[發明專利]一種小麥籽粒硬度的檢測方法

有效

• 申請號: 201810535288.0
• 申請日: 2018-05-30
• 公開（公告）號: CN108717001B
• 公開（公告）日: 2019-04-16
• 發明（設計）人: 張業倫;孟雅寧;李杏普;蔡華;蘭素缺;呂亮杰
• 申請（專利權）人: 河北省農林科學院糧油作物研究所
• 主分類號: G01N1/28
• 分類號: G01N1/28;G01N21/25
• 代理公司: 石家莊元匯專利代理事務所(特殊普通合伙) 13115
• 代理人: 張建茹

本發明涉及一種小麥籽粒硬度的檢測方法，包括潤麥制粉、采集定標集樣品面粉反射光色差值、檢測定標集樣品籽粒硬度、建立回歸定標模型、采集預測集樣品面粉反射光色差值以及最終的硬度預測計算，通過將色差值的三個參數均作為X變量進行回歸分析，避免了單一指標不能同時表征兩個或以上面粉色澤影響因素，利用多變量回歸分析篩選最優變量組合并建立定標模型，籽粒硬度預測準確度高；定標集樣品組成要求包含角質小麥和粉質小麥，避免同一類型小麥硬度造成定標偏差的影響，預測集樣品越多越能夠顯現出本發明的快速、便捷的優勢，適用于大批量小麥籽粒樣品的硬度預測；相比于近紅外檢測的儀器購置費用低，相比于其他方法，檢測時間大大縮短。

技術領域

本發明屬于小麥硬度檢測技術領域，具體涉及一種小麥籽粒硬度的檢測方法。

背景技術

籽粒硬度是一種重要的小麥分級標準，顯著影響小麥面粉顆粒大小、出粉率等磨粉品質，面筋含量、面團特性等面筋品質，以及面條等食品加工品質。

目前，檢測籽粒硬度方法主要有顆粒指數法、近紅外光譜法和單籽粒谷物特征測定法(SKCS)。顆粒指數法主要是將籽粒磨成面粉，經特定篩子篩一定時間后，計算篩后與篩前質量的比值，即是該樣品的PSI值，顆粒指數法是標準的參考方法，應用最為廣泛，但檢測耗時最長；近紅外光譜法主要是利用波長1680和2230nm兩處近紅外光的強吸收點建立模型進行籽粒硬度的檢測，雖然該法檢測快速便捷，但近紅外檢測儀器購買費用高昂；單籽粒谷物特征分析儀由美國谷物市場研究室和瑞典波通(perten)儀器公司研制，通過測定壓碎籽粒所需的力來測定其硬度。雖然該方法操作簡單、數據可靠，但該儀器同樣存在價格較高的問題，且易受雜物及大顆粒影響而堵塞。目前，主要是通過后兩種方法檢測小麥籽粒硬度，但這三種方法均存在不同缺點，難以被廣泛引用。

發明內容

本發明克服了現有技術中存在的缺陷，提供了一種便捷、低成本的小麥籽粒硬度檢測方法，利用反射光分光光度法檢測面粉表面反射光色差值L*、a*、b*來檢測籽粒硬度，周期短，檢測結果精確度高。

本發明的具體技術方案是：

一種小麥籽粒硬度的檢測方法，關鍵點是，所述檢測方法包括以下步驟：

A、選取定標集樣品和預測集樣品小麥，定標集樣品包括角質小麥和粉質小麥，調節樣品籽粒含水量至12％-14％，取一部分定標集樣品和全部預測集樣品，磨粉去皮形成定標面粉和預測面粉，備用；

B、取定標面粉，利用色差計采集其反射光色差值L*、a*、b*值；取剩余定標集樣品，利用單籽粒谷物特征分析儀、顆粒指數法或近紅外光譜法獲得籽粒硬度；

C、利用步驟B中獲得的L*、a*、b*值和硬度值，通過多元線性回歸模型和逐步回歸算法建立回歸定標模型；

D、取預測面粉，利用色差計采集其反射光色差值L*、a*、b*值，代入步驟C中建立的回歸定標模型中計算預測集樣品的籽粒硬度。

所述的步驟A中，定標集樣品中角質小麥和粉質小麥的比例為(0.8-1.2)：(0.8-1.2)。

所述的步驟A中，定標集樣品不少于10個，預測集樣品不少于20個。

所述的步驟A中，當籽粒含水量小于目標含水量時，進行潤麥，當大于目標含水量時，進行烘干；潤麥時，加水量計算公式如下：H＝M×(1-C1)/(1-C2)-M，其中，M為樣品的質量，C1為實際含水量，C2為目標含水量，H、M的單位均為g。

所述的步驟A中，籽粒含水量測定采用近紅外分析儀或國標烘干法。

所述的步驟A中，磨粉細度不低于60目。

所述的步驟C中，采用統計軟件SAS多元線性回歸模型和逐步回歸算法，將L*、a*、b*設定為X變量，將硬度值設定為Y變量，采用逐步回歸算法篩選入模自變量，最終建立籽粒硬度的定標模型Y＝f(X)。