[發(fā)明專利]一種快速鑒定熒光粉質量的方法及裝置

有效

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• 申請日: 2018-07-27
• 公開（公告）號: CN108918494B
• 公開（公告）日: 2021-03-23
• 發(fā)明（設計）人: 高春瑞;鄭劍飛;鄭文財
• 申請（專利權）人: 廈門多彩光電子科技有限公司
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64
• 代理公司: 廈門市精誠新創(chuàng)知識產權代理有限公司 35218
• 代理人: 湯云武

本發(fā)明涉及一種快速鑒定熒光粉質量的方法及裝置，其方法是通過測試熒光粉在不同溫度下的光衰來反映熒光粉的受熱發(fā)光效率，通過對受熱發(fā)光效率的對比來判斷熒光粉的質量，本發(fā)明還提供了實現(xiàn)上述方法步驟的裝置。

技術領域

本發(fā)明涉及LED封裝材料測試領域，具體是涉及一種快速鑒定熒光粉質量的方法及裝置。

背景技術

熒光粉的好壞與LED燈珠光參數(shù)的多少以及使用壽命的長短息息相關，對于熒光粉的檢測目前有多種方法，如將熒光粉置于高溫高壓環(huán)境中一段時間后，測試熒光粉的光衰情況。其中將熒光粉封裝在燈珠內部進行長時間老化是目前現(xiàn)有方法中最為常規(guī)并廣泛運用的手段。

但由于以上方法所需要的檢驗周期較長(老化一般為1000H后再對熒光粉進行初步判斷)，并且老化過程中，LED的膠水、支架老化帶來實驗誤差，以及老化過程對環(huán)境的恒溫控制較難都會導致的實驗數(shù)據(jù)出現(xiàn)誤差。為減少以上誤差往往是多做幾組整燈，甚至多次驗證以達到實驗目的。以上問題給實驗人員帶來數(shù)據(jù)不準確，實驗周期長的缺點。

發(fā)明內容

本發(fā)明旨在提供一種快速鑒定熒光粉質量的方法及裝置，以解決上述的問題。

具體方案如下：

一種快速鑒定熒光粉質量的方法，包括以下步驟：

S1、準備熒光粉激發(fā)光源和一加熱板，所述熒光粉激發(fā)光源能夠出射特定波長的光束，所述加熱板上具有一透光孔，熒光粉激發(fā)光源出射的光束能夠穿過透光孔并進入至光檢測系統(tǒng)內檢測其光通量。

S2、將加熱板維持在溫度T1，測試熒光粉激發(fā)光源出射的光束穿過透光孔后的光通量Φ1；

S3、將加熱板升溫并維持在溫度T2，測試熒光粉激發(fā)光源出射的光束穿過透光孔后的光通量Φ2，獲得Φ2與Φ1的比值n，即n＝Φ2/Φ1；

S4、在透光孔內裝入待測熒光粉，分別在溫度T1和溫度T2下的光通量Φ3和Φ4，獲得該待測熒光粉的受熱發(fā)光效率N，即N＝(Φ4/Φ3)*n；

S5、重復上述步驟S2-S4對多款熒光粉進行測試，并獲得其對應的受熱發(fā)光效率N1、N2、N3……，根據(jù)待測熒光粉的受熱發(fā)光效率N的數(shù)值即可判斷出多款熒光粉之間相對的質量，其N的數(shù)值越大，代表其對應的熒光粉質量越好。

進一步的，所述熒光粉激發(fā)光源出射的光束照射在加熱板上形成的光斑為直徑不超過1cm的圓形光斑。

進一步的，所述透光孔是寬度為1mm、長度不超過1cm的矩形狹縫。

進一步的，所述熒光粉激發(fā)光源出射的光束的波長為450nm～460nm。

進一步的，所述溫度T1為20～30℃，所述溫度T2為95～105℃。

進一步的，所述溫度T1為25℃，所述溫度T2為100℃。

本發(fā)明還提供了一種快速鑒定熒光粉質量的裝置，包括熒光粉激發(fā)光源、一加熱板和光檢測系統(tǒng)，所述熒光粉激發(fā)光源能夠出射特定波長的光束，所述加熱板上具有一透光孔，所述光檢測系統(tǒng)包括積分球和光譜輻射分析儀，熒光粉激發(fā)光源出射的光束穿過透光孔并進入至積分球內并通過光譜輻射分析儀獲得積分球內的光線的光通量。

進一步的，所述熒光粉激發(fā)光源包括藍光光源組件和聚光透鏡組件，所述熒光粉激發(fā)光源出射的光線經過聚光透鏡組件聚光后照射在加熱板上形成的光斑為直徑不超過1cm的圓形光斑。

進一步的，所述透光孔是寬度為1mm、長度不超過1cm的矩形的狹縫。

本發(fā)明提供的快速鑒定熒光粉質量的方法與現(xiàn)有技術相比較具有以下優(yōu)點：本發(fā)明提供的方法用相同的光源積發(fā)熒光粉并且在常溫溫度以及作用溫度下測量其光通量，以獲得該熒光粉受熱發(fā)光效率，根據(jù)受熱發(fā)光效率的數(shù)值就可以橫向對比出不同熒光粉之間的質量。