[發明專利]一種高雙折射保偏光纖的模式雙折射的測量裝置和方法

有效

• 申請號: 201810860255.3
• 申請日: 2018-08-01
• 公開（公告）號: CN108709720B
• 公開（公告）日: 2023-09-01
• 發明（設計）人: 孟卓;朱佑強;趙保來
• 申請（專利權）人: 天津博科光電科技有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 天津創信方達專利代理事務所(普通合伙) 12247
• 代理人: 李京京

1.一種高雙折射保偏光纖的模式雙折射的測量裝置，其特征在于，所述測量裝置包括寬譜光源、在光的傳播方向上依次設置的起偏器、電光調制器、待測高雙折射保偏光纖、檢偏器、光電探測器、混頻器、數據采集電路和計算機；以及掃頻信號源、與所述掃頻信號源連接的微波功分器，與所述微波功分器的第二輸出端連接的微波移相器，所述微波移相器的輸出端連接所述混頻器的本振輸入端，將第二微波信號輸入所述混頻器；

所述微波功分器的第一輸出端與所述電光調制器的射頻輸入端連接，所述電光調制器將所述微波功分器輸出的第一微波信號調制到光線上形成光載微波信號，所述光載微波信號經所述待測高雙折射保偏光纖后形成兩路光程差不同的光載微波信號，所述兩路光程差不同的光載微波信號經所述光電探測器后輸入至所述混頻器的射頻輸入端，所述混頻器將所述兩路光程差不同的光載微波信號與所述第二微波信號混頻后的中頻信號經低通濾波器后的直流信號輸入至所述數據采集電路，所述數據采集電路將所述直流信號不同幅值處的頻率輸入至所述計算機進行計算。

2.根據權利要求1所述高雙折射保偏光纖的模式雙折射的測量裝置，其特征在于，所述電光調制器的輸出端為保偏光纖且與所述待測高雙折射保偏光纖采用45°熔接方式連接。

3.根據權利要求1所述高雙折射保偏光纖的模式雙折射的測量裝置，其特征在于，所述待測高雙折射保偏光纖的兩個偏振本振軸與所述檢偏器成45°夾角。

4.根據權利要求1所述高雙折射保偏光纖的模式雙折射的測量裝置，其特征在于，所述光電探測器與所述混頻器之間還設置有低噪放大器。

5.根據權利要求1所述高雙折射保偏光纖的模式雙折射的測量裝置，其特征在于，所述測量裝置還包括電光調制器控制電路，所述電光調制器控制電路與所述電光調制器連接。

6.一種高雙折射保偏光纖的模式雙折射的測量方法，其特征在于，利用權利要求1-5任一項所述的高雙折射保偏光纖的模式雙折射的測量裝置進行測量，所述測量方法包括：

控制掃頻信號源輸入微波信號；

控制電光調制器將所述微波信號調制到光載波上，得到光載微波信號；

獲取所述高雙折射保偏光纖的模式雙折射的測量裝置中數據采集電路輸出的直流信號的任意相鄰兩波谷對應的頻率值；

獲取待測保偏光纖的長度；

根據所述任意相鄰兩波谷或波峰對應的頻率值，利用公式計算高雙折射保偏光纖的模式雙折射；其中，f₁和f₂為任意相鄰兩波谷對應的頻率值，L為待測保偏光纖的長度，c為光速。