[發明專利]一種低介電常數溫度穩定型微波介質及其制備方法有效
| 申請號: | 201810698339.1 | 申請日: | 2018-06-29 |
| 公開(公告)號: | CN108439969B | 公開(公告)日: | 2020-11-24 |
| 發明(設計)人: | 王丹;吉岸;王曉慧 | 申請(專利權)人: | 無錫鑫圣慧龍納米陶瓷技術有限公司 |
| 主分類號: | C04B35/20 | 分類號: | C04B35/20 |
| 代理公司: | 蘇州國誠專利代理有限公司 32293 | 代理人: | 陶純佳 |
| 地址: | 214100 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 介電常數 溫度 穩定 微波 介質 及其 制備 方法 | ||
1.一種低介電常數溫度穩定型微波介質,其特征是:其組成表達式為Mg2-2xZrxSiO4,其中,0﹤x≤0.1;該介質材料中還加入有Ca0.61Nd0.26TiO3; Ca0.61Nd0.26TiO3的質量為Mg2-2xZrxSiO4質量的1%~5%。
2.如權利要求1所述低介電常數溫度穩定型微波介質,其特征是:Mg2-2xZrxSiO4和Ca0.61Nd0.26TiO3共存的溫度系數趨近于零。
3.權利要求1所述低介電常數溫度穩定型微波介質的制備方法,其特征是:首先制備Mg2-2xZrxSiO4,其中0﹤x≤0.1;隨后加入Ca0.61Nd0.26TiO3,充分混合后進行燒結,即得到產品低介電常數溫度穩定型低損耗微波介質陶瓷。
4.如權利要求3所述低介電常數溫度穩定型微波介質的制備方法,其特征是具體步驟如下:
(1)取鎂源、硅源和鋯源,按照Mg:Si:Zr的摩爾比為2-2x:1:x配料,其中0﹤x≤0.1;混合后充分球磨,球磨后烘干、過篩燒結,得到Mg2-2xZrxSiO4;
(2)隨后加入Ca0.61Nd0.26TiO3,進行二次球磨,球磨后烘干、造粒和過篩,將過篩后的顆粒壓制成型,最后燒結得到低介電常數溫度穩定型低損耗微波介質陶瓷。
5.如權利要求4所述低介電常數溫度穩定型微波介質的制備方法,其特征是:所述鎂源、硅源和鋯源具體為鎂、硅和鋯的氧化物;
所述鎂源、硅源和鋯源具體為MgO、SiO2及ZrO2。
6.如權利要求4所述低介電常數溫度穩定型微波介質的制備方法,其特征是:步驟(1)中所述球磨時間為4-8h;
步驟(1)中烘干的溫度為100-120℃;
步驟(1)中過篩為過60目網篩;
步驟(1)中燒結過程為在900-1100℃下保溫3-5h。
7.如權利要求4所述低介電常數溫度穩定型微波介質的制備方法,其特征是:步驟(2)中所述球磨時間為4-8h;
步驟(2)中烘干的溫度為100-120℃;
步驟(2)所述過篩為過120目篩;
步驟(2)所述造粒過程如下:將烘干后的粉體與質量濃度為10%的聚乙烯醇水溶液混合,然后制成微米級的球形顆粒;
步驟(2)所述燒結過程為在1100-1300℃下燒結4h。
8.如權利要求4所述低介電常數溫度穩定型微波介質的制備方法,其特征是:步驟(2)中加入的Ca0.61Nd0.26TiO3的質量為Mg2-2xZrxSiO4質量的1%~5%。
9.如權利要求4所述低介電常數溫度穩定型微波介質的制備方法,其特征是具體步驟如下:
(1)Mg2-2xZrxSiO4的制備:取MgO、SiO2及ZrO2,按照Mg:Si:Zr的摩爾比為2-2x:1:x配料,其中0﹤x≤0.1;混合后充分球磨4-8h,球磨后100-120℃烘干、過60目網篩放入剛玉坩堝中,然后在900-1100℃下保溫3-5h,得到Mg2-2xZrxSiO4;
(2)低介電常數溫度穩定型低損耗微波介質陶瓷的制備:在步驟(1)所得物料中加入物料質量比為1%~5%的Ca0.61Nd0.26TiO3,進行二次球磨4-8h,球磨后100-120℃烘干、造粒和過120目篩,將過篩后的顆粒壓制成型,然后在1100-1300℃下燒結4h成瓷,得到低介電常數溫度穩定型低損耗微波介質陶瓷。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于無錫鑫圣慧龍納米陶瓷技術有限公司,未經無錫鑫圣慧龍納米陶瓷技術有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810698339.1/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





