[發(fā)明專利]超高頻RFID標(biāo)簽芯片的多同測(cè)可靠性的測(cè)試系統(tǒng)及方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810557233.X | 申請(qǐng)日: | 2018-06-01 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN108828430B | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-09-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 于東明;喬彥彬;馬強(qiáng);李建強(qiáng);陳燕寧;張海峰;趙東艷 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京智芯微電子科技有限公司;國(guó)網(wǎng)信息通信產(chǎn)業(yè)集團(tuán)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/28 | 分類號(hào): | G01R31/28;G06K7/10;G06K19/077 |
| 代理公司: | 北京中譽(yù)威圣知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11279 | 代理人: | 席勇;王芳 |
| 地址: | 100192 北京市海淀區(qū)*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 超高頻 rfid 標(biāo)簽 芯片 可靠性 測(cè)試 系統(tǒng) 方法 | ||
1.一種超高頻RFID標(biāo)簽芯片的多同測(cè)可靠性的測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,包括:
上位機(jī),其內(nèi)置有控制軟件;
讀寫器,其一端與所述上位機(jī)通信連接;
金屬背板;
溫箱,其內(nèi)部具有溫度,且所述溫箱的一側(cè)具有玻璃窗口;以及
遠(yuǎn)場(chǎng)天線,其與所述讀寫器的另一端通信連接,且所述遠(yuǎn)場(chǎng)天線朝向所述溫箱的所述玻璃窗口;
其中,多顆RFID標(biāo)簽芯片放置于所述溫箱內(nèi),且所述上位機(jī)的所述控制軟件能夠控制所述讀寫器通過(guò)所述遠(yuǎn)場(chǎng)天線透過(guò)所述玻璃窗口對(duì)所述溫箱內(nèi)的所述多顆RFID標(biāo)簽芯片進(jìn)行可靠性測(cè)試;
其中,所述多顆RFID標(biāo)簽芯片均勻分布固定在所述金屬背板上,所述金屬背板放置于所述溫箱內(nèi)靠近所述玻璃窗口的位置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的超高頻RFID標(biāo)簽芯片的多同測(cè)可靠性的測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述金屬背板與所述玻璃窗口的平面平行,并與所述玻璃窗口的平面垂直相距5厘米至10厘米。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的超高頻RFID標(biāo)簽芯片的多同測(cè)可靠性的測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述玻璃窗口的尺寸大于所述金屬背板的尺寸,且所述遠(yuǎn)場(chǎng)天線的有效輻射信號(hào)區(qū)能夠透過(guò)所述玻璃窗口覆蓋所述金屬背板上的所述多顆RFID標(biāo)簽芯片。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的超高頻RFID標(biāo)簽芯片的多同測(cè)可靠性的測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述溫箱的所述溫度的范圍為-40℃至150℃,且所述金屬背板的材質(zhì)為鋁或鋼。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的超高頻RFID標(biāo)簽芯片的多同測(cè)可靠性的測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述遠(yuǎn)場(chǎng)天線呈板狀,且所述遠(yuǎn)場(chǎng)天線的尺寸為450毫米×450毫米,信號(hào)增益值為12dBi。
6.一種超高頻RFID標(biāo)簽芯片的多同測(cè)可靠性的測(cè)試方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟一:將多顆RFID標(biāo)簽芯片均勻分布固定于金屬背板上;
步驟二:將所述金屬背板放置于一側(cè)具有玻璃窗口的溫箱內(nèi),所述金屬背板靠近所述玻璃窗口,且所述金屬背板與所述玻璃窗口的平面平行,并與所述玻璃窗口的平面垂直相距5厘米至10厘米;
步驟三:上位機(jī)的控制軟件控制讀寫器通過(guò)遠(yuǎn)場(chǎng)天線透過(guò)所述玻璃窗口對(duì)所述溫箱內(nèi)的所述多顆RFID標(biāo)簽芯片進(jìn)行可靠性測(cè)試;
其中,所述溫箱內(nèi)部具有溫度。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的超高頻RFID標(biāo)簽芯片的多同測(cè)可靠性的測(cè)試方法,其特征在于,所述玻璃窗口的尺寸大于所述金屬背板的尺寸,且所述遠(yuǎn)場(chǎng)天線的有效輻射信號(hào)區(qū)能夠透過(guò)所述玻璃窗口覆蓋所述金屬背板上的所述多顆RFID標(biāo)簽芯片。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的超高頻RFID標(biāo)簽芯片的多同測(cè)可靠性的測(cè)試方法,其特征在于,所述溫箱的所述溫度范圍為-40℃至150℃,且所述金屬背板的材質(zhì)為鋁或鋼。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的超高頻RFID標(biāo)簽芯片的多同測(cè)可靠性的測(cè)試方法,其特征在于,所述遠(yuǎn)場(chǎng)天線呈板狀,且所述遠(yuǎn)場(chǎng)天線的尺寸為450毫米×450毫米,信號(hào)增益值為12dBi。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
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