[發明專利]采集LC振蕩包絡線的裝置、方法及電容電感篩選方法

在審

• 申請號: 201810633134.5
• 申請日: 2018-06-19
• 公開（公告）號: CN109085429A
• 公開（公告）日: 2018-12-25
• 發明（設計）人: 鄭金平;陳昌根;王振江;潘曉江;鄭徑歐
• 申請（專利權）人: 杭州綠鯨科技有限公司
• 主分類號: G01R27/26
• 分類號: G01R27/26
• 代理公司: 杭州杭誠專利事務所有限公司 33109
• 代理人: 王江成;占宇

本發明公開了一種采集LC振蕩包絡線的裝置、方法及電容電感篩選方法。該裝置包括微處理器、電源模塊、激勵振蕩電路、電壓比較器、DAC模塊、第一接口和第二接口，所述第一接口與電源模塊的正極輸出端電連接，所述第二接口與電壓比較器的負輸入端、激勵振蕩電路電連接，所述電壓比較器的正輸入端與DAC模塊的輸出端電連接，所述DAC模塊的輸入端與電源模塊電連接，所述微處理器分別與激勵振蕩電路的控制端、電壓比較器的輸出端、DAC模塊的控制端電連接。本發明能夠采集LC振蕩包絡線，便于對用于無磁儀表的電感、電容進行篩選。

技術領域

本發明涉及包絡線采集技術領域，尤其涉及一種采集LC振蕩包絡線的裝置、方法及電容電感篩選方法。

背景技術

近些年來，智能遠程自動抄表技術被大力倡導及應用，無磁儀表也是智能儀表中重要的一類產品，無磁檢測技術也逐漸趨于成熟。

目前無磁檢測的核心傳感器件是L(電感)、C(電容)，電感與電容在生產過程中會由于各種因素導致其規格參數不一致，如果電感、電容這些物料出廠之后直接運用于計量系統中，計量數據很容易受到物料公差的影響，導致計量數據偏差較大。因此在無磁儀表生產階段就需要對核心計量器件進行篩選，確保整表計量功能的穩定性。

現有的方法是使用電橋人工測量電感、電容的參數，篩選其不良品；這種方法比較直接，但是需要耗費大量的人力物力且測量時間比較長，綜合成本高。

在無磁儀表中，電感、電容用于組成LC振蕩電路使用，因此根據電感、電容組成的LC振蕩電路產生的LC振蕩的包絡線是否符合要求也能判斷電感、電容是否是不良品，然而，目前沒有專門檢測LC振蕩包絡線的裝置。

發明內容

本發明為了解決上述問題，提供了一種采集LC振蕩包絡線的裝置、方法及電容電感篩選方法，其能夠采集LC振蕩包絡線，便于對用于無磁儀表的電感、電容進行篩選。

為了解決上述問題，本發明采用以下技術方案予以實現：

本發明的一種采集LC振蕩包絡線的裝置，包括微處理器、電源模塊、激勵振蕩電路、電壓比較器、DAC模塊、第一接口和第二接口，所述第一接口與電源模塊的正極輸出端電連接，所述第二接口與電壓比較器的負輸入端、激勵振蕩電路電連接，所述電壓比較器的正輸入端與DAC模塊的輸出端電連接，所述DAC模塊的輸入端與電源模塊電連接，所述微處理器分別與激勵振蕩電路的控制端、電壓比較器的輸出端、DAC模塊的控制端電連接。

在本技術方案中，使用時，將電感L的兩端分別與第一接口、第二接口連接，將電容C的兩端分別與第一接口、第二接口連接。

激勵振蕩電路用于激勵電感L、電容C組成的振蕩電路產生LC振蕩，振蕩信號輸出到電壓比較器的負輸入端。DAC模塊用于輸出參考電壓Vref到電壓比較器的正輸入端。電壓比較器用于比較振蕩信號與參考電壓Vref的大小。微處理器用于控制激勵振蕩電路、DAC模塊工作。在每次LC振蕩中的某個峰值前后，微處理器控制DAC模塊輸出的參考電壓Vref增大或減小直到該參考電壓Vref無限趨近于該峰值電壓，微處理器檢測出LC振蕩中每個峰值的峰值電壓，根據峰值電壓繪制出LC振蕩的包絡線。

作為優選，所述激勵振蕩電路包括電阻R1和三極管Q1，所述電阻R1一端與第二接口電連接，所述電阻R1另一端與MOS管Q1的D極電連接，所述MOS管Q1的G極與微處理器電連接，所述MOS管Q1的S極接地。

本發明的一種采集LC振蕩包絡線方法，用于上述的采集LC振蕩包絡線的裝置，包括以下步驟：

將電感L的兩端分別與第一接口、第二接口連接，將電容C的兩端分別與第一接口、第二接口連接；

依次檢測電感L、電容C組成的振蕩電路產生的LC振蕩中每一個波峰的峰值，根據檢測到的每個波峰峰值繪制出LC振蕩的包絡線；

檢測LC振蕩中第N個波峰的峰值包括以下步驟：