[發明專利]一種表征洗滌強度的鈦白水洗浸取動力學的三維極坐標系統的建立方法

有效

• 申請號: 201810753996.1
• 申請日: 2018-07-11
• 公開（公告）號: CN109085153B
• 公開（公告）日: 2020-11-06
• 發明（設計）人: 仝宇;李達;王秀清;許紅;馮霞
• 申請（專利權）人: 濟南裕興化工有限責任公司
• 主分類號: G01N21/72
• 分類號: G01N21/72;G01N21/31;G01N1/08
• 代理公司: 濟南泉城專利商標事務所 37218
• 代理人: 王翠翠

1.一種表征洗滌強度的鈦白水洗浸取動力學的三維極坐標系統的建立方法，其特征在于，包括以下步驟：

（1）構建簡化降維的真空抽濾葉片的二維極坐標系統，各時空點以（t，r，θ）表示，其中t坐標表示時間；r坐標表示與極點的距離；θ坐標表示按逆時針方向坐標距離0°射線的角度；

（2）使用標準專用取樣器針對不同時空點（t，r，θ）對水洗偏鈦酸濾餅進行取樣0.1~100g；

（3）在0~120℃溫度下對上述取樣進行稱重、烘干，0.1~10h；

（4）然后使用鹽酸、硫酸、硝酸、高氯酸、氫溴酸一種或多種混合酸在0~300℃溫度條件下對步驟（3）中烘干的樣品進行消解0.1~10h、冷卻、定容至10~1000ml；

（5）使用火焰原子吸收分光光度計測定上述各定容溶液的雜金屬離子濃度，計算偏鈦酸物料中雜金屬含量；處理公式如下，某時間點t₁對應的雜離子濃度計算公式如下：

其中:

S₁，為空間點（t，r₁，θ₁）對應的濾餅面積；

S₂，為空間點（t，r₂，θ₂）對應的濾餅面積；

S₃，為空間點（t，r₃，θ₃）對應的濾餅面積；

S₄，為空間點（t，r₄，θ₄）對應的濾餅面積；

S₅，為空間點（t，r₅，θ₅）對應的濾餅面積；

r_i以及θ_i其中i=1,2,3,4,5，為相應的二維平面極坐標點的半徑及角度；

雜金屬離子，水溶性金屬雜離子；

C_M,i，為空間點（t，r_i，θ_i）對應的濾餅雜金屬離子濃度，其中i=1,2,3,4,5；

C_M,P，為濾餅總平均雜金屬離子濃度；

r_L，濾板底邊長的1/4；

（6）將部分檢測的空間點vs.雜金屬離子濃度繪制于圖中，進一步對濃度-時間-面積數據進行處理，獲得相應的雜金屬含量數據，再將大量的不同礦源的數據進行整合，建立大數據庫。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟（2）中的標準專用取樣器為：以40mm的316不銹鋼25mm*2.5mm鋼管為取樣筒，打磨外圈邊角，外焊接200mm長316不銹鋼實心棍Φ6mm，焊縫長為20mm。

3.一種權利要求1-2之一所述的方法在硫酸鈦白水洗工藝表征中的應用。