置的兩側(cè);
所述掩模板還包括:相對(duì)設(shè)置的透光基底和透光保護(hù)層,以及位于所述透光基底和所述透光保護(hù)層之間的遮光網(wǎng)格結(jié)構(gòu),
所述多個(gè)掩模單元均位于所述透光基底和所述透光保護(hù)層之間,所述遮光網(wǎng)格結(jié)構(gòu)將所述透光基底劃分為多個(gè)單元格,所述多個(gè)掩模單元與所述多個(gè)單元格一一對(duì)應(yīng),且每個(gè)掩模單元均位于其對(duì)應(yīng)的單元格內(nèi),
所述掩模裝置被配置為對(duì)形成顯示面板的膜層進(jìn)行掩模,所述掩模單元與所述顯示面板中亞像素單元的形狀和大小均相同。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法,其特征在于,所述掩模裝置還包括:與所述控制器連接且位于所述掩模板一側(cè)的紫外燈組件,所述紫外燈組件能夠向所述掩模板發(fā)射多種偏振方向的紫外偏振光,所述方法還包括:
在多個(gè)掩模階段中的每個(gè)掩模階段,控制所述紫外燈組件向所述掩模板發(fā)射一種偏振方向的紫外偏振光,且所述紫外燈組件在所述多個(gè)掩模階段中發(fā)射的紫外偏振光的偏振方向不同。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法,其特征在于,控制所述掩模單元處于透光狀態(tài)或遮光狀態(tài),包括:
在每個(gè)所述掩模階段,控制所述多個(gè)掩模單元中的至少一個(gè)掩模單元處于透光狀態(tài),以形成一組透光區(qū)域,并控制所述多個(gè)掩模單元中除所述至少一個(gè)掩模單元外的其他掩模單元均處于遮光狀態(tài),且在任意兩個(gè)所述掩模階段中形成的兩組透光區(qū)域互不交疊。
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G03F 圖紋面的照相制版工藝,例如,印刷工藝、半導(dǎo)體器件的加工工藝;其所用材料;其所用原版;其所用專用設(shè)備
G03F1-00 用于圖紋面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其專門適用于此的容器;其制備
G03F1-20 .用于通過(guò)帶電粒子束(CPB)輻照成像的掩膜或空白掩膜,例如通過(guò)電子束;其制備
G03F1-22 .用于通過(guò)100nm或更短波長(zhǎng)輻照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射線掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制備
G03F1-36 .具有臨近校正特征的掩膜;其制備,例如光學(xué)臨近校正(OPC)設(shè)計(jì)工藝
G03F1-38 .具有輔助特征的掩膜,例如用于校準(zhǔn)或測(cè)試的特殊涂層或標(biāo)記;其制備
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