[發明專利]一種盲元檢測方法、裝置及電子設備有效
| 申請號: | 201810531030.3 | 申請日: | 2018-05-29 |
| 公開(公告)號: | CN110542482B | 公開(公告)日: | 2020-11-13 |
| 發明(設計)人: | 馬甲迎;唐杰;謝浩山 | 申請(專利權)人: | 杭州??滴⒂皞鞲锌萍加邢薰?/a> |
| 主分類號: | G01J5/52 | 分類號: | G01J5/52 |
| 代理公司: | 北京柏杉松知識產權代理事務所(普通合伙) 11413 | 代理人: | 孫翠賢;馬敬 |
| 地址: | 311501 浙江省杭州市桐*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 檢測 方法 裝置 電子設備 | ||
本申請實施例提供了一種盲元檢測方法、裝置及電子設備。該方法包括:獲得關于輔助對象的多幀目標圖像;其中,任一幀目標圖像為:在一預定環境溫度下,紅外熱成像設備中的紅外焦平面陣列所感應的關于所述輔助對象的圖像,且不同幀目標圖像對應不同的預定環境溫度;計算所述多幀目標圖像對應的至少一幀差值圖像,其中,任一幀差值圖像為將兩幀目標圖像作差所得的圖像;針對每一幀差值圖像,基于該差值圖像和所述紅外焦平面陣列中各個像元對應的關于該差值圖像的像素值,確定所述紅外焦平面陣列中的盲元。通過本方案,可以快速有效地檢測紅外焦平面陣列在不同溫度環境下所表現出的盲元。
技術領域
本申請涉及紅外熱成像技術領域,特別是涉及一種盲元檢測方法、裝置及電子設備。
背景技術
受制造工藝、材料等因素的影響,紅外熱成像設備中的紅外焦平面陣列均不可避免地存在盲元、非均勻性等問題。由于盲元的存在會影響后期的圖像處理算法及視覺效果,因此需要對紅外焦平面陣列中的盲元進行檢測,從而后續執行去盲元處理。其中,盲元包括死像元與過熱像元,根據國標GB/T17444-1998中的規定,死像元為響應率低于平均響應率1/10的像元,過熱像元為響應率高于平均響應率10倍的像元。
并且,對于無溫控的紅外焦平面陣列而言,不同環境溫度下像元的響應率的變化對盲元有很大影響,即,在一種環境溫度下響應率處于正常范圍的像元,在其他環境溫度下可能響應率變為處于不正常范圍,成為新的盲元。
因此,如何快速有效地檢測紅外焦平面陣列在不同溫度環境下所表現出的盲元,是一個亟待解決的問題。
發明內容
本申請實施例的目的在于提供一種盲元檢測方法、裝置及電子設備,以快速有效地檢測紅外焦平面陣列在不同溫度環境下所表現出的盲元。具體技術方案如下:
第一方面,本申請實施例提供了一種盲元檢測方法,包括:
獲得關于輔助對象的多幀目標圖像;其中,任一幀目標圖像為:在一預定環境溫度下,紅外熱成像設備中的紅外焦平面陣列所感應的關于所述輔助對象的圖像,且不同幀目標圖像對應不同的預定環境溫度;
計算所述多幀目標圖像對應的至少一幀差值圖像,其中,任一幀差值圖像為將兩幀目標圖像作差所得的圖像;
針對每一幀差值圖像,基于該差值圖像和所述紅外焦平面陣列中各個像元對應的關于該差值圖像的像素值,確定所述紅外焦平面陣列中的盲元。
可選地,所述多幀目標圖像所對應的多個預定環境溫度屬于至少兩個溫度分區,每一溫度分區包括至少兩個預定環境溫度;不同的溫度分區下,所述紅外熱成像設備的目標設備參數不同;
所述計算所述多幀目標圖像對應的至少一幀差值圖像的步驟,包括:
針對每一組目標圖像,計算該組目標圖像對應的差值圖像,其中,任一組目標圖像所對應的預定環境溫度屬于同一溫度分區。
可選地,所述獲得關于輔助對象的多幀目標圖像的步驟,包括:
按照所對應預定環境溫度升序或降序的順序,依次獲得關于輔助對象的多幀目標圖像;
所述針對每一組目標圖像,計算該組目標圖像對應的差值圖像的步驟,包括:
針對每一組目標圖像,從第二次獲得目標圖像開始,每次獲得目標圖像后,將當前獲得的目標圖像與上一次獲得的目標圖像作差,得到差值圖像,并刪除所述上一獲得的目標圖像。
可選地,所述針對每一幀差值圖像,基于該差值圖像和所述紅外焦平面陣列中各個像元對應的關于該差值圖像的像素值,確定所述紅外焦平面陣列中的盲元的步驟之前,所述方法還包括:
針對每一幀差值圖像,獲取與該差值圖像匹配的增益矩陣,并利用所獲取的增益矩陣對該差值圖像進行數據放大處理。
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