[發(fā)明專利]一種氧化鋅薄膜晶體管的制備方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810775194.0 | 申請(qǐng)日: | 2018-07-15 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108962759B | 公開(公告)日: | 2019-07-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 高曉紅;張文通;楊帆;周路;王歡;趙陽(yáng);閆興振;李彬;吳博琦;王超;遲耀丹;楊小天 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 吉林建筑大學(xué) |
| 主分類號(hào): | H01L21/34 | 分類號(hào): | H01L21/34;H01L29/786;H01L29/10;H01L29/417 |
| 代理公司: | 吉林長(zhǎng)春新紀(jì)元專利代理有限責(zé)任公司 22100 | 代理人: | 魏征驥 |
| 地址: | 130000 吉*** | 國(guó)省代碼: | 吉林;22 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 制備 沉積 溝道層 薄膜晶體管 氧化鋅薄膜 純氧化鋅 開態(tài)電流 漏電極 氧化鋅 晶體管 叉指 低氧 富氧 射頻磁控濺射 電子束蒸發(fā) 絕緣層沉積 器件穩(wěn)定性 綠色環(huán)保 顯示驅(qū)動(dòng) 應(yīng)用潛力 源漏電極 制備工藝 紫外探測(cè) 源電極 襯底 分層 源層 清潔 應(yīng)用 | ||
1.一種氧化鋅薄膜晶體管的制備方法,其特征在于,包括下列步驟:
(一)、清潔襯底,所述襯底采用硬質(zhì)襯底或柔性襯底;
(二)柵極沉積,所述柵極材料為金屬或氧化物導(dǎo)電膜,以電子束蒸發(fā)方法制備;具體步驟如下:
(1)利用光刻-剝離技術(shù),先在襯底上旋涂光刻膠一,曝光顯影出制備單個(gè)薄膜晶體管器件的柵極小島區(qū)域,具體步驟如下:
1)涂光刻膠一,將清潔好的襯底固定在勻膠儀上,旋涂光刻膠一,轉(zhuǎn)速250rpm,時(shí)間7秒,升至500rpm,時(shí)間8秒,再升至3000rpm,時(shí)間30秒;
2)前烘,涂好光刻膠一的襯底在90℃下前烘3分鐘;
3)曝光,將上步前烘好的襯底用光刻板一覆蓋,所述光刻板一有鉻涂層和沒(méi)有涂鉻的部分形成的圖案,放置于曝光機(jī)下曝光,此時(shí)圖案部分曝光,其余部分未受到光照;
4)顯影,將光刻膠一曝光后的襯底置于顯影液中,曝光部分對(duì)應(yīng)的光刻膠一溶于顯影液,被去除,露出玻璃襯底,得到即將沉積柵極小島的區(qū)域,用去離子水沖洗干凈后,氮?dú)獯蹈桑?/p>
(2)將顯影后的襯底放入電子束蒸發(fā)裝置生長(zhǎng)室中,帶有顯影光刻膠一的一面朝下,用電子束蒸發(fā)方法鍍鋁;
(3)去膠,把經(jīng)過(guò)上述電子束蒸發(fā)方法鍍鋁后的樣本放入丙酮溶液中超聲1分鐘,光刻膠一溶于丙酮溶液,襯底表面的光刻膠一連同其上的金屬鋁被去除,剩余部分形成柵極小島,再用乙醇、去離子水沖洗干凈,用氮?dú)獯蹈桑玫綐悠芬唬?/p>
(三)、絕緣層沉積,所述絕緣層為氧化物絕緣體,采用等離子體增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積PECVD方法制備,具體步驟如下:
(1)利用光刻-剝離技術(shù),在步驟(二)得到的樣品一上旋涂光刻膠二,曝光顯影出制備單個(gè)薄膜晶體管器件的絕緣層小島區(qū)域,具體步驟如下:
1)涂膠,將樣品一固定在勻膠儀上,旋涂光刻膠二,轉(zhuǎn)速250rpm,時(shí)間7秒,升至500rpm,時(shí)間8秒,再升至3000rpm,時(shí)間30秒;
2)前烘,涂好光刻膠二后的樣品一在90℃下前烘3分鐘;
3)曝光,將涂好光刻膠二、前烘好的樣品一用光刻板二覆蓋,所述光刻板二有鉻涂層和沒(méi)有涂鉻的部分形成的圖案,放置于曝光機(jī)下曝光,此時(shí)圖案覆蓋部分曝光,其余部分未受到光照;
4)顯影,將涂好光刻膠二、曝光后的樣品一置于顯影液中,曝光部分對(duì)應(yīng)的光刻膠二溶于顯影液,被去除,露出襯底和部分柵極,得到即將沉積絕緣層的區(qū)域,用去離子水沖洗干凈后,氮?dú)獯蹈桑?/p>
(2)將經(jīng)上述步驟處理好的樣品一置于等離子體增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積PECVD設(shè)備生長(zhǎng)室底座上,沉積二氧化硅絕緣層;
(3)去膠,把經(jīng)沉積二氧化硅絕緣層后的樣品一放入丙酮溶液中超聲1分鐘,光刻膠二溶于丙酮溶液,襯底和部分柵極表面的光刻膠二連同其上的二氧化硅被去除,剩余部分形成絕緣層小島,再用乙醇、去離子水沖洗干凈,用氮?dú)獯蹈桑玫綐悠范?/p>
(四)、富氧氧化鋅溝道層沉積,方法采用射頻磁控濺射;具體步驟如下:
將步驟(三)得到的樣品二置于磁控濺射設(shè)備的濺射臺(tái)托盤上,懸掛托盤,沉積高氧分壓的富氧氧化鋅溝道層,氧分壓30%~50%,厚度3~10nm,得到樣品三;
(五)低氧氧化鋅溝道層沉積,方法仍采用射頻磁控濺射,具體步驟如下:
(1)調(diào)節(jié)氧分壓至3%~10%,沉積低氧氧化鋅溝道層,厚度30~70nm,得到樣品四;
(2)將樣品四放入退火爐,在空氣氣氛下250℃~500℃、退火3~30分鐘;
(3)用光刻方法,把富氧氧化鋅溝道層和低氧氧化鋅溝道層刻蝕出小島區(qū)域,具體步驟如下:
1)涂膠,將上述樣品四固定在勻膠儀上,旋涂光刻膠三,轉(zhuǎn)速250rpm,時(shí)間7秒,升至500rpm,時(shí)間8秒,再升至3000rpm,時(shí)間30秒;
2)前烘,將涂好光刻膠三的樣品四在90℃下前烘3分鐘;
3)曝光,將涂好光刻膠三、前烘后的樣品四用光刻板三覆蓋,所述光刻板三有鉻涂層形成的圖案,其余部分沒(méi)有涂鉻,放置于曝光機(jī)下曝光,此時(shí)圖案覆蓋部分未受到光照,其余部分曝光;
4)顯影,將涂好光刻膠三、曝光后的樣品四置于顯影液中,曝光部分對(duì)應(yīng)的光刻膠三溶于顯影液,被去除,露出襯底和部分柵極;
5)堅(jiān)膜,將顯影后的樣品四在90℃堅(jiān)膜90秒;
6)腐蝕,將堅(jiān)膜后的樣品四置于2.5‰濃度的HCl水溶液中,腐蝕3秒,未被光刻膠三保護(hù)的部分,即富氧氧化鋅溝道層和低氧氧化鋅溝道層被腐蝕掉,露出襯底和部分柵極;
7)去膠,將經(jīng)過(guò)上述步驟腐蝕過(guò)的樣品四放入丙酮溶液中10秒,光刻膠三溶于丙酮溶液從而被剝離掉,再用酒精、去離子水沖洗,氮?dú)獯蹈桑纬蓸悠肺澹?/p>
(六)源電極、漏電極沉積,所述源電極、漏電極采用金屬或?qū)щ娧趸铮Y(jié)構(gòu)為叉指電極,利用剝離技術(shù),沉積方法采用電子束蒸發(fā),具體步驟如下:
(1)涂膠,將樣品五固定在勻膠儀上,旋涂光刻膠四,轉(zhuǎn)速250rpm,時(shí)間7秒,升至500rpm,時(shí)間8秒,再升至3000rpm,時(shí)間30秒;
(2)前烘,將涂好光刻膠四的樣品五在90℃下前烘3分鐘;
(3)曝光,涂好光刻膠四、前烘后的樣品五,用光刻板四覆蓋,所述光刻板四有鉻涂層和沒(méi)有涂鉻的部分形成的圖案,該圖案中部為叉指圖案;對(duì)版后,與低氧氧化鋅溝道層重疊,放置于曝光機(jī)下曝光,此時(shí)圖案覆蓋部分曝光,其余部分未受到光照;
(4)顯影,將光刻膠四曝光后的樣品五置于顯影液中,曝光部分對(duì)應(yīng)的光刻膠四溶于顯影液,被去除,露出低氧氧化鋅溝道層;
(5)用去離子水沖洗,得到即將沉積叉指源電極、叉指漏電極的區(qū)域;
(6)將光刻膠四顯影后的樣品五放入電子束蒸發(fā)設(shè)備中,沉積金屬鋁;
(7)將經(jīng)過(guò)上述步驟處理后的樣品五放入丙酮溶液中超聲1分鐘,光刻膠四溶于丙酮溶液,光刻膠四連同其上的金屬鋁被去除,露出襯底、部分柵極和低氧氧化鋅溝道層,形成叉指源電極、叉指漏電極,再用乙醇、去離子水沖洗干凈,用氮?dú)獯蹈桑吹谩?/p>
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





