[發明專利]測試報告生成方法、裝置、計算機設備和存儲介質

有效

• 申請號: 201810554985.0
• 申請日: 2018-06-01
• 公開（公告）號: CN108776642B
• 公開（公告）日: 2023-04-11
• 發明（設計）人: 鄭鷹飛
• 申請（專利權）人: 平安普惠企業管理有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 孫凱樂

1.一種測試報告生成方法，所述方法包括：

接收測試報告顯示模板的選取指令；

獲取與所述選取指令對應的測試報告顯示模板；

接收測試當前軟件的測試指令，并獲取與所述測試指令對應的測試用例；

當所選取的測試報告顯示模板是需求顯示模板時，則獲取所述當前軟件的待測需求，并查詢所述待測需求對應的待測系統；從所述測試指令對應的測試用例中查詢所述待測系統對應的測試用例，并獲取所述待測系統對應的測試用例的第一評分等級和第一評分權重；統計所述第一評分等級所對應的測試用例的第一數量；執行所述待測系統對應的測試用例，根據所述第一評分等級、第一評分權重以及所述第一數量，計算所述待測系統的系統測試執行結果；根據所述系統測試執行結果以及所述需求顯示模板生成測試報告；

或者，

當所選取的測試報告顯示模板是系統顯示模板時，則獲取所述待測系統，并查詢所述待測系統所對應的待測需求；從所述測試指令對應的測試用例中查詢所述待測需求對應的測試用例，并獲取所述待測需求對應的測試用例對應的第二評分等級和第二評分權重；統計所述第二評分等級所對應的測試用例的第二數量；執行所述待測需求對應的測試用例，并根據所述第二評分等級、第二評分權重以及所述第二數量，計算所述待測需求的需求測試執行結果；根據所述需求測試執行結果以及所述系統顯示模板生成測試報告。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，當所選取的測試報告顯示模板是需求顯示模板時，所述方法還包括：

獲取所述待測需求對應的待測系統的系統評分權重；

根據所述系統評分權重、所述第一評分等級、所述第一評分權重以及所述第一數量，計算待測需求對應的整體需求測試結果；

將所述整體需求測試結果添加至所述測試報告中。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

獲取所述待測系統的第一標準測試執行結果，并獲取待測需求的標準整體需求測試結果；

將所述待測系統的測試執行結果與所述待測系統的第一標準測試執行結果進行比對，得到第一待測系統測試狀態；

將所述整體需求測試結果與所述標準整體需求測試結果進行比對得到第一待測需求測試狀態；

將所述第一待測系統測試狀態和所述第一待測需求測試狀態添加至所述測試報告中。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，當所選取的測試報告顯示模板是系統顯示模板時，所述方法還包括：

獲取所述待測系統對應的待測需求的需求評分權重；

根據所述需求評分權重、所述第二評分等級、所述第二評分權重以及所述第二數量，計算所述待測需求對應的整體系統測試結果；

將所述整體系統測試結果添加至所述測試報告中。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

獲取所述待測系統對應的待測需求的第二標準測試執行結果，并獲取待測系統的標準整體系統測試結果；

將所述待測需求的測試執行結果與所述待測需求的第二標準測試執行結果進行比對，得到第二待測需求測試狀態；

將所述整體系統測試結果與所述標準整體系統測試結果進行比對，得到第二待測系統測試狀態；

將所述第二待測系統測試狀態和所述第二待測需求測試狀態添加至所述測試報告中。