[發明專利]量測方法

在審

• 申請號: 201810877346.8
• 申請日: 2018-08-03
• 公開（公告）號: CN108957806A
• 公開（公告）日: 2018-12-07
• 發明（設計）人: 宋振莉
• 申請（專利權）人: 惠科股份有限公司;重慶惠科金渝光電科技有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 北京匯澤知識產權代理有限公司 11228
• 代理人: 亓贏

本申請提供一種量測方法，包括：在第一條件下，量測第一點的背光亮度L₀A和面板亮度L₁A，量測第二點的背光亮度L₀B和面板亮度L₁B；在第二條件下，量測第一點的背光亮度L₀'A和面板亮度L₁'A；在第三條件下，量測第二點的背光亮度L₀'B和面板亮度L₁'B；在第四條件下，量測第一點的背光亮度L₀″A和面板亮度L₁″A，量測第二點的背光亮度L₀″B和面板亮度L₁″B；其中，所述第一條件為保留第一、第二偏光片的面板，所述第二條件為去掉第一偏光片、保留第二偏光片的面板，所述第三條件為保留第一偏光片、去掉第二偏光片的面板，所述第四條件為去掉第一、第二偏光片的面板；通過量測的多個背光亮度和多個面板亮度，并將測得的數據進行歸一化處理后，確定液晶的液晶效率。

技術領域

本申請涉及顯示領域，特別涉及一種量測方法。

背景技術

LCD(Liquid Crystal Display，液晶顯示裝置)因具有輕便，高空間利用率、低消耗率、無輻射、高對比度等諸多優越特性，在電子、數碼產品等領域有著廣泛的運用，是現代IT、視訊產品中重要的顯示平臺。

液晶顯示裝置包括兩基板，夾設于基板之間的液晶，以及提供光源的背光模塊。液晶分子由于在長軸和短軸上電子云密度分布不均造成光學和電學上的各向異性，以VA(Vertical Alignment，垂直配向)液晶模式為例，在不加電壓時，液晶不會偏轉，故光線經過液晶不會發生偏振方向的改變，通過上下偏光片后呈暗態。在施加電壓后，液晶在電場的作用下沿配向方向發生偏轉，產生偏振光，通過上下偏光片后呈亮態。在整個顯示過程中，液晶起到一個電壓控制的光閥作用，其對穿透率的影響十分重要，因此對面板液晶效率的量測手法及數據處理方法的準確性要求較高。

量測方法包括量測液晶面板穿透率，再計算排除其他影響穿透率的因素，最終計算出液晶的液晶效率。量測方法又可分為兩點量測和四點量測，但是，由于這些方法量測的每點所對應的背光亮度或者面板亮度有所不同，會導致液晶效率計算誤差較大，且沒有去除該些量測數據導致的誤差，而不得不再進行多次量測。

發明內容

為了解決上述技術問題，本申請的目的在于，提供了一種量測方法。

本申請的目的及解決其技術問題是采用以下技術方案來實現的。依據本申請提出的一種量測方法，包括：在第一條件下，量測第一點的背光亮度L₀A和面板亮度L₁A，量測第二點的背光亮度L₀B和面板亮度L₁B；在第二條件下，量測第一點的背光亮度L₀'A和面板亮度L₁'A；在第三條件下，量測第二點的背光亮度L₀'B和面板亮度L₁'B；在第四條件下，量測第一點的背光亮度L₀”A和面板亮度L₁”A，量測第二點的背光亮度L₀”B和面板亮度L₁”B；其中，所述第一條件為保留第一、第二偏光片的面板，所述第二條件為去掉第一偏光片、保留第二偏光片的面板，所述第三條件為保留第一偏光片、去掉第二偏光片的面板，所述第四條件為去掉第一、第二偏光片的面板；對量測的背光亮度L₀A、L₀B、L₀'A、L₀'B、L₀”A、L₀”B和面板亮度L₁A、L₁B、L₁'A、L₁'B、L₁”A、L₁”B數據進行歸一化處理；將歸一化后得到的數據代入液晶效率η的公式，確定液晶效率。

在本申請的一實施例中，所述液晶效率η的公式為：